公开(公告)号：CN104244829B

公开(公告)日：2016-12-14

申请号：CN201380020938.3

申请日：2013-04-11

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 田岛崇史 ,  桑原健 ,  北川祐介

IPC: A61B6/00 ,  G01T7/00 ,  H05G1/44

CPC classification number: A61B6/4291 ,  A61B6/4208 ,  A61B6/4283 ,  A61B6/542 ,  G21K1/02 ,  H05G1/44

Abstract: 进行画质降低的担心少且不耗费劳力、不受格栅与剂量检测传感器的几何配置的错动的影响且稳定的AEC。在检测面板(35a)上接收X射线而蓄积电荷的多个像素(45)和检测X射线的剂量的多个检测像素(65)设于拍摄面(36)。多个检测像素(65)隔开间隔并周期性地配置。在与拍摄面是X射线吸收部(33)和X射线透过部(32)在第一方向上交替地周期性配置而成的。检测像素(65)的第一方向上的配置周期(S1)与X射线吸收部(33)的配置周期(F)不同，所以各检测像素(65)的输出值分散，输出值的平均值的变动幅度受到抑制。(36)面对的位置上配置有格栅(18)，该格栅(18)

公开(公告)号：CN102753099B

公开(公告)日：2016-11-16

申请号：CN201180004847.1

申请日：2011-12-09

Applicant: 东芝医疗系统株式会社

Inventor： 太田聪 ,  君岛荣

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/06 ,  A61B6/027 ,  A61B6/032 ,  A61B6/107 ,  A61B6/4078 ,  A61B6/542 ,  A61B6/547 ,  G21K1/02 ,  G21K1/10

Abstract: X射线源；楔块，配置在所述X射线源和被检体之间，形成有遮挡X射线的一部分的遮挡物；楔块驱动部，使所述楔块的位置移动；以及系统控制部，在扫描执行期间中对所述楔块驱动部进行控制，从而控制所述楔块的位置。

公开(公告)号：CN105976888A

公开(公告)日：2016-09-28

申请号：CN201610516217.7

申请日：2016-07-04

Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所

Inventor： 李豫东 ,  于刚 ,  于新 ,  何承发 ,  文林 ,  郭旗

IPC: G21K1/02 ,  G21K1/10 ,  G21K5/04 ,  G21K1/00

CPC classification number: G21K1/02 ,  G21K1/00 ,  G21K1/10 ,  G21K5/04

Abstract: 本发明涉及用于元器件电离辐照的X射线辐照方法，该方法涉及辐照装置是由X光管、准直器、限束板、低能散射滤片、电动三维平台、辐照平台、激光指示器、水循环进出口组成，该方法实现了X射线能量、剂量率连续可调、辐照束斑连续可调，且可以去除低能散射对辐照结果的影响，为元器件电离辐照提供较理想的条件。该方法将为元器件电离总剂量辐射效应研究及试验评估提供方便快捷、低成本的电离辐照条件，对提升电子元器件抗辐射加固的基础支撑能力具有重要意义。

公开(公告)号：CN105973175A

公开(公告)日：2016-09-28

申请号：CN201610134471.0

申请日：2016-03-10

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 大平原亮介 ,  高根泽真 ,  濑川和哉 ,  中村英之 ,  原田茂 ,  佐藤文夫 ,  浅井知 ,  隅田晃生 ,  大高彻

IPC: G01B15/02

CPC classification number: G01B15/025 ,  G01B15/00 ,  G01N23/043 ,  G01N23/06 ,  G21K1/02 ,  G01B15/02

Abstract: 根据实施例，提供了一种定量地评估铜焊接合长度的设备(10)。辐射发射单元(12)向多个局部样品中的每个局部样品发射辐射，所述多个局部样品是通过在垂直于铜焊接合长度方向的平面内切割样品而获得的。光生成器(16)生成具有对应于透射辐射的强度的量的光。成像单元(18)拍摄该光。计算器(20)在铜焊接合长度与光量之间的相关性的基础上根据关于所述局部样品中的每个局部样品所获得的光量来计算所述局部样品中的每个局部样品的铜焊接合长度。计算器(20)还通过对各个局部样品的铜焊接合长度进行求总和来计算所述样品的铜焊接合长度。

