半导体存储器件
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114582869A

    公开(公告)日:2022-06-03

    申请号:CN202111338530.3

    申请日:2021-11-12

    Abstract: 一种半导体存储器件包括:位线,在基板上在垂直方向上延伸;晶体管主体部分,包括在第一水平方向上依次布置的第一源极‑漏极区、单晶沟道层和第二源极‑漏极区,并且连接到位线;栅电极层,在垂直于第一水平方向的第二水平方向上延伸;栅极电介质层,在栅电极层和单晶沟道层之间并覆盖单晶沟道层的至少上表面和下表面;以及单元电容器,包括下电极层、电容器电介质层和上电极层,在第一水平方向上在晶体管主体的与位线相反的一侧并且连接到第二源极‑漏极区。

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