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公开(公告)号：CN104465904A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410794915.4
申请日：2014-12-18
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: H01L33/00
CPC classification number: H01L33/00
Abstract: 本发明公开了一种Piil式封装光电器件老炼转换器，包括从上到下依次安置的压紧板(1)、限位板(2)、中间板(3)和电气连接板(4)。本发明将整个转换器设计为压紧板、限位板、中间板和电气连接板四层，在每层板上进行相应的改进，通过对被测器件的限位、压紧等，将原仅适用于带引脚光电器件的老炼板整体转换为适用于pill封装的光电器件老炼板，解决了pill封装光电器件的老炼问题。同时，本发明将封装转换夹具设计与老炼电路板设计合二为一，同时实现了封装转换与老炼功能，每次更换器件只需对整板进行操作，极大提高了效率。
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公开(公告)号：CN103698682A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201310714296.9
申请日：2013-12-20
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26 , G05B19/042
CPC classification number: Y02P90/265
Abstract: 本发明涉及一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置，特别是一种基于EMVA1288测试标准的性能测试平台，属于图像传感器测试技术领域。本发明的测试装置是基于EMVA1288标准设计的，性能参数的定义和测试方法都比较严谨，易被用户接受和认可；本发明的测试装置结构简单，测试流程方便快捷；本发明的装置中加入温控箱，无需整体移动测试装置即可改变待测试的CMOS图像传感器芯片的温度，使得待测试的CMOS图像传感器的高温性能测试更加方便快捷。
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公开(公告)号：CN119355486A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411469987.1
申请日：2024-10-21
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 一种全封闭式封装集成电路温度测试保温装置及测试方法，通过包括保温底座、全封闭金属罩的测试保温装置，上部采用全封闭金属罩，在隔绝空气的同时，能够进一步保温锁温，同时设置上下底座的组装结构，底座与金属罩组合成全封闭空间，能够将温度保持在一个稳定的状态，并解决了针对待测器件测温过程中“高温跑温”、“低温结霜”的问题，避免了测试过程中重复性操作。
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公开(公告)号：CN111025110B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN201911158149.1
申请日：2019-11-22
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26 , G01R31/265 , G01R31/303
Abstract: 本发明提供了一种碳化硅器件单粒子效应的检测系统及方法。所述检测系统包括：BNC转接装置设置于真空罐之上，计算机分别与高阻表、直流源和第二DB9转接装置连接；高阻表的高压输出High端口与BNC转接装置连接；直流源的电压输出端口与第二DB9转接装置连接；BNC转接装置、第二DB9转接装置和第一DB9转接装置分别与检测装置连接；第一DB9转接装置和高阻表上的仪表输入High端口分别与保护装置连接；高阻表的高压输出Low端口与高阻表上的仪表输入Low端口内部连接；检测装置置于真空罐内，粒子束流通过加速器管道输送至检测装置上的辐照区域。本发明能精确检测出碳化硅器件发生单粒子效应的电压值。
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公开(公告)号：CN114236417A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111459528.1
申请日：2021-12-02
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 一种电源类器件老炼结温监测装置，测温传感器单元用于采集被测器件的温度；驱动电路单元用于向测温传感器单元提供驱动电压和采集命令，同时向温度显示单元提供驱动电压及必需的转换信号；温度显示单元用于将采集到的温度信号通过LED显示；超温报警处理单位用于根据检测的温度值结合用户设置的温度上限值，判断检测的温度值是否在合理范围之内；电源及信号总线用于为各单元工作提供工作电源和信号传输通道；中央控制单元用于接收其他单元的反馈信号，同时向各单元发送控制信号，协调各单元工作；系统电源单元用于提供总电源；系统保护单元用于对各单元的工作电压、电流情况进行监控，避免各单元因过压、过流导致的系统工作异常情况。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110907809A