公开(公告)号：CN103547311B

公开(公告)日：2016-05-25

申请号：CN201280013646.2

申请日：2012-03-16

Applicant: 控制辐射系统有限公司

Inventor： A·格斯

IPC: A61N1/00

CPC classification number: A61B6/542 ,  A44C5/20 ,  A44C13/00 ,  A44D2203/00 ,  A61B3/113 ,  A61B5/0478 ,  A61B5/18 ,  A61B6/06 ,  A61B6/107 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/461 ,  A61B6/467 ,  A61B6/469 ,  A61B6/54 ,  A61B17/00 ,  A61B2017/00216 ,  A61N5/1031 ,  A61N5/1048 ,  A61N2005/1074 ,  G21K1/02

Abstract: 提供了一种放射控制系统和方法，其中向患者和/或设备的操作者投放的放射被最小化。放射控制系统可以用于大范围的应用，包括放射源用于检查物体的应用，例如医疗成像、诊断和治疗，使用放射的制造操作的应用、机场扫描系统中的应用、不同安全性设施中的应用，以及核反应器自动和过程控制中的应用。放射控制系统和方法也可以与3D成像一起使用。

公开(公告)号：CN102099081B

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN200980128373.4

申请日：2009-05-15

Applicant: 伊利克塔股份有限公司 ,  癌症研究所

Inventor： K·布朗 ,  M·G·汤普森 ,  D·A·罗伯茨 ,  P·M·埃文斯 ,  V·N·汉森

IPC: A61B6/00 ,  A61N5/10 ,  A61B6/02

CPC classification number: A61N5/1049 ,  A61B6/06 ,  A61B6/4042 ,  A61B6/583 ,  A61N2005/1061 ,  G21K1/02 ,  G21K1/10 ,  H01J35/08 ,  H01J2235/081 ,  H01J2235/087

Abstract: 为治疗MV源实现一致的探测KV源-所谓的“射束视角”源是期望的。已建议使用来自电子窗口的轫致辐射；我们提出用于实现此的实际结构，其可以在治疗束和射束视角诊断束之间容易地切换，能够提供良好的图像分辨率。该辐射源包括电子枪，位于由所述电子枪产生的射束的通道中的一对靶，所述一对靶中的一个靶是具有比其他材料更低的原子序数的材料，以及可从所述射束的通道插入并取回的电子吸收器。在优选形式中，电子枪在真空室中，以及该一对靶位于所述真空室的边界。所述较低原子序数的靶可以是镍以及较高原子序数的靶可以是铜和/或钨。所述电子吸收器可以是碳，并可以位于主准直器内，或在可交换地位于所述射束的通道中的多个主准直器之一内。这种辐射源可以被包括在本发明进一步涉及的放射治疗装置内。可以为低能X-射线而不是高能X-射线优化用于该源的平板成像设备。因此，基于碘化铯的板是合适的。

公开(公告)号：CN103079469B

公开(公告)日：2016-02-24

申请号：CN201180041580.3

申请日：2011-08-26

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： T·克勒

IPC: A61B6/03 ,  G01N23/04 ,  G01N23/20

CPC classification number: G21K1/067 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/484 ,  G01N23/04 ,  G21K1/02 ,  G21K2207/005

