公开(公告)号：CN117825852A

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202410014885.4

申请日：2024-01-04

Applicant: 重庆平伟实业股份有限公司

Inventor： 陈云乔 ,  成亮 ,  敖华阳 ,  顾璐 ,  张航 ,  陈苗 ,  周玉凤 ,  简洋 ,  郭磊

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/12

Abstract: 本发明提供一种P型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试系统，其包括：控制模块用于提供第二控制信号，并将第二控制信号传输至运放模块；控制模块用于输出电压信号至第一开关模块；运放模块用于对第二控制信号进行处理；第一开关模块用于根据电压信号控制自身的开启或关闭；第二开关模块用于将处理后的第二控制信号传输给测试模块；测试模块用于连接待测P型MOSFET，并测试待测P型MOSFET的线性区SOA抗冲击能力；采样模块用于采集自身电压信号；第二电源模块用于根据开关控制信号控制自身的打开或关闭，并接收第一数据信号，并根据第一数据信号输出第二数据信号至测试模块。本发明还提供一种P型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试方法。