位置检测传感器
    21.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111133282B

    公开(公告)日:2021-10-19

    申请号:CN201880060467.1

    申请日:2018-08-21

    Abstract: 在位置检测传感器中,在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端,第1电信号的强度越减弱,在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端,第2电信号的强度越增强,在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端,第3电信号的强度越减弱,在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端,第4电信号的强度越增强。计算部基于第3电信号的强度和第4电信号的强度对第1位置进行加权,并基于第1电信号的强度和第2电信号的强度对第2位置进行加权。

    位置检测传感器和位置测量装置

    公开(公告)号:CN111133283A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201880060532.0

    申请日:2018-08-28

    Abstract: 位置检测传感器包括:受光部,其具有分别包含生成与光的入射光量相应的第1电信号的第1像素和沿第1方向与第1像素排列配置且生成与光的入射光量相应的第2电信号的第2像素并沿第1方向排列的多个像素对;和计算部,其通过使用第1电信号的强度和第2电信号的强度进行重心运算,计算第1方向上的入射位置即第1位置。在第1像素入射位置越接近受光部的与第1方向交叉的第2方向上的一端,第1电信号的强度就越减弱,在第2像素入射位置越接近第2方向上的一端,第2电信号的强度就越增强。计算部还基于对第1电信号的强度进行累计而得到第1累计值和对第2电信号的强度进行累计而得到的第2累计值,计算第2方向上的入射位置即第2位置。

    光检测装置及光检测方法
    26.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111819840A

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN201880090905.9

    申请日:2018-12-25

    Abstract: 光检测装置(1)是检测光的入射位置的光检测装置(1)。光检测装置(1)具备多个像素、多条第1配线、多条第2配线、第1读取部(21)、及第2读取部(31)。多个像素以行列状二维排列,且分别包含第1光感应部及第2光感应部。多条第1配线将多个第1光感应部按每行连接。多条第2配线将多个第2光感应部按每列连接。第1读取部(21)通过多条第1配线的至少一部分读取信号数据。第2读取部(31)通过多条第2配线的至少一部分读取信号数据。第1读取部(21)具有:读取像素设定部(26),其基于在第1帧读取的信号数据,自多个像素中,设定在第1帧之后的第2帧读取信号数据的像素组。

    位置检测传感器
    27.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111133282A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201880060467.1

    申请日:2018-08-21

    Abstract: 在位置检测传感器中,在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端,第1电信号的强度越减弱,在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端,第2电信号的强度越增强,在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端,第3电信号的强度越减弱,在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端,第4电信号的强度越增强。计算部基于第3电信号的强度和第4电信号的强度对第1位置进行加权,并基于第1电信号的强度和第2电信号的强度对第2位置进行加权。

    形状测量传感器
    28.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111094914A

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201880060502.X

    申请日:2018-09-19

    Abstract: 本发明提供一种形状测量传感器,其包括在测量线反射后的光入射的受光部和基于光的入射位置计算测量线上的各位置的位置信息的计算部。受光部包括多个像素对,该多个像素对分别包括生成与光的入射光量相应的第1电信号的第1像素和沿与照射方向交叉的第1方向与第1像素并列配置、且生成与光的入射光量相应的第2电信号的第2像素,该多个像素对沿第1方向排列。在第1像素,入射位置越接近受光部的与第1方向交叉的第2方向上的一端,第1电信号的强度就越减弱,在第2像素,入射位置越接近第2方向上的一端,第2电信号的强度就越增强。计算部按每像素对取得第1电信号和第2电信号,基于所取得的第1电信号的强度和第2电信号的强度,按每像素对计算第2方向上的入射位置。

    位置检测传感器
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111094913A

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201880060440.2

    申请日:2018-08-21

    Abstract: 在位置检测传感器中,在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端,第1电信号的强度就越减弱,在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端,第2电信号的强度就越增强,在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端,第3电信号的强度就越减弱,在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端,第4电信号的强度就越增强。算出部基于第1电信号的强度的累计值和第2电信号的强度的累计值算出第2位置,基于第3电信号的强度的累计值和第4电信号的强度的累计值,算出第1位置。

    X射线产生装置
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110692282A

    公开(公告)日:2020-01-14

    申请号:CN201880036758.7

    申请日:2018-02-26

    Abstract: X射线产生装置包括:X射线管,其具有产生电子束的电子枪和因所述电子束的入射而产生X射线的靶;电源部,其具有将来自外部的导入电压升压来产生高压电压的升压部,和用绝缘材料密封所述升压部的绝缘块;以及用于进行关于产生所述X射线的控制的控制部。所述控制部包括第一信息处理器件,该第一信息处理器件在基于所述高压电压的高压电位上,使用数字信号来进行所述控制的至少一部分。所述第一信息处理器件在所述绝缘块中被所述绝缘材料密封。

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