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公开(公告)号:CN111410964A
公开(公告)日:2020-07-14
申请号:CN202010013430.2
申请日:2020-01-07
IPC: C09K13/04 , C09K13/06 , C09K13/08 , H01L21/311
Abstract: 本申请公开了蚀刻剂组合物和制作半导体器件的方法,所述组合物包含:无机酸;约0.01重量份至约0.5重量份的胶状二氧化硅;约0.01重量份至约30重量份的铵系添加剂;和约20重量份至约50重量份的溶剂,所有重量份都是基于100重量份的所述无机酸。
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公开(公告)号:CN110911278A
公开(公告)日:2020-03-24
申请号:CN201910879827.7
申请日:2019-09-18
IPC: H01L21/306 , C23F1/18 , C23F1/26 , C23F1/20 , C23F1/28
Abstract: 公开了蚀刻金属阻挡层和金属层的方法以及制造半导体器件的方法。所述方法包括:在衬底上形成金属阻挡层和金属层;以及使用蚀刻组合物蚀刻金属阻挡层和金属层。蚀刻组合物可以包括:氧化剂,选自于硝酸、溴酸、碘酸、高氯酸、过溴酸、高碘酸、硫酸、甲磺酸、对甲苯磺酸、苯磺酸或它们的组合;金属蚀刻抑制剂,包括由如在说明书中所示的化学式1表示的化合物;以及金属氧化物增溶剂,选自于磷酸、磷酸盐、具有3个至20个碳原子的羧酸或它们的组合。
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