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公开(公告)号：CN107271225A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710176345.6
申请日：2017-03-23
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: G01N15/0205 , G01K7/22 , G01K13/00 , G01N1/2214 , G01N1/44 , G01N15/0625 , G01N15/14 , G01N15/1425 , G01N2015/0046 , G01N2015/0681 , G01N1/2247 , G01N15/0211 , G01N2015/1486 , G05D23/24
Abstract: 本发明提供粒子成分分析装置、粒子复合分析装置及粒子成分分析装置的使用方法。通过对捕获体照射能量线，使捕获体的温度上升。由此，粒子从捕获体脱离。在对从捕获体脱离的粒子进行分析时，在不控制捕获体的温度的情况下，捕获体的温度发生变化而难以将测定条件保持为恒定。粒子成分分析装置具有：捕获体，其捕获成为测定对象的气溶胶中的粒子；能量线照射部，其向被捕获体捕获的粒子照射能量线；分析器，其基于通过能量线的照射而从捕获体脱离的粒子的脱离成分对粒子的成分和每种成分的量中的至少一项进行分析，捕获体具有温度测定部，粒子成分分析装置还具备控制部，控制部基于通过温度测定部测得的捕获体的温度对能量线照射部的输出进行控制。
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公开(公告)号：CN107014723A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201611062425.0
申请日：2016-11-28
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 本发明提供一种搭载粒子测量部和成分分析部的粒子分析装置，可在防止检测灵敏度降低的同时，扩大测量范围。该粒子分析装置包括：粒子测量部，其基于试样气体中粒子所散射的激光，测量所述试样气体中的粒子的数量或者浓度；成分分析部，其测量试样气体中不同成分的粒子的含量；流路，其一端和试样气体源连接，在另一端侧的分支点，分为第1流路和第2流路，第1流路将试样气体导入粒子测量部，第2流路将试样气体导入成分分析部；第1调整部，其设置在所述第1流路，利用稀释气体稀释试样气体，通过将稀释后的试样气体导入粒子测量部，来调整粒子测量部的测量范围；以及第2调整部，其设置在第2流路，对将试样气体导入成分分析部的导入时间进行调整。
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公开(公告)号：CN106323823A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610140671.7
申请日：2016-03-11
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 提供一种能够通过更简便的装置结构来探测在粒子的测量中使用的谐振激光的振荡模式及其变化的粒子测量装置。该粒子测量装置具备：光谐振器，其使激光在两个相向的反射镜之间往复，来形成使该激光的能量放大而得到的谐振激光；粒子输送单元，其以使作为测定对象的气溶胶的粒子横穿所述谐振激光的光路的方式输送该粒子；散射光接收单元，其接收在所述气溶胶的粒子被所述谐振激光照射时产生的散射光；以及处理装置，其接收由所述散射光接收单元接收光而得到的受光信号，其中，所述处理装置构成为：基于所述受光信号来输出受光脉冲，导出所述受光脉冲中的在时间上相邻的受光脉冲的脉冲间时宽。
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公开(公告)号：CN106290084A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610140820.X
申请日：2016-03-11
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: G01N33/0004 , G01N15/0205 , G01N15/1012 , G01N15/1459 , G01N2015/0046 , G01N2015/1486 , G01N2015/1493 , G01N15/06 , G01N2015/0693 , G01N2201/06113
Abstract: 提供一种粒子复合分析装置的校正方法以及粒子复合分析装置，在适于多方面地分析测定对象粒子的粒子复合分析装置中能简便且准确地进行为了维持、提高装置的可靠度而需定期进行的装置的校正操作。在该粒子复合分析装置中，具备粒子测量装置和粒子成分分析装置，向粒子测量装置和粒子成分分析装置导入至少已知数量、大小及成分的校正粒子来进行分析，基于由粒子测量装置测定出的校正粒子的数量和大小对粒子测量装置的灵敏度进行校正，基于由粒子成分分析装置测定出的校正粒子的成分量对粒子成分分析装置的灵敏度进行校正。另外，基于粒子成分分析装置的捕捉体上的校正粒子的捕捉状态对导入到粒子成分分析装置的粒子相对于捕捉体的照射轴进行校正。
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