公开(公告)号：CN101131316A

公开(公告)日：2008-02-27

申请号：CN200710154704.4

申请日：2003-06-24

申请人： LG电子株式会社

发明人： 郑盛允 ,  金进镛 ,  金真弘 ,  徐勋 ,  郭锦哲

IPC分类号： G01B11/06 ,  G11B7/0037 ,  G11B7/26

CPC分类号： G01B11/0625 ,  G01B11/0675 ,  G11B7/00375 ,  G11B7/268

摘要： 本发明公开了一种利用光盘层的干涉效应来测量包括隔离层和覆盖层的光盘的一个或多个层的厚度的系统，所述系统包括：分光计，用于将从光盘的表面反射的光分离为其多个组成频率；光强测量单元，用于分别测量所述组成频率的强度作为第一光谱数据；以及处理器，用于至少进行以下步骤：将所述的第一光谱数据转换成作为折射率和波长的函数而显示变化的第二光谱值，利用快速傅立叶变换来变换所述第二光谱，以及基于所述的变换后的光谱来分别检测一个或多个隔离层和覆盖层的厚度。本发明所公开的方法在高精度测量光盘厚度方面具有优点。

公开(公告)号：CN1849506A

公开(公告)日：2006-10-18

申请号：CN200480026423.5

申请日：2004-09-14

申请人： LG电子株式会社

发明人： 徐勋 ,  金真弘 ,  李承允 ,  金进镛

IPC分类号： G01N3/56 ,  G01N3/42

CPC分类号： G01N3/56 ,  G11B7/00375 ,  G11B7/268

摘要： 揭示了一种用于测试光盘(30)表面机械耐磨性的装置和方法，它包括其上固定有光盘(30)以产生划痕并且旋转该被固定光盘(30)的旋转台(20)；以及与旋转台(20)垂直放置的多个砂轮(10)，所述砂轮与所述光盘(30)的表面相接触以在该光盘(30)表面生成划痕，其中所述划痕是在所述光盘旋转预定转数(例如低于10转)并且通过所述砂轮(10)将预定负荷施加给所述光盘(30)时产生的。

公开(公告)号：CN1682288A

公开(公告)日：2005-10-12

申请号：CN03821153.X

申请日：2003-04-17

申请人： LG电子株式会社

发明人： 徐勋 ,  金真弘 ,  李承远 ,  李俊硕 ,  朴景燦

IPC分类号： G11B7/09

CPC分类号： G11B7/24 ,  G11B7/26 ,  G11B23/0021

摘要： 公开一种光盘。本发明包括具有第一区和第二区的基片以及形成于基片的第二区上的凸起，该第一区上能记录信息，该第二区上不能记录信息。因此，本发明能够在其上形成具有均匀厚度的保护层。