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公开(公告)号：CN117451562A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202311294301.5
申请日：2023-10-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种试验机受力同轴度校准装置和方法，所述装置包括执行系统、同轴度试样、同轴度测量仪、图像光学测量系统、数据采集与控制系统，执行系统对同轴度试样施加轴向载荷并且使同轴度试样产生横向移动，从而使同轴度试样产生扭曲变形；同轴度测量仪通过测量同轴度试样所产生的扭曲变形来获得第一同轴度参数；图像光学测量系统拍摄同轴度试样受力前后的图像；数据采集与控制系统根据图像中特征位置的偏移，计算出同轴度试样受力后的横向和纵向的位移改变量，根据位移改变量计算得到第二同轴度参数，通过与第一同轴度参数进行比较，进行试验机受力同轴度的校准。本发明能够实现试验机受力同轴度参数的溯源和校准。
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公开(公告)号：CN115616238A
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202210493963.4
申请日：2022-04-29
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01P3/36
Abstract: 本发明公开的一种用于多种栅距合作光栅的差动式激光测速仪，属于冲击测量领域。本发明包括激光器光源、偏振片、第一双凸透镜、第一平行平板、第二平行平板、平凸透镜、合作光栅、第一反射镜、第二反射镜、第二双凸透镜、平凹透镜、光电探测器；还包括调节分光棱镜。本发明通过改变差动式光栅激光测速仪的分光棱镜的分光间距，只需要通过前后移动调节分光棱镜中间的小三角棱镜，将分光间隔调整到所需大小，实现在不改变整体结构的前提下使得测速仪可同时应用于多种不同光栅常数的合作光栅。本发明具有在不改变测速仪整体结构情况下可更换不同栅距合作光栅的优点，能够根据测量需求灵活选择合适光栅，提高激光测速仪的适用性，节约成本。
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公开(公告)号：CN108279509B
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201810076304.4
申请日：2018-01-26
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种快速调整法布里‑珀罗干涉仪的方法及装置，属于光学技术领域。在组成平凹腔法布里‑珀罗干涉仪的平面反射镜边缘加工一部分未镀反射膜区域，以解决因为法布里‑珀罗腔透射率低所造成的调整过程中反射光斑和干涉条纹不易观察的问题，通过引入一块过渡参考镜，使其分别与凹面反射镜和平面反射镜相对准，实现了平凹腔法布里‑珀罗干涉仪两块反射镜的对准调整。本发明装置由激光器、聚光镜、光阑、准直镜、分光镜、透镜、观察屏、平面反射镜、过渡参考镜和凹面反射镜组成，本发明方法能够提高平凹腔法布里‑珀罗干涉仪的调整精度和调整速度，在应用法布里‑珀罗干涉仪的精密测量系统装调中有实用价值。
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公开(公告)号：CN110132898A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910494584.5
申请日：2019-06-10
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的应用干涉法支撑梁的材料弹性模量测量系统，属于光电测量技术领域。本发明主要由光学测量模块、测量解调模块、数据计算模块、控制处理模块组成。光学测量模块包括准直光源、第一分光棱镜、参考调制器、光学收敛器、第二分光棱镜、第一光电转换器、第二光电转换器、相位调制器；测量解调模块包括刀口天平、刀口支撑、力加载器、支撑梁、支撑梁加载结构。本发明将计量学中力值和位移的量值复现技术应用到测量工作，能够实时测量加载力和变形的位移尺寸原位，提高材料弹性模量测量准确度，具有较好的通用性和测量实时性优点。本发明对材料的其它物理属性要求低，利用实验室环境能够实现材料弹性模量的测量，并获得结构变化的过程数据。
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公开(公告)号：CN109947141A
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201910297212.3
申请日：2019-04-15
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G05D3/12
Abstract: 本发明公开的光学平衡法微纳运动系统姿态控制装置，属于几何量精密测量技术领域。本发明主要由控制系统模块、光学测量模块、光电解调模块、执行机构模块组成。采用光能量及局部干涉调制的频率信息来判定位置的准确信息，所述位置信息用于微纳运动系统的运动中的姿态控制。测量信号中光能量用来保证测量信号的有效区域确定，干涉调制的频率信息用来判断测量区域内的平衡点位置，最终在控制系统模块中运算并驱动执行机构保证微纳运动系统在工作中运动姿态稳定可控。本发明能够克服通常运动系统姿态测量灵敏度低、存在测量漂移等问题，结构相对简单，利于提高运动系统的集成和便携性能，其测量效率高，分辨力好，利于提高姿态控制的实时性和准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109917828A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201910297225.0
