公开(公告)号：CN209803186U

公开(公告)日：2019-12-17

申请号：CN201822196281.9

申请日：2018-12-26

Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所

Inventor： 李静强 ,  曹健 ,  胡志富 ,  刘亚男 ,  冯彬 ,  彭志农 ,  何美林 ,  王亚冰 ,  何锐聪

IPC: G01R1/04 ,  G01R1/02

Abstract: 本实用新型适用于微波功率器件测试领域，提供了一种馈电电路结构和测试夹具。所述电路结构包括：馈电端、微波端和金属传输线；馈电端与外部直流馈电电路连接，微波端与外部测试夹具连接；所述馈电端和所述微波端设置在所述金属传输线的两端，所述金属传输线呈圆弧形；其中，所述金属传输线的长度为以所述馈电端与所述微波端之间的距离为直径的圆的半个周长。本实用新型的馈电电路结构和测试夹具制作简单，带宽宽，通用性强，测试频率范围大，节约制作成本和开发周期。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

公开(公告)号：CN204666731U

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201520406029.X

申请日：2015-06-12

Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所

Inventor： 刘亚男 ,  胡志富 ,  杜光伟 ,  李静强 ,  冯彬 ,  彭志农 ,  何美林 ,  曹健

IPC: G01R27/28 ,  G01R3/00

Abstract: 本实用新型公开了一种太赫兹在片散射参数测量校准件，涉及太赫兹器件散射参数测试装置技术领域。所述校准件包括衬底，所述衬底的上表面制作有一个直通标准件、一个反射标准件和至少一个传输线标准件，所述衬底的下表面制作有背面金属层，所述衬底作为整个校准件和被测件的共同衬底。所述校准件不仅可以解决衬底和被测件衬底不匹配的问题，提高了测量的精确度，还可以将校准后的参考平面移到管芯根部，不需要做去嵌入处理，并且采用共面波导结构还可以减小损耗。

公开(公告)号：CN204666669U

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201520406028.5

申请日：2015-06-12

Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所

Inventor： 胡志富 ,  刘亚男 ,  杜光伟 ,  李静强 ,  何美林 ,  冯彬 ,  彭志农 ,  曹健

IPC: G01R1/04

Abstract: 本实用新型公开了一种在片微波探针测试夹具，涉及微波在片测试方法技术领域。所述测试夹具包括第一测试PAD、第二测试PAD、第三测试PAD、第一对位标记、第二对位标记、第三对位标记和第四对位标记。通过测试夹具上的对位标记，在测试的过程中能够保证被测件的参考面与校准件的测量参考面相一致，从而避免探针扎针的不一致性导致额外的误差引入，提高了测量的精确度。