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公开(公告)号：CN112163365A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202011050311.0
申请日：2020-09-29
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G06F30/25 , G06F30/28 , G06F30/15 , G06F113/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明提供了一种等离子鞘套中太赫兹波传输特性等效测量方法和装置。所述方法包括：通过朗缪尔探针方式获取目标等离子鞘套电子密度及其分布；根据所述目标等离子鞘套电子密度及其分布，对所述目标等离子体鞘套进行仿真建模，采用高压放电产生的等效等离子体模拟所述目标等离子鞘套；根据高压放电产生的等效等离子体中太赫兹波透射特性等效测量太赫兹波在目标等离子鞘套中的传输特性。本发明解决了目前太赫兹波能量微弱，无法直接获取等离子鞘套中太赫兹波传输特性实验数据的技术瓶颈。实现充分开展太赫兹波在等离子鞘套中传输特性的等效测量目的。
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公开(公告)号：CN109211842B
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN201811219793.0
申请日：2018-10-19
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/55 , G01N21/3586 , G01N21/3563
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹频段材料反射系数定标测量装置及方法，通过太赫兹波透射测量分别获取有无定标板的太赫兹波透射电场强度，根据获取的太赫兹波透射电场强度得到定标板的透射系数，进而得到定标板的复折射率；通过太赫兹波反射测量获取定标板和被测材料板在同一入射角度下分别反射的太赫兹波反射电场强度；根据定标板的复折射率和太赫兹波反射测量的入射角度，计算定标板的反射系数；结合定标板和被测材料板反射的太赫兹波反射电场强度与反射系数之间的比例关系，计算被测材料板的反射系数。该装置及方法能够在无法准确计量太赫兹脉冲功率的情况下，有效度量各种材料反射性能，快速、便捷地获取被测材料板在太赫兹频段的反射系数和反射率。
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公开(公告)号：CN111878677A
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN202010761673.4
申请日：2020-07-31
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: F16M11/04 , F16M11/12 , F16M11/18 , F16M11/38 , B66F7/06 , F16K15/00 , G01S7/481 , G01N21/01 , G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹时域光谱散射特性测量系统目标精确定位装置，包括水平电移台、滑台、剪式升降台、俯仰水移台、方位转向台、低散射支架和单向阀，滑台架设在水平电移台上，剪式升降台架设在滑台上，俯仰水移台架设在剪式升降台上，方位转向台架设在俯仰水移台上，低散射支架架设在方位转向台上，单向阀连接在俯仰水移台上，本发明具有实现横向、垂直向、俯仰向、方位向、横滚向的五维目标精确定位，极大地降低了目标定位误差，提高了太赫兹时域光谱散射测量系统的测试精度的优点。
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公开(公告)号：CN115825001A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211644498.6
申请日：2022-12-20
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及一种可变角度的太赫兹频段衰减全反射材料参数测量系统，涉及太赫兹波材料参数测量领域，包括太赫兹波产生系统、样品测量系统、太赫兹波探测系统和数据采集处理系统；太赫兹波产生系统辐射出的太赫兹波入射到样品测量系统中与待测样品发生衰减全反射作用,样品测量系统将携带样品介电特性的出射太赫兹波信号传输到探测天线进行探测,太赫兹波探测系统将探测到的原始太赫兹波信号传输到数据采集处理系统，以得到样品的材料参数特性，本发明具有保证太赫兹波传输过程中的波束完整性，确保待测样品材料参数测量过程中发生衰减全反射现象的优点。
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公开(公告)号：CN115499991A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211252315.6
申请日：2022-10-13
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及电离度计算技术领域，特别涉及一种电感耦合等离子体电离度的测量校准方法和装置。方法包括：获取利用激光汤姆孙散射测量系统测得的待计算ICP发生器的第一管口气压和第一电子密度分布；基于验证好的ICP发生器的仿真模型、第一管口气压、第一电子密度分布和电子密度最大值，对ICP发生器进行气压校准，以得到ICP发生器内电子密度最大值处的第一真实气压；基于第一电子密度分布和第一真实气压，计算ICP发生器内的第一电离度；基于仿真模型和第一真实气压，对ICP发生器的等离子体反应过程进行仿真，得到ICP发生器内的第二电离度；利用第二电离度对第一电离度进行验证。本方案可以准确测量并校准电感耦合等离子体发生器内各个位置处的等离子体电离度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115166704A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210883018.5
申请日：2022-07-26
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S7/497
Abstract: 本发明实施例涉及电磁散射技术领域，特别涉及一种目标RCS不确定度的确定方法、装置、设备及介质。该方法应用于太赫兹波时域光谱RCS测量系统，所述RCS测量系统包括太赫兹波产生单元、太赫兹波传输单元和太赫兹波探测单元；所述方法包括：根据所述太赫兹波时域光谱RCS测量系统各所述单元的设备配置以及测试时的室内环境，确定影响所述目标RCS不确定度的关键因素；确定每一个所述关键因素对应的不确定度分量；根据每一个所述不确定度分量，确定出所述目标的RCS不确定度。本发明实施例提供的目标RCS不确定度的确定方法、装置、设备及介质，能够准确地确定太赫兹波时域光谱RCS测量系统的目标RCS不确定度。
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公开(公告)号：CN113993264A
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202111303436.4
申请日：2021-11-05
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: H05H1/28
Abstract: 本申请涉及换热技术领域，尤其涉及一种等离子体炬及其冷却方法。该等离子体炬包括等离子体炬本体和冷却组件，其中，等离子体炬本体包括喷头、钨针、内壳和外壳，喷头和钨针的极性相反，钨针设置于内壳内，内壳设置于外壳内，钨针和内壳之间形成气腔，内壳和外壳之间形成冷却腔，外壳上设置有进液管和出液管，进液管和出液管分别与冷却腔连通；冷却组件设置于冷却腔内，用于改变液体在冷却腔内的流向，以增加液体在冷却腔内的流程。本申请提供的等离子体炬换热效果好，管壁不易超温，工作状态稳定，可连续工作，使用寿命长。
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公开(公告)号：CN113038678A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110257733.3
申请日：2021-03-09
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本发明涉及一种基于太赫兹时域光谱的等离子体密度测量方法，包括：利用太赫兹时域光谱系统分别测量无等离子体时的参考时域光谱和有等离子体时的样品时域光谱；对参考时域光谱和样品时域光谱分别进行傅立叶变换，得到对应的参考频谱和样品频谱；根据样品频谱与参考频谱的相位差和频谱幅度之比，结合等离子体的厚度，确定等离子体的介电常数的实部；基于等离子体的介电常数的实部，计算等离子体密度。本发明能够实现等离子体密度无接触式实时测量，可以为等离子体研究提供重要的参数输入与技术支持。
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公开(公告)号：CN106841094A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710002309.8
申请日：2017-01-03
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586 , G01J3/433
CPC classification number: G01N21/3586 , G01J3/433
Abstract: 本发明公开了一种提高太赫兹时域光谱系统频谱分辨率的方法，包括：将太赫兹时域光谱系统中的电光晶体设计为楔形，电光晶体的前表面与探测激光的光轴垂直、后表面与探测激光的光轴形成夹角；使用吸波体遮挡住在电光晶体内震荡后出射的探测激光。本发明通过设计电光晶体的切割角度能够改变激光在晶体后表面的传播方向，避免了在晶体内多次震荡的探测激光与太赫兹波发生多次重复相互作用后进入探测器，能够从系统回波产生的根源处着手消除回波，增加有效的太赫兹波测量数据，提高太赫兹时域光谱系统的频谱分辨率。
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