申请日：2019-04-15
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的干涉差动位移法微小力控制系统，属于精密测量技术领域。本发明主要由控制及信息输出模块、光学测量模块、微小力发生模块组成。控制及信息输出模块用于测量光学测量信号，微小力发生、解算、控制及信号的外部通讯。光学测量模块用于将测量值及计算控制值与微小力值建立相互的对应关系，综合计算输出微小力的数据。微小力发生模块利用静电力方法，采用梳齿结构提高静电力获得微小力值的分辨能力和范围。本发明能够在微小力值的多种环境条件，通过干涉方法准确微小力值发生的位移变化进而确定微小力值的大小。本发明具有较高适应性和准确性，结构紧凑。和量值度量。
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公开(公告)号：CN104600555A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201510031019.7
申请日：2015-01-21
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: H01S3/10
Abstract: 本发明涉及一种动态声光调制光频级次选择方法及装置，属于激光测量技术及激光频率调制技术领域。动态声光调制光频级次选择方法及装置，用于有目的地选取声光调制光频指定衍射级次，同时就选定的衍射级次约束其光学输出的方向，包括光源输入模块，声光调整光频选择模块，控制及驱动模块，光源输出模块。本发明采用的光学结构简单，易于实现，能够较好地解决所选高速动态声光调制光频的可控制输出，具有较高的光学方向性，为提高了动态光频调制技术的应用提供了解决方案。
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公开(公告)号：CN103105134A
公开(公告)日：2013-05-15
申请号：CN201310005758.X
申请日：2013-01-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明涉及一种基于猫眼反射原理的干涉微位移测量系统，属于几何量计量技术领域。其特征是将猫眼反射原理用于干涉法微位移测量，提出猫眼反射镜引入的位移测量误差修正数学模型，并采用平衡式双光程光学系统结构以提高系统的抗干扰能力。本发明的误差修正方法可以将猫眼反射镜引入的测量误差减小到纳米量级。本系统硬件由稳频激光光源、偏振分光镜、透镜-反射镜式猫眼反射镜、角锥棱镜、波片、偏振片、必要的反射镜和直角棱镜、以及光电接收器等组成。本系统具有测量分辨力高、抗干扰能力强、可实现非接触测量等特点，可用于解决无法使用角锥棱镜的情况下的微位移干涉测量问题，在微位移、微振动、热膨胀系数等测量方面有重要的推广应用价值。
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公开(公告)号：CN115616238B
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202210493963.4
申请日：2022-04-29
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01P3/36
Abstract: 本发明公开的一种用于多种栅距合作光栅的差动式激光测速仪，属于冲击测量领域。本发明包括激光器光源、偏振片、第一双凸透镜、第一平行平板、第二平行平板、平凸透镜、合作光栅、第一反射镜、第二反射镜、第二双凸透镜、平凹透镜、光电探测器；还包括调节分光棱镜。本发明通过改变差动式光栅激光测速仪的分光棱镜的分光间距，只需要通过前后移动调节分光棱镜中间的小三角棱镜，将分光间隔调整到所需大小，实现在不改变整体结构的前提下使得测速仪可同时应用于多种不同光栅常数的合作光栅。本发明具有在不改变测速仪整体结构情况下可更换不同栅距合作光栅的优点，能够根据测量需求灵活选择合适光栅，提高激光测速仪的适用性，节约成本。
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公开(公告)号：CN117433442A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311430894.3
申请日：2023-10-31
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种光学引伸计校准装置及方法，所述装置包括支架、垂直位移台、移动杆、横梁、高度尺、被测光学引伸计，支架的底座的上端固定安装有垂直位移台，垂直位移台上固定安装有移动杆，支架的支杆上浮动安装有横梁，横梁上固定安装有高度尺，垂直位移台、移动杆、高度尺安装在同一轴线上；垂直位移台能够上下移动，带动移动杆上下移动，高度尺与移动杆紧密接触，用于测量移动杆的位移量；移动杆的轴线外表面形成有第一散斑标记，横梁上安装有高度尺的部位的轴线外表面形成有第二散斑标记，被测光学引伸计用于测量第一散斑标记与第二散斑标记之间的相对位移。本发明产生位移的重复性高、易于图像识别、结构简单、操作性强、便于维护。
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