公开(公告)号：CN113341495A

公开(公告)日：2021-09-03

申请号：CN202110529999.9

申请日：2016-09-30

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 木村真规子 ,  八重樫将宽 ,  杉脇正晃 ,  古泽修也

IPC: G02B5/30 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明提供一种偏振片的检查方法和偏振片的制造方法。该偏振片的检查方法在制造能够实现电子器件的多功能化以及高功能化、且品质没有偏差的偏振片之际精度良好地检查该偏振片。本发明的检查方法包括向具有非偏振部(2)的偏振片(1)的包含非偏振部(2)在内的范围照射光、并对偏振片(1)的透射光像进行拍摄的工序。在此，透射光像中的非偏振部(2)与其他部位的对比度比(非偏振部/其他部位)是1.5以上。

公开(公告)号：CN113341494A

公开(公告)日：2021-09-03

申请号：CN202110529378.0

申请日：2016-09-30

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 木村真规子 ,  八重樫将宽 ,  杉脇正晃 ,  古泽修也

IPC: G02B5/30 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明提供一种偏振片的检查方法和偏振片的制造方法。该偏振片的检查方法在制造能够实现电子器件的多功能化以及高功能化、且品质没有偏差的偏振片之际精度良好地检查该偏振片。本发明的检查方法包括向具有非偏振部(2)的偏振片(1)的包含非偏振部(2)在内的范围照射光、并对偏振片(1)的透射光像进行拍摄的工序。在此，透射光像中的非偏振部(2)与其他部位的对比度比(非偏振部/其他部位)是1.5以上。

公开(公告)号：CN107036547B

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN201610868229.6

申请日：2016-09-29

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 古泽修也 ,  杉脇正晃 ,  八重樫将宽 ,  木村真规子

IPC: G01B11/24 ,  G01N21/84 ,  C08J7/02

Abstract: 本发明提供一种具有贯通孔的纵长状的粘合膜的检查方法和制造方法，该粘合膜可恰当地用作在对纵长状膜的预定的部分进行处理之际的表面保护膜或掩模。一种检查方法，其是对透明的粘合膜进行检查的方法，该粘合膜具有纵长状的树脂膜和设于该树脂膜的一个面的粘合剂层，并且具有将该树脂膜以及该粘合剂层一体地贯通的贯通孔，该检查方法包括：对该粘合膜的表面进行拍摄而获得该表面的图像数据的工序；以及对该图像数据进行分析来检查该贯通孔的工序，对于该粘合膜的表面的拍摄，是通过向该粘合膜的一个面照射光、并对该光的反射光进行拍摄来进行的。

公开(公告)号：CN104512087B

公开(公告)日：2018-04-17

申请号：CN201410432459.9

申请日：2014-08-28

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 田村透 ,  古泽修也

IPC: B32B37/12 ,  B32B38/10 ,  B32B38/16 ,  G02B5/30

Abstract: 本发明提供一种膜层叠体的制造方法及膜层叠体的制造设备。在洁净室内设置两个以上的洁净度高于其他区域的洁净度的区域，在相邻的两个上述区域的上游侧实施异物去除，在比该上游侧进一步提高了洁净度的下游侧实施保护膜的粘合。

公开(公告)号：CN106990470A

公开(公告)日：2017-07-28

申请号：CN201610873657.8

申请日：2016-09-30

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 木村真规子 ,  八重樫将宽 ,  杉脇正晃 ,  古泽修也

IPC: G02B5/30

CPC classification number: G02B5/30

Abstract: 本发明提供一种偏振片的检查方法和偏振片的制造方法。该偏振片的检查方法在制造能够实现电子器件的多功能化以及高功能化、且品质没有偏差的偏振片之际精度良好地检查该偏振片。本发明的检查方法包括向具有非偏振部(2)的偏振片(1)的包含非偏振部(2)在内的范围照射光、并对偏振片(1)的透射光像进行拍摄的工序。在此，透射光像中的非偏振部(2)与其他部位的对比度比(非偏振部/其他部位)是1.5以上。

公开(公告)号：CN106990117A

公开(公告)日：2017-07-28

申请号：CN201610867936.3

申请日：2016-09-29

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 古泽修也 ,  杉脇正晃 ,  八重樫将宽 ,  木村真规子

IPC: G01N21/95 ,  G02B5/30

CPC classification number: G01N21/95 ,  G02B5/3033

Abstract: 提供一种偏振片的检查方法和偏光板的制造方法。在偏振片中以高精度来高效地形成非偏振部，以使该非偏振部成为期望的形状和特性。一种检查方法，对具有非偏振部的偏振片进行检查，该方法包括：摄像步骤，从该偏振片的一侧照射光，从另一侧拍摄透过了该偏振片的光；以及检查步骤，基于所得到的图像来检查该偏振片的非偏振部。

公开(公告)号：CN104338712A

公开(公告)日：2015-02-11

申请号：CN201410374866.9

申请日：2014-07-31

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 田村透 ,  古泽修也

IPC: B08B7/00

CPC classification number: B08B7/0028

Abstract: 本发明提供从膜层叠体去除异物的异物去除方法、膜层叠体的制造方法及制造装置。在该从膜层叠体去除异物的异物去除方法中，一边将包括光学膜、形成在该光学膜上的粘合层、以及层叠在该粘合层上以保护上述光学膜的保护膜的膜层叠体向下游侧输送，一边在利用配置在上述膜层叠体的宽度方向上的两个端缘中的一侧的粘合辊对夹持该两个端缘中的至少一个端缘的情况下使上述膜层叠体通过至上述下游侧，由此去除异物。