公开(公告)号：CN103776531B

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201410001652.7

申请日：2014-01-01

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 李宏光 ,  袁良 ,  刘瑞星 ,  俞兵 ,  杨鸿儒 ,  韩占锁 ,  吴宝宁

IPC: G01J3/28

Abstract: 本发明公开了一种近红外微弱脉冲光谱辐亮度校准装置，属光学计量技术领域。该装置包括用于标定光栅光谱仪的光源组件，含有阵列光纤束的光纤组件，装有光谱辐亮度校准数据处理软件包的计算机，含有平场凹面光栅和面阵EMCCD的光栅光谱仪；阵列光纤束的输入端为单根光纤，输出端含有n根按一字排列的光纤；被测脉冲光源发出的脉冲光束经光纤组件、狭缝后被平场凹面光栅色散，色散光聚焦到面阵EMCCD的光敏面上而形成n行线光谱，计算机采集n行线光谱并根据光谱辐亮度计算公式获得被测脉冲光源随波长变化的光谱辐亮度值，并在计算机屏幕上显示单幅或多幅光谱辐亮度曲线。本发明解决了近红外微弱脉冲光源的光谱辐亮度的校准难题，具有广阔的应用前景。

公开(公告)号：CN104568156A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201510001605.7

申请日：2015-01-04

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 占春连 ,  李燕 ,  卢飞 ,  李正琪 ,  袁良 ,  李涛 ,  袁林光

IPC: G01J3/51

Abstract: 本发明提出一种目标彩色对比度测试装置及测试方法，装置由光学成像系统、RGB滤光系统、面阵CCD采集系统、计算机测量与处理系统以及光学平台组成；光学成像系统对准目标及背景，目标及背景或者仅是背景发射的光信号经过光学成像系统后，再经过RGB滤光系统分光，最后在面阵CCD采集系统上成像；面阵CCD采集系统的输出信号送入计算机测量与处理系统。本发明采用CIE1964-UCS标准色度理论评价系统，对明度指数W*和色品指数U*、V*等颜色的三属性综合计算，同时考虑到目标的亮度和色度两个方面的影响，更为全面评价客观的评价目标彩色对比度，解决了可见光隐身目标彩色对比度测量的难题。

公开(公告)号：CN104391345A

公开(公告)日：2015-03-04

申请号：CN201410353659.5

申请日：2014-07-24

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 袁良 ,  范纪红 ,  李元 ,  李宏光 ,  谢毅 ,  张博妮 ,  张建付 ,  曹锋 ,  孙宇楠 ,  姜昌禄 ,  郭羽

IPC: G02B3/14 ,  G02B26/02

CPC classification number: G02B3/14 ,  G02B26/004

Abstract: 本发明公开了一种含梯度折射率材料的电润湿型可变焦液体透镜，属于光学技术领域。其主要特点是，液体透镜前后表面分别采用更容易加工的梯度折射率材料的平凸透镜和平凹透镜，通过合理地选择和匹配两个透镜的梯度折射率系数A、B、C来补偿球差和色差，从而提高了本发明的成像质量。另外，采用可伐材料制作液体透镜的腔体，不但可直接从腔体上引出电极而无需在腔体内壁镀制金属电极，并且还可采用高频焊接法将腔体与两个透镜进行焊接，有效地改善了本发明的密封特性。本发明克服了一般液体透镜只能改变焦距，不能同时消色差和像差的缺点，具有像质优良，应用中可单独组成光学系统，体积小巧，不需其它元件参与成像的特点。

公开(公告)号：CN103471726A

公开(公告)日：2013-12-25

申请号：CN201310382954.9

申请日：2013-08-28

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 俞兵 ,  杨鸿儒 ,  薛战理 ,  韩占锁 ,  秦艳 ,  袁良 ,  吴宝宁 ,  王学新 ,  李宏光 ,  刘瑞星 ,  张博妮 ,  曹锋

IPC: G01J11/00 ,  G01J1/42 ,  G01J1/46

Abstract: 本发明公开了一种飞焦级纳秒脉冲激光能量探测装置，属于光学计量技术领域。该装置包括会聚镜组件、探测器、驱动电路和放大组件；会聚镜组件将飞焦级纳秒脉冲激光光源发出的平行光束会聚到探测器的光敏面上；探测器选用银氧铯光电阴极的PMT探测器，驱动电路通过合适的高压输出、匹配设计的分压网络和滤波网络使探测器具有高灵敏度和低暗电流的输出；放大组件的带宽大于200MHz，同时还可对探测器的输出进行64倍、512倍或4096倍的放大，以满足后续应用装置的采集要求。本发明解决了飞焦级纳秒脉冲激光的探测问题，同时实现了超高速微弱脉冲信号的放大输出。

公开(公告)号：CN103424243A

公开(公告)日：2013-12-04

申请号：CN201310361433.5

申请日：2013-08-19

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 姜昌录 ,  郑雪 ,  袁良 ,  郭羽 ,  吴李鹏 ,  康登魁

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种光学系统畸变测试用目标系统，属于光学计量与光电检测领域。该系统包括光源、滤光片、聚光镜、起偏器、第一检偏器组件、第二检偏器组件，畸变测试靶、分光棱镜、CCD、壳体、轴承、准直物镜和聚焦透镜。通过起偏器、第一检偏器组件和第二检偏器组件组合使用，能够产生中心亮，四周暗的高信噪比光，用来照明畸变测试靶上的星孔，并且可根据被测光学系统焦距的不同，在畸变测试靶上选择与之匹配的星孔。因此，本发明为高精度畸变测量提供了一种星孔大小可调、信噪比高的目标系统，同时还具有波长范围可选、性能可靠、覆盖范围广的特点。

