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公开(公告)号:CN116796694A
公开(公告)日:2023-09-22
申请号:CN202310184810.6
申请日:2023-03-01
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F30/398 , G01R31/26 , G06F18/22 , G06F18/25 , G06F111/10 , G06F119/02 , G06F115/02 , G06F119/08
Abstract: 本发明公开了一种基于多源数据融合的SiP器件寿命试验抽样优化方法,包含以下步骤:步骤一:SiP产品试验剖面等效;步骤二:SiP产品结构相似度评价;步骤三:基于蒙特卡洛仿真的历史数据融合;步骤四:基于Bayes原理的历史试验数据融合;步骤五:建立基于SiP产品可靠度的抽样方案设计模型;步骤六:抽样方案设计。本方法基于Bayes数据融合理论及LTPD抽样理论,针对SiP产品批量不足以支持进行鉴定及质量一致性检验要求试验的问题,对SiP产品进行结构相似性分析及数据融合方法研究,并建立基于SiP器件可靠度的抽样模型,结合相似性分析及数据融合制定适合于SiP器件的抽样方法,达到降低抽样样本量的目的。此方法属于SiP器件抽样优化方法研究技术领域。
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公开(公告)号:CN114818415A
公开(公告)日:2022-07-29
申请号:CN202210333444.1
申请日:2022-03-30
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F30/23 , H01L21/67 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 一种SiP工艺可靠性评估试验载体的特性表征方法,通过PFMECA分析SiP产品的关键工艺,根据风险要素分析关键结构,从而确定试验载体的需要包含的工艺域,再基于失效物理方法或定性分析方法确定试验载体的特性表征参数数值,能够通过制造用于验证SiP生产工艺的试验载体,代替用于考核验证的SiP样品,以减少生产远大于需求量的SiP样品的花费,从而降低SiP产品的成本。
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公开(公告)号:CN110824211B
公开(公告)日:2021-09-07
申请号:CN201911019093.1
申请日:2019-10-24
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: H03K3/02
Abstract: 本发明公开了一种信号源系统,包括:基准信号源模块,用于产生精密基准信号;滤波电路模块,用于对精密基准信号进行滤波处理,输出滤波处理后的单路精密基准信号;多通道信号模块,用于将滤波处理后的单路精密基准信号转换为20通道的异频信号,并传输给信号驱动模块;信号驱动模块,用于根据信号源输出要求,将接收到的20通道的异频信号转化为20通道的独立异频信号;控制模块,用于对输出的20通道的独立异频信号进行总体控制或分体控制。本发明公开的信号源系统具有信号功能全面、信号质量可控、信号源使用方便、且成本低等优点。
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公开(公告)号:CN104465904B
公开(公告)日:2017-03-15
申请号:CN201410794915.4
申请日:2014-12-18
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: H01L33/00
Abstract: 本发明公开了一种Piil式封装光电器件老炼转换器,包括从上到下依次安置的压紧板(1)、限位板(2)、中间板(3)和电气连接板(4)。本发明将整个转换器设计为压紧板、限位板、中间板和电气连接板四层,在每层板上进行相应的改进,通过对被测器件的限位、压紧等,将原仅适用于带引脚光电器件的老炼板整体转换为适用于pill封装的光电器件老炼板,解决了pill封装光电器件的老炼问题。同时,本发明将封装转换夹具设计与老炼电路板设计合二为一,同时实现了封装转换与老炼功能,每次更换器件只需对整板进行操作,极大提高了效率。
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