公开(公告)号：CN109926334B

公开(公告)日：2021-05-25

申请号：CN201811267472.8

申请日：2018-10-29

申请人： 泰克元有限公司

发明人： 金祚熙 ,  金东一 ,  金元熙

IPC分类号： B07C5/02 ,  B07C5/34 ,  B07C5/36

摘要： 本发明涉及一种电子部件测试用分选机。根据本发明的电子部件测试用分选机中，在开闭测试腔室的第一出入口的开闭装置开放所述第一出入口后封闭所述第一出入口之前，将载有完成测试的电子部件的测试托盘从测试腔室搬出，并将载有需要测试的电子部件的测试托盘搬入测试腔室。根据本发明，具有可以最小化测试腔室的温度环境的损失并提高处理容量的效果。

公开(公告)号：CN112582327A

公开(公告)日：2021-03-30

申请号：CN202011016000.2

申请日：2020-09-24

申请人： 泰克元有限公司

发明人： 卢种基 ,  金成元

IPC分类号： H01L21/683 ,  H01L21/67

摘要： 本发明涉及一种双向选择器及包括其的手部。具体地，根据本发明的一实施例，包括：选择器部件，所述选择器部件具备内部可以为真空状态的移动通路，可沿一方向移动；支架组件，所述支架组件能够相对于所述选择器部件在所述移动通路内沿所述一方向移动；以及吸附部，所述吸附部与所述支架组件相连，并能够吸附设备，当所述移动通路的所述内部处于真空状态时，所述吸附部在与所述设备隔开的位置与所述移动通路连通而令所述吸附部的内部变成真空状态，从而能够吸附并把持所述设备。

公开(公告)号：CN109283405B

公开(公告)日：2021-01-29

申请号：CN201810587366.1

申请日：2018-06-08

申请人： 泰克元有限公司

发明人： 朴孝圆 ,  崔熊熙

IPC分类号： G01R31/00 ,  G01R31/01

摘要： 本发明涉及一种能够支持在低温环境下测试电子部件的用于测试电子部件的分选机。根据本发明的用于测试电子部件的分选机构成环境维持腔室，并将环境维持腔室维持在干燥状态，从而具有能够局部冷却的结构。根据本发明具有如下效果，可以提高对电子部件的测试可靠性，并且能够提高冷却效率并减少能量。

公开(公告)号：CN108273754B

公开(公告)日：2020-08-25

申请号：CN201810081872.3

申请日：2015-06-23

申请人： 泰克元有限公司

发明人： 金斗佑 ,  金峻秀 ,  金成元

IPC分类号： B07C5/00 ,  B07C5/02

摘要： 根据本发明的实施方式，提供了一种测试分选机，其包括：装载单元，用于装载电子部件；浸泡室，用于预冷却或预加热完成装载的电子部件，以便使电子部件具有用于测试的设定温度；测试室，用于测试完成预冷却或预加热的电子部件；去浸泡室，用于将完成测试的电子部件的温度恢复至预先设定的水平，去浸泡室包括流动路径，流动路径具有第一入口、出口以及邻近出口的第二入口，流动路径形成在去浸泡室的一个侧壁内部；循环单元，用于沿流动路径循环去浸泡室中的空气；以及卸载单元，用于卸载具有恢复至预先设定的水平的温度的电子部件。

公开(公告)号：CN111474598A

公开(公告)日：2020-07-31

申请号：CN202010099140.4

申请日：2016-12-21

申请人： 泰克元有限公司

发明人： 卢种基 ,  李斗吉

IPC分类号： G01V8/10 ,  G01D21/02

摘要： 本发明涉及电子部件装载状态检测装置。包括：至少一个光照射器，对装载于位于检测位置的装载托盘的多个电子部件照射光；至少一个摄像头，对通过上述光照射器来照射光的多个电子部件进行拍摄；分析器，对通过上述摄像头获得的图像内的光的形态进行分析来检测电子部件的装载状态，从正面观察时，连接反射点和上述摄像头的第一直线和连接上述反射点和上述光照射器的第二直线形成的角度大于0度小于180度，上述反射点为通过上述至少一个光照射器向多个电子部件照射的光与多个电子部件相接位置。并且公开了利用所照射的光的变化形态来检测电子部件的装载状态，处理速度快并准确地确认电子部件的装载状态的技术。

