用于能谱成像的投影域材料分解
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116868236A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202280015531.0

    申请日:2022-02-15

    Abstract: 本发明涉及用于对能谱成像投影数据的材料分解的方法(1)、相应的设备、系统和计算机程序产品。所述方法包括:接收(2)由能谱成像系统采集的投影数据,并且通过对针对不同投影射线的对应能谱值进行组合来减少(3)所述投影数据中的噪声,以获得噪声减少的投影数据。所述方法包括:将第一投影域材料分解算法应用(6)于所述噪声减少的投影数据,以获得第一组材料路径长度估计结果,并且将第二投影域材料分解算法应用(7)于所述投影数据,以获得第二组材料路径长度估计结果。所述第二投影域材料分解算法包括优化,所述优化惩罚被优化的所述第二组材料路径长度估计结果与所述第一组材料路径长度估计结果之间的偏离。

    X射线位置跟踪
    3.
    发明公开
    X射线位置跟踪 审中-实审

    公开(公告)号:CN116096295A

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202180058233.5

    申请日:2021-07-16

    Abstract: 一种能谱X射线成像系统(100)包括X射线源(110)和X射线探测器(120),所述X射线源(110)和所述X射线探测器(120)被安装到支撑结构。所述支撑结构(150)被配置为使所述X射线源(110)和所述X射线探测器(120)围绕两个或更多个正交轴(A‑A'、B‑B')旋转。所述一个或多个处理器(130)被配置为使所述系统(100)执行操作,所述操作包括:基于所述能谱图像数据来生成能谱图像;并且基于第一材料的第一X射线吸收k边缘能量值(1901)来在所述能谱图像中识别包括所述第一材料的第一基准标记物(1801)的位置。

Patent Agency Ranking