用于能谱成像的投影域材料分解
    21.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116868236A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202280015531.0

    申请日:2022-02-15

    Abstract: 本发明涉及用于对能谱成像投影数据的材料分解的方法(1)、相应的设备、系统和计算机程序产品。所述方法包括:接收(2)由能谱成像系统采集的投影数据,并且通过对针对不同投影射线的对应能谱值进行组合来减少(3)所述投影数据中的噪声,以获得噪声减少的投影数据。所述方法包括:将第一投影域材料分解算法应用(6)于所述噪声减少的投影数据,以获得第一组材料路径长度估计结果,并且将第二投影域材料分解算法应用(7)于所述投影数据,以获得第二组材料路径长度估计结果。所述第二投影域材料分解算法包括优化,所述优化惩罚被优化的所述第二组材料路径长度估计结果与所述第一组材料路径长度估计结果之间的偏离。

    用于探测器装置的防散射网格组件

    公开(公告)号:CN109983542B

    公开(公告)日:2023-09-01

    申请号:CN201780072828.X

    申请日:2017-11-22

    Abstract: 本发明涉及一种防散射网格(ASG)组件,其包括第一网格和第二网格,其中,所述第二网格被布置在所述第一网格的顶部上并且包括横向移位。所述第一网格的薄片厚度小于所述第二网格的薄片厚度。本发明还涉及一种探测器装置,其包括像素探测器和布置在所述像素探测器的顶部上的ASG组件。

    校准光子探测器的方法、吸收滤波器组件和成像装置

    公开(公告)号:CN106255901B

    公开(公告)日:2020-10-09

    申请号:CN201580022548.9

    申请日:2015-04-21

    Inventor: A·特伦

    Abstract: 本发明公开了一种用于校准光子计数探测器(3)的方法。吸收滤波器(7)被横向地移动通过朝向探测器(3)发射的光子射束(8),以将吸收滤波器(7)的非均匀性的影响平均化。本发明也涉及吸收滤波器组件以及包括这样的吸收滤波器组件的成像设备(1)。

    用于螺旋计算机断层摄影的运动补偿的重建

    公开(公告)号:CN109716394A

    公开(公告)日:2019-05-03

    申请号:CN201780056317.9

    申请日:2017-09-11

    CPC classification number: G06T11/005 G06T11/006 G06T2211/412

    Abstract: 一种成像方法包括获得针对对象的螺旋扫描的投影数据。所述方法还包括:针对特定时间和感兴趣图像切片位置,利用来自探测器行的第一子集的投影数据来重建在探测器阵列上并且在第一方向上与中心行偏离的在较早时间处的第一时间运动状态图像;并且针对所述特定时间和所述图像切片位置,利用来自探测器行的第二不同子集的投影数据来重建在所述探测器阵列上并且在第二方向上与所述中心行偏离的在稍后时间处的第二时间运动状态图像。所述方法还包括:估计所述第一时间运动状态图像与所述第二时间运动状态图像之间的扭曲矢量场;并且利用使用所述扭曲矢量场补偿任意运动的运动补偿重建算法来构建运动补偿的体积图像数据。

    包括用于探测X射线辐射的两个闪烁体的探测装置

    公开(公告)号:CN103959097A

    公开(公告)日:2014-07-30

    申请号:CN201280058860.X

    申请日:2012-11-23

    CPC classification number: G01T1/20 G01T1/2008

    Abstract: 一种用于探测辐射的探测装置。本发明涉及用于探测辐射的探测装置。所述探测装置包括具有不同时间行为的至少两个闪烁体(14、15),每个在接收到辐射时生成闪烁光,其中,所生成的闪烁光被闪烁光探测单元(16)共同探测到,由此生成共同光探测信号。探测值确定单元通过对所述探测信号应用第一确定过程确定第一探测值并且通过对所述探测信号应用第二确定过程确定第二探测值,所述第二探测过程不同于所述第一确定过程。所述第一确定过程包括对所述探测信号进行频率滤波。由于所述不同闪烁体的所述闪烁光被相同闪烁光探测单元集体地探测到,因而不必须要求用于分别地探测所述不同闪烁体的不同闪烁光的(例如)利用侧视光电二极管的探测布置,由此降低了所述探测装置的技术复杂度。

    用于光子计数探测器的X射线通量降低器

    公开(公告)号:CN107072620B

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN201580062900.1

    申请日:2015-11-11

    Abstract: 一种成像系统包括辐射源(108),所述辐射源被配置为关于检查区域(106)旋转并且发射穿过所述检查区域的辐射。所述成像系统还包括辐射敏感像素(112)的阵列,其被配置为探测穿过所述检查区域的辐射并输出指示探测到的辐射的信号。辐射敏感像素的阵列被设置为跨检查区域与辐射源相对。所述成像系统还包括刚性通量滤波器设备(130),所述刚性通量滤波器设备被设置在所述辐射源与光子计数像素的辐射敏感探测器阵列之间的检查区域中。所述刚性通量滤波器设备被配置为对穿过所述检查区域并且入射在所述刚性通量滤波器设备上的辐射进行滤波。离开所述刚性通量滤波器设备的辐射具有预定通量。

    光子计数X射线辐射探测系统中的光子计数的校正

    公开(公告)号:CN108027447B

    公开(公告)日:2022-03-11

    申请号:CN201680053904.8

    申请日:2016-09-09

    Inventor: H·德尔 A·特伦

    Abstract: 本发明涉及一种光子计数X射线辐射探测系统。所述系统(31)包括X射线辐射设备(2),所述X射线辐射设备用于在扫描的探测时段期间提供用于穿过检查区(5)的多色X射线辐射(4)。包括探测元件(3)的光子计数探测设备(6)探测己经穿过所述检查区之后的所述X射线辐射,并且在所述探测时段期间测量针对每个探测元件的在一个或多个能量分箱中的光子计数。校正单元(12)估计针对每个探测元件的存在于所述探测元件中的积聚的电荷的量并且基于所述积聚的电荷的所估计的量来校正针对所述探测元件的测得的光子计数。这允许补偿由积聚的电荷引起的光子计数率的损坏并改进光子计数的确定。

    光子计数谱CT
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112088320A

    公开(公告)日:2020-12-15

    申请号:CN201980030697.8

    申请日:2019-05-07

    Abstract: 公开了一种适于探测泄漏电流的辐射探测器(100),并且所述辐射探测器包括直接转换材料(101)、至少一个第一电极(108)和多个第二电极(103)、至少一个电流测量设备(201)、以及多个信号处理链(210、220、230),所述直接转换材料用于转换入射辐射,所述至少一个第一电极和所述多个第二电极被连接到所述直接转换材料(101)的表面以在施加电场后收集每个生成的电荷。每个信号处理链包括读出单元(215、216、217、218、219)和切换元件(214),所述读出单元用于在关于所述入射辐射的能量值之间进行鉴别,所述切换元件用于在第一信号路径(2141)上或在第二信号路径上发送信号,所述第一信号路径将所述多个第二电极中的一个与所述读出单元电连接,所述第二信号路径将所述多个第二电极中的所述一个与到所述至少一个电流测量设备中的一个的输入端电连接。多个切换元件被配置为在所述第二信号路径上发送信号以在不存在入射辐射的情况下测量在所述探测器的对应的多个第二电极处接收的泄漏电流。

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