激光功率计及基于其标定大型光学系统取样系数的方法

    公开(公告)号:CN114397013B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202111340485.5

    申请日:2021-11-12

    Abstract: 本发明为一种激光参数探测装置,特别涉及一种激光功率计及基于其标定大型光学系统取样系数的方法。克服现有激光功率计应用于工业现场中大型光学系统取样系数标定时存在的结构不紧凑,无法适用于工业现场的安装和测试、无法进行远距离传输以及标定成本高等问题。激光功率计包括依次直接连接的待测激光光学取样模块、光电转换模拟电路模块和数字电路模块;为一体化设计,结构紧凑,易于集成,便于工业现场的安装、调试和维护,可应用于大型光学系统取样系数的标定;标定过程中扣除背景光的影响,削弱背景杂散光对取样系数测量的干扰,整个计算方法简单,便于在线实现,处理时间短。同时由于是同步采样,可以减小光源波动对取样系数测量造成的干扰。

    一种图像传感器玻璃壳窗拆卸方法

    公开(公告)号:CN115229475A

    公开(公告)日:2022-10-25

    申请号:CN202210673558.0

    申请日:2022-06-14

    Abstract: 本发明具体涉及一种图像传感器玻璃壳窗拆卸方法,用于解决现有拆解方法拆卸玻璃壳窗成功率极低且容易损坏图像传感器的问题。一种图像传感器玻璃壳窗拆卸方法,步骤如下:步骤1、将图像传感器放置于温控台的加热台面上;步骤2、加热图像传感器;步骤2.1、预热15min使得温度上升至100℃,预热升温速率最高为3℃/sec;步骤2.2、恒温加热10min,使得温度设置到180℃,加热升温速率最高为3℃/sec;步骤3、使用拆解工具剥离玻璃壳窗。本发明通过高温加热使玻璃胶快速老化,实现了图像传感器玻璃壳窗的零风险拆卸。

    一种透过率和反射率测量仪及其测量方法

    公开(公告)号:CN113776786A

    公开(公告)日:2021-12-10

    申请号:CN202111093944.4

    申请日:2021-09-17

    Abstract: 本发明提供一种透过率或反射率测量仪及其测量方法,解决现有光学元件透过率或反射率测试方法,只适用于高反或高透光学元件,探测器误差和光源稳定性对测量结果影响较大的问题。测量仪包括激光光源、设在激光光源出射光路上起偏器和分光镜、旋转单元、第一探测器、第二探测器和信号单元;衰减轮盘、第一探测器依次位于分光镜反射光路上;旋转单元包括定距转轴、二维扫描机构和环形滑轨;定距转轴位于分光镜透射光路上;二维扫描机构设在定距转轴上,用于安装被测光学元件;环形滑轨与定距转轴同轴并设在定距转轴外侧;第二探测器能够在环形滑轨上移动;信号单元控制第一探测器和第二探测器同步采集光信号及采集第一探测器和第二探测器的光信号。

    可动态测量平面光学元件面形的测量装置及方法

    公开(公告)号:CN112504164A

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN202011537852.6

    申请日:2020-12-23

    Abstract: 为了解决现有的平面光学元件面形测量装置测量精度低、测量动态范围小、测量实时性差的技术问题,本发明提出了一种可动态测量平面光学元件面形的测量装置及方法。本发明利用激光器、分光镜、准直物镜、衰减板、远场瞄准探测器、小孔、目镜、二元光学器件、探测器,实现对被测平面光学元件面形的动态高分辨率测量,测量过程不受外界环境的影响;利用远场瞄准探测器对被测平面光学元件相对入射至其表面光束之间的倾斜信息进行实时测量,从而实现高精度对准,保证了后续能实现高精度测量;采用的二元光学器件为微透镜阵列或者混合调制光栅,对应的测量原理分别为哈特曼‑夏克原理和横向剪切干涉原理,其相比传统相移干涉法具有更大测量动态范围。

    机器视觉用高速CMOS线阵相机

    公开(公告)号:CN108184080B

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201711466458.6

    申请日:2017-12-28

    Abstract: 本发明涉及一种机器视觉用高速CMOS线阵相机,包括FPGA芯片、CMOS芯片、DDR2芯片、FLASH芯片以及PHY芯片;运行在FPGA芯片上的控制调度模块、图像校正模块、数据存取模块、数据收发模块、图像采集模块、相机参数存取模块;主要利用了图像校正模块用于对采集的图像依次进行暗信号非均匀度和光响应非均匀度两方面的校正,从而解决了现有线阵CMOS相机采集图像不均匀的问题。