公开(公告)号：CN115435593B

公开(公告)日：2024-07-19

申请号：CN202211088366.X

申请日：2022-09-07

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 袁林光 ,  董再天 ,  李燕 ,  袁良 ,  卢飞 ,  范纪红 ,  张灯 ,  尤越

IPC: F27B14/06 ,  F27B14/08 ,  F27B14/10 ,  F27B14/14 ,  F27B14/20 ,  F27D7/06 ,  F27D9/00 ,  F27D11/10 ,  F27D21/00 ,  G01N21/25

Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种高温材料发射率测试用样品加热炉，其包括：炉体，炉体内水平设置石墨管，石墨管中央装夹石墨加热板，把石墨管分成两个对称的涂黑腔体，两侧腔体温度相同，一侧用于炉体内温度测量，另一侧作为样品加热腔对样品进行加热。本发明样品辐射加热，满足样品高精度加热的同时有效抑制腔体效应；采用石墨板热传导和石墨管腔体热辐射共同加热方式对样品进行加热，石墨管采用锥形设计，优化加工不等厚管壁，石墨管内部温差小于0.1℃，实现样品快速均匀加热。

公开(公告)号：CN117784599A

公开(公告)日：2024-03-29

申请号：CN202311671790.1

申请日：2023-12-07

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 高泽东 ,  王曼 ,  孟合民 ,  程洪亮 ,  朱院院 ,  丁娜 ,  成娟 ,  成刚 ,  袁良 ,  吴江辉 ,  刘方 ,  王律

IPC: G05B13/04 ,  G02B26/00 ,  G02B7/00

Abstract: 本发明公开了一种滤光组件切换的自适应定位控制方法，滤光组件的滤光盘上布置n个滤光片，每个滤光片记为Fi，i＝1、2、…、n且n≥2；滤光组件还包括控制电路板，根据切换指令控制滤光片切换到光路；控制电路板上集成有控制器、反馈信号隔离电路、PWM信号隔离电路、功率驱动电路；控制器中置有存储器和切换定位控制模块；定位控制方法包括：控制电路板中存储器参数初始化、位置辨识与参数计算、滤光片精确定位切换三个部分，用于完成对滤光盘的旋转时间间隔控制，实现目标滤光片的精准切换。本发明可以更好地满足工程应用中的滤光片精准、快速的切换需求。

公开(公告)号：CN107238486B

公开(公告)日：2019-05-03

申请号：CN201710374856.9

申请日：2017-05-24

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 杨斌 ,  韩占锁 ,  廉旭 ,  姜昌录 ,  俞兵 ,  袁良 ,  康登魁 ,  王生云 ,  吴李鹏 ,  吉晓 ,  杨冶平

IPC: G01M11/04

Abstract: 本发明公开了一种光吸收系数测量装置及方法，属于光学计量领域。本发明利用带有起偏/检偏器和半波片的激光光源、被测样品、移动平台、探测器和装有吸收系数测试程序的计算机搭建测试系统，并利用斜入射的测试方案；激光透过被测样品后会分成多数的反射光和透射光，本发明仅利用其中的第一次透射光展开测量，并针对o光和e光的不同特性分别测量，针对e光折射角不能直接计算的问题，利用迭代算法获得折射角的合理近似值，最终计算得出被测样品的吸收系数或针对o光和e光的不同吸收系数。本发明克服了现有行业标准采用垂直入射方法中光线干涉带来的不确定度问题，对实验条件和实验装置要求较低，实现了大口径、低吸收系数元件光吸收系数的精确测量。

公开(公告)号：CN107340555A

公开(公告)日：2017-11-10

申请号：CN201710699717.3

申请日：2017-08-16

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 袁良 ,  郭羽 ,  李宏光 ,  康登魁 ,  刘瑞星 ,  卢飞 ,  曹锋 ,  陈娟 ,  周珂

IPC: G02B5/22

CPC classification number: G02B5/22

Abstract: 本发明提出一种大发散角光吸收阱，包括串列的N级光吸收阱，N不小于3；其中从第1级到第N-1级的光吸收阱为圆台形状腔体，且没有上下底面；第N级光吸收阱为圆锥腔体，且无下底面；第i级光吸收阱与第i+1级光吸收阱之间通过圆环紧密连接，圆环外径等于第i+1级光吸收阱下端内径，圆环内径等于第i级光吸收阱上端外径；光吸收阱腔体内壁以及圆环上表面具有黑色涂层。本发明的光吸收阱，既可以吸收小发散角的光束，也可以吸收大发散角的光束。

公开(公告)号：CN104729691B

公开(公告)日：2016-09-14

申请号：CN201510133838.2

申请日：2015-03-25

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 李宏光 ,  杨鸿儒 ,  薛战理 ,  袁良 ,  康登魁 ,  于东钰 ,  卢飞 ,  韩占锁 ,  常伟军 ,  腾国奇

IPC: G01J1/00

Abstract: 本发明提出一种太赫兹探测器参数测量装置及测量方法，用于测量各种太赫兹探测器的响应度等参数。本发明采用具有绝对响应度的标准太赫兹探测器和待测太赫兹探测器比对测量的方法：参考太赫兹辐射源的太赫兹辐射，与液氮制冷黑体的背景辐射，被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，在一个周期内交替入射到光学系统，最终入射到标准太赫兹探测器或待测太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，再经过锁相放大器处理得到测量电压信号；根据由标准太赫兹探测器的绝对响应度值计算得到待测太赫兹探测器的响应度、噪声等效功率等参数。本发明装置放置在液氮制冷的低温真空背景通道中，大大降低了背景噪声对太赫兹探测器参数准确测量的影响。