一种N型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试系统及方法

    公开(公告)号:CN117783802A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311715497.0

    申请日:2023-12-13

    Abstract: 本发明提供一种N型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试系统,其包括:第一电源模块用于为控制模块和恒流模块提供工作电压;控制模块用于提供模拟控制信号,并输出模拟控制信号至恒流模块;恒流模块用于对所述模拟控制信号进行处理;开关模块用于根据电压信号控制自身的开启或关闭;测试模块用于连接待测N型MOSFET,并测试待测MOSFET的线性区SOA抗冲击能力;采样模块用于采集自身电压信号;第二电源模块用于根据开关控制信号控制自身的开启或关闭,并接收参数信号,并根据参数信号输出数据信号至所述测试模块;第二电源模块还用于将数据信号实时传输至控制模块。本发明还提供一种N型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试方法。

    一种DrMOS的双面散热结构及其制作方法

    公开(公告)号:CN117423668A

    公开(公告)日:2024-01-19

    申请号:CN202311391331.8

    申请日:2023-10-24

    Abstract: 本申请提供一种DrMOS的双面散热结构及其制作方法,所述双面散热结构包括:金属框架;金属引脚,设置于所述金属框架外侧,并与所述金属框架分隔开;驱动芯片,设置于所述金属框架上;两个晶体管,其分别设置于所述金属框架上,并与所述驱动芯片电性连接,所述驱动芯片和所述晶体管通过键合线与所述金属引脚键合;散热片,跨接在所述两个晶体管背离所述金属框架的一侧。本申请可提高器件的散热性能,保证器件运行的稳定性。

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