公开(公告)号：CN106994445B

公开(公告)日：2020-04-07

申请号：CN201710363247.3

申请日：2014-10-08

申请人： 泰克元有限公司

发明人： 李秀晶 ,  金南亨

IPC分类号： B07C5/02 ,  B07C5/36

摘要： 本发明涉及测试分选机。根据本发明的测试分选机可使用户盘的装载面插入或通过基板的装载孔和卸载孔。因此，可以缩短装载装置或卸载装置的升降距离，从而可以得到缩短装载作业或卸载作业消耗时间的效果。

公开(公告)号：CN106999988B

公开(公告)日：2020-04-03

申请号：CN201580063135.5

申请日：2015-10-28

申请人： 泰克元有限公司

发明人： 罗闰成 ,  黄正佑 ,  崔僖峻

IPC分类号： B07C5/02 ,  B07C5/344 ,  G01R31/26 ,  G01R1/04

摘要： 本发明关于用于测试分选机的测试托盘和用于测试机的接口板。测试托盘的插入件具有第二校正孔，且接口板的插座引导件具有第二校正销。此外，接口板的测试插座具有对准孔，且接口板具有对准销，以分阶段地校正插入件的位置。进而，形成在插入件的本体中的校正孔的壁面被切开，使得切口孔系绕校正孔而形成。本发明可借由分阶段地依序校正插入件的位置而精确地校正插入件的位置。因为校正销系未被紧密地卡至校正孔，校正孔系形成较小的，使得插入件的位置可被更精确地校正。

公开(公告)号：CN107110910B

公开(公告)日：2020-03-24

申请号：CN201580058183.5

申请日：2015-10-28

申请人： 泰克元有限公司

发明人： 李秉哲 ,  金是勇 ,  金奉洙

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R1/04 ,  G01R31/26 ,  H01L35/30

摘要： 本发明公开一种用于测试电子部件的分选机。用于测试所述电子部件的所示分选机包括：冷却袋，其安置于连接部件的推动头上，所述连接部件将所述电子部件电连接至测试器的测试插座；以及流体供应器，其用于将冷却流体供应至所述冷却袋内部。本发明的所述分选机增强测试中的可靠性，因为所述分选机可由于供应至所述冷却袋内部的所述冷却流体而维持测试所述电子部件所需要的温度。

公开(公告)号：CN110653173A

公开(公告)日：2020-01-07

申请号：CN201910925100.8

申请日：2017-02-24

申请人： 泰克元有限公司

发明人： 卢种基 ,  尹广熙 ,  李斗吉

IPC分类号： B07C5/34 ,  B07C5/344 ,  B07C5/02 ,  B07C5/36 ,  G01R31/00

摘要： 本发明涉及电子部件测试用分选机。本发明的电子部件测试用分选机包括：加载装置，用于将待测试的多个电子部件从供给用托盘加载至测试托盘；连接装置，用于使装载于上述测试托盘的多个电子部件与测试器电连接；卸载装置，用于从测试托盘卸载完成测试的多个电子部件并使电子部件向回收用托盘移动；以及缓冲装置，具有能够在上述加载装置的工作区域与上述卸载装置的工作区域之间移动的缓冲台。而且，根据需要，缓冲装置使上述缓冲台在上述加载装置的工作区域与上述卸载装置的工作区域之间移动，从而使上述缓冲台灵活应用于借助上述加载装置进行的加载工作和借助上述卸载装置进行的卸载工作。

公开(公告)号：CN106862093B

公开(公告)日：2020-01-03

申请号：CN201710049963.4

申请日：2013-09-18

申请人： 泰克元有限公司

发明人： 罗闰成 ,  刘晛准 ,  黄正佑

IPC分类号： B07C5/02 ,  B07C5/00

摘要： 本发明涉及一种测试分选机用插件。本发明公开一种通过在形成于插件的支撑部件上的开放孔或者形成于防脱突起上的引导槽上形成具有与半导体元件的端子大小相等的半径的引导部而精确设定半导体元件的位置来提高产品可靠性的技术。