公开(公告)日：2020-03-24
申请号：CN201911055465.6
申请日：2019-10-31
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/30 , G01R31/317 , G01R31/3173
Abstract: 本发明涉及一种大规模数字集成电路的板方式程控电压拉偏试验电路，包括电源模块、第一数控电位器、第二数控电位器、第一继电器、第二继电器、第三继电器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、指令控制模块，电源模块的第一控制端与第一数控电位器的可调电阻端连接，电源模块的第二控制端与第一继电器的输出端连接，第一继电器的第一输入端与第二数控电位器的可调电阻端连接，第一继电器的第一输入端与第二继电器的输出端连接。本发明通过电源模块、数控电位器、继电器、电阻和指令控制模块间配合，实现大规模数字电路板方式拉偏试验中拉偏电压的自动化控制，无需携带大体积的专用仪表，因此便携性更优。
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公开(公告)号：CN104698314B
公开(公告)日：2018-01-02
申请号：CN201510096980.4
申请日：2015-03-05
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种FPGA器件级自动化测试平台和方法，特别是应用于Vertix‑4系列SRAM型FPGA的器件级自动化测试平台及其方法。一种应用于FPGA的器件级自动化测试平台，其特征在于包括：服务器、编程器、测试仪主机以及测试接口板；所述测试接口板包括被测FPGA和辅助硬件配置电路；所述服务器和编程器通过USB连接进行数据交换，所述服务器通过本地总线与所述测试仪主机连接进行数据交换，所述编程器通过被测FPGA的JTAG接口配置被测FPGA的程序，所述测试仪主机通过DPS电源模块为被测FPGA提供电源并测量其工作电流，通过数字通道向被测FPGA施加测试激励信号并采样测试结果。
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公开(公告)号：CN107452426A
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201710607703.4
申请日：2017-07-24
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明提供一种FPGA芯片中存储元件的检测电路及方法，电路包括切片，切片有多个含依次连接的第一元件、查找表和第二元件的通道，第二元件接下一通道的第一元件。元件在收到第一时钟信号时接收存储检测信号；收到第二时钟信号时接收存储参考信号，输出结果。或包括：可配置逻辑块的两切片中的被测和检测电路，被测电路有多个待测第三元件，检测电路有连接的查找表和第四元件的多个通道，第四元件接下一通道查找表的输入，每个第三元件接查找表另一输入。第三元件接收存储检测信号；查找表接收参考和检测信号，输出给第四元件；第四元件收到第四时钟信号时接收存储检测信号，接收到第五时钟信号时接收存储参考信号，输出结果。元件为存储元件。
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公开(公告)号：CN106569124A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201610987474.9
申请日：2016-11-09
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/317
CPC classification number: G01R31/317
Abstract: 一种Virtex‑5 FPGA通用动态老炼系统，包括上位机、程控电源、编程器、老炼信号板、高温试验箱、老炼试验板、老炼FPGA；上位机产生上电指令，发送老炼FPGA配置位流，接收并显示老炼响应数据，程控电源进行供电，编程器完成老炼FPGA的位流配置，老炼信号板产生老炼激励信号，高温试验箱调节老炼信号板、老炼FPGA的温度，老炼FPGA，包括时钟管理模块、系统监控模块、门控时钟模块、老炼功能模块，根据芯片温度自动调节老炼功能模块状态，产生老炼响应数据。
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公开(公告)号：CN102901924B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201210355797.8
申请日：2012-09-21
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/317
Abstract: 本发明提供一种部分三模冗余SRAM型FPGA的单粒子翻转特性的测试方法，包括：在设定的注量率下辐照被测器，当器件输出特性不正确且停止粒子束辐照T1时间内器件功能未恢复正常，则记录1次单粒子错误，多次重复后计算单粒子错误截面；使粒子注量率不断降低，直到单粒子错误截面趋于稳定；提供另一不进行三模冗余加固的对比器件，在对比注量率下，辐照对比器件并计算单粒子错误截面算对比器件的单粒子错误截面与被测器件的单粒子错误截面的比值。
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