公开(公告)号：CN119710852A

公开(公告)日：2025-03-28

申请号：CN202411879046.5

申请日：2024-12-19

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 胡天存 ,  何鋆 ,  张娜 ,  魏焕

IPC: C25D7/12 ,  C23C14/04 ,  C23C14/16 ,  C23C14/35 ,  C25D1/00

Abstract: 本发明公开了一种基于精密电铸技术的微波部件二次电子发射抑制方法，包括如下步骤：硅片表面清洗、匀胶、前烘、光刻、显影、后烘竖膜、剥离、硅基“电子陷阱”向微波器件的精密电铸复型。本发明方法在微波部件表面形成规则的电子陷阱结构阵列尺寸可控、排列规整、长径比高，对二次电子发射特性抑制幅度大、均匀性好，可实现航天器大功率微波部件表面二次电子发射的抑制。

公开(公告)号：CN110569564B

公开(公告)日：2023-09-01

申请号：CN201910764621.X

申请日：2019-08-19

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 王新波 ,  崔万照 ,  张洪太 ,  李韵 ,  魏焕 ,  冉立新

IPC: G06F30/17 ,  G06F30/15 ,  G06F30/23 ,  G06T17/20 ,  G06F111/10

Abstract: 一种穿舱法兰介质窗微放电阈值预测方法，首先设置输入和输出端口，并进行直六面体网格剖分，在真空一侧介质表面加载正的初始面电荷，并采用静电场求解方法获得所加载初始电荷的静态电场分布，将该静态电场作为偏置，在外加射频激励信号的作用下，采用PIC算法对微放电过程进行仿真，通过判断电子数目随时间的变化来判断是否发生了微放电，对输入信号的功率进行迭代，最终获得满足指定阈值精度的微放电阈值。

公开(公告)号：CN104062565A

公开(公告)日：2014-09-24

申请号：CN201410288806.5

申请日：2014-06-24

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 魏焕 ,  马伊民 ,  崔万照

IPC: G01R31/12

Abstract: 一种利用互调分量检测微波部件微放电的方法，这一方法的核心是利用多个信号输入被测系统或部件，由于微放电的非线性特性，使得输出产生输入的多个信号之间的互调信号，利用微放电发生前后互调信号幅度的变化来检测微放电现象。该方法主要包括以下几个步骤：对于单载波和脉冲工作条件下选择符合规则的连续波作为测试的辅助载波，对于多载波情况下不需要增加辅助载波；按照测试原理框图连接微放电检测系统；通过观测多个信号之间互调分量幅度变化来检测微放电现象。该方法与现有的微放电检测方法相比，都能灵敏可靠地检测微放电现象，但该方法检测设备更加简单，同时检测微放电的思想新颖。