Abstract: 本发明涉及对象的微分相位对比成像。为了增加X射线成像系统（2）的空间分辨率，探测器像素元件（8）的大小可以被认为是限制因素。相应地，增加用于相位对比成像的设备（38）的分辨率，而无需进一步降低个体像素元件（8）的面积。相应地，提供了利用改善的采样的相位对比成像的设备（38），其包括X射线源（4）、第一格栅元件G1（24）、第二格栅G2（26）以及包括多个探测器像素元件（8）的X射线探测器元件（6），每个探测器像素元件（8）具有像素面积A。待成像的对象（14）能够被布置在X射线源（4）与X射线探测器元件（6）之间。X射线源（4）、第一格栅元件G1（24）、第二格栅元件G2（26）和X射线探测器（6）能操作地耦合以用于对象（14）的相位对比图像的采集。第一格栅元件G1（24）和第二格栅元件G2（26）中的至少一个包括具有第一格栅跨度p1的第一面积A1和具有与第一格栅跨度不同的第二格栅跨度p2的第二面积A2。

公开(公告)号：CN105102966A

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201480007435.7

申请日：2014-02-04

Applicant: 赛克斯普拉斯公司

Inventor： A.德克鲁 ,  F.菲卡洛拉 ,  O.鲁鲍德 ,  O.弗朗索瓦

IPC: G01N23/18 ,  G01M17/03

CPC classification number: G01N23/185 ,  G01M17/028 ,  G01N2223/627 ,  G21K1/02

Abstract: 本发明涉及一种用于检测轮胎(2)的装置，其用于表示所述轮胎的外壳的片段的断层摄影图像，该装置包括布置在所述轮(2)外侧的电离辐射源(11)和用于接收所述辐射的检测器(12)，所述检测器(12)相对于至少一部分的外壳位于与所述源(11)对立的位置，所述轮胎的轴线(X-X)平行于穿过所述源(11)的焦点(F)和所述检测器(12)的截面平面(P)运行，然而，根据预定的角度偏移范围，关于垂直于所述截面平面(P)的旋转轴线(Z-Z)，所述轮胎和源-检测器组件以相对于彼此的旋转运动来移动。根据本发明，在检测轴线的执行中，所述检测器(12)被设计成置于所述轮胎(2)的中心内部区域(20)中。

公开(公告)号：CN104634796A

公开(公告)日：2015-05-20

申请号：CN201410767544.0

申请日：2014-12-11

Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

Inventor： 李荐民 ,  李玉兰 ,  李元景 ,  于昊 ,  宗春光 ,  顾菁宇 ,  喻卫丰 ,  宋全伟 ,  王伟珍 ,  孙尚民 ,  刘以农 ,  李君利 ,  唐传祥

IPC: G01N23/02 ,  G01V5/00

CPC classification number: G01V5/0016 ,  G01V5/0008 ,  G21K1/02

Abstract: 本发明公开了一种用于集装箱或车辆检查系统的对准系统、检查系统和对准方法。检查系统包括射线源、准直器以及安装在探测器臂上的探测器模块，射线源、准直器以及探测器模块布置成形成检查通道，射线源发射的射线束经过准直器入射到被检查物体，由探测器模块收集被衰减的射线束以完成检查。对准系统包括测量模块，所述测量模块布置成接收从准直器发出的射线束并通过测量射线束确定射线源和准直器的位置和方向。该对准方法可以更加准确地测量射线源中心点、探测器笔端中心线及准直器中心线的对准程度。

公开(公告)号：CN104205240A

公开(公告)日：2014-12-10

申请号：CN201380004394.1

申请日：2013-02-28

Applicant: 深圳市奥沃医学新技术发展有限公司

Inventor： 吴中华

IPC: G21K1/02 ,  A61B6/06

CPC classification number: G21K1/02

Abstract: 一种可变换射野尺寸的准直器组合及其放射装置。所述放射装置包括载源体、准直器以及准直器固定架，所述准直器通过圆心过焦点的圆弧导轨与准直器固定架连接，并可绕焦点旋转。所述载源体上设置了放射源以及预准直器，所述准直器固定架上设置了多组准直器，每个准直器上设置了多个在焦平面上形成不同射野尺寸的准直开口。通过准直器不同开口的组合变换射野的尺寸，解决焦平面上形成不同形状射野尺寸以及焦点处剂量率的调强问题。