    集成化多模式科学级CCD图像控制系统及方法

    公开(公告)号:CN105933599B

    公开(公告)日:2018-10-02

    申请号:CN201610260354.9

    申请日:2016-04-25

    Abstract: 本发明提供一种集成化多模式科学级CCD图像采集控制系统及方法,包括前端采集控制模块,全局译码模块,时钟与复位模块和网络模块;网络模块主要接收上位机命令并进行命令的一级译码,为网络参数配置,则完成网络相关参数的具体配置;为非网络参数配置,则将一级译码后命令发送至全局译码模块后进行二级译码,并将送至前端采集控制模块;前端采集控制模块内部CCD驱动单元和AD配置单元用来控制CCD图像数据的采集和数模转换,数据合成单元需要将不同步的图像数据进行数据合成并发送至数据缓存与存储单元;数据缓存与存储单元将图像数据发送至网口;本发明可运行在多种工作模式下,工作模式灵活多变可调,系统集成度高。

    基于FPGA实现GigE Vision协议进行网络通信的方法

    公开(公告)号:CN108206829A

    公开(公告)日:2018-06-26

    申请号:CN201711466460.3

    申请日:2017-12-28

    Abstract: 本发明属于嵌入式通信领域,涉及一种基于FPGA实现GigE Vision协议进行网络通信的方法。该方法通过对GigE Vison协议进行精简,用硬件描述语言实现了GigE Vision协议的各个功能,该方法不仅降低了实现成本,同时运行速度大大提升。该方法的步骤是:1)搭建网络通信系统;2)建立数据收发通道;3)利用QSPI‑FLASH芯片建立参数存储区域;4)运行底层协议;5)对GVCP协议的处理;6)对GVSP协议的处理。

    一种用于图像探测器的大温差小型制冷装置

    公开(公告)号:CN109373630B

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN201811308762.2

    申请日:2018-11-05

    Abstract: 为了给CCD传感器提供‑50℃以下的低温工作环境,本发明提供了一种用于图像探测器的大温差小型制冷装置,包括电控系统、前壳体、真空法兰、后壳体及依次设置的屏蔽构件、制冷单元、导热元件、散热器和风扇;电控系统与制冷单元相连;制冷单元设置在前壳体与真空法兰构成的真空腔体内;制冷单元由多个TEC制冷片串联构成,冷面用于支撑、固定CCD传感器;导热元件一端位于后壳体与真空法兰构成的腔体内与散热器相连,另一端穿过真空法兰后与制冷单元的热端相连;屏蔽构件将制冷单元的冷面包裹;屏蔽构件与CCD传感器的功能地相接,且与前壳体保持绝缘;屏蔽构件采用导热、导磁材料制成;风扇与散热器间距设置,均位于后壳体与真空法兰构成的腔体内。

    用于激光光束质量监测的帧率可调光电探测方法及系统

    公开(公告)号:CN118032293A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410209469.X

    申请日:2024-02-26

    Abstract: 本发明涉及光电探测,具体涉及用于激光光束质量监测的帧率可调光电探测方法及系统,解决了光电探测系统调节帧率方法在采用调整驱动参数方法时,存在控制较复杂且可靠性较低的问题,以及在采用占空比控制方法时存在图像采集不完整的问题。该探测系统包括光学系统、探测器和上位机。该帧率调节方法采用对图像数据DDR缓存的方式,通过控制读取DDR存储器内图像数据的帧间隔时间来实现激光光束质量监测的帧率可调。与采用调整驱动参数方法相比,具有时序控制简单,可移植性好的特点;与采用占空比控制方法相比,有输出帧率平滑均匀的特点。根据监测的目标不同,调节探测器的输出帧率,可兼容不同探测场景下对帧率的需求。

    一种基于自编码网络的波前图像复原方法

    公开(公告)号:CN114897722B

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202210478804.7

    申请日:2022-04-29

    Abstract: 本发明提供了一种基于自编码网络的波前图像复原方法,以解决传统方法在测量时波前原始图像中有遮挡部分的图像出现缺失,导致波前信息无法从波前原始图像中完全重构出来的技术问题。本发明的一种自编码网络包括编码器和解码器,编码器用于对无遮挡图像块进行训练,解码器用于对有遮挡图像块进行训练,其复原方法包括使用波前传感器多次采集带有遮挡物的波前原始图像,将获得的数据构建形成图像数据集;使用图像数据集对编码器和编码器进行网络模型训练,并将得到的编码器网络参数输送给解码器,获得解码器网络参数;将带有遮挡物的波前原始图像输入解码器,得到复原的无遮挡波前原始图像,图像复原完成。

Patent Agency Ranking