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公开(公告)号：CN104713845A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201510133780.1
申请日：2015-03-25
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01N21/3581
Abstract: 本发明提出一种基于太赫兹吸收光谱处理的混合物成分识别方法，属于光学测量领域。本发明用于利用太赫兹吸收光谱检测混合物的组分，首先获取混合物样品太赫兹吸收光谱的，在扣除环境噪声、背景噪声，消除随温度变化的水蒸气吸收造成的影响后，获得用于识别的太赫兹吸收光谱，然后调用太赫兹光谱数据库，采用模板匹配和吸收峰比对的方法，依次判断、识别并扣除各样品的太赫兹吸收光谱；判定扣除后的吸收光谱数据，直到检测出混合物所有组分。本发明将实验环境下的太赫兹光谱和普通环境下的太赫兹光谱相结合，可以用于普通环境下的太赫兹光谱识别，为太赫兹光谱识别技术的应用提供了保障。
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公开(公告)号：CN104713641A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201510133777.X
申请日：2015-03-25
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J1/16
Abstract: 本发明提出了一种宽波段太赫兹源辐射功率校准装置及校准方法，可以测试的太赫兹源为光束发散角大于1.732°、光谱范围为(30～3000)μm的太赫兹源。本发明采用标准太赫兹源和待测太赫兹源的辐射参数比对的测量方法，标准太赫兹源或待测太赫兹源的辐射经过太赫兹透射窗口进入低温真空背景通道后，与液氮制冷黑体的背景辐射交替被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，被卡塞格林系统会聚，经过太赫兹光谱滤光片入射到太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，经过锁相放大器处理得到稳定的测量电压信号；根据由弱标准辐射源或强标准辐射源测量得到的辐射功率修正系数计算得到待测光源的辐射功率，同时还可计算得到待测源的辐射亮度。
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公开(公告)号：CN103441424A
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN201310349523.2
申请日：2013-08-12
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: H01S5/06 , H01S5/0683 , H01S3/067
Abstract: 本发明公开了一种飞焦级脉冲激光光源，包括激光器、准直镜、分束镜、监视能量计、起偏器组件、固定衰减器组件、参考能量计、可变衰减器、扩束镜和计算机，激光器发出的光经准直镜后成为平行光，此平行光被分束镜分成两束，其中反射光束被监视能量计接收和探测，计算机根据监视能量计的探测值判断激光器是否稳定出光，透射光束镜经起偏器组件和固定衰减器组件后成为衰减线偏振光，衰减线偏振光通过透过率由计算机控制的可变衰减器衰减到要求的能量值，最后由扩束镜输出。本发明解决了计量测试中模拟远距离漫反射回波信号的难题，所提供的模拟光束具有能量均匀、稳定的特点。
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公开(公告)号：CN112611736B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202011535885.7
申请日：2020-12-23
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学计量技术领域，主要涉及一种太赫兹校准装置，尤其涉及一种太赫兹波段光谱漫反射比校准装置。其采用连续太赫兹辐射发射系统、太赫兹漫反射积分球传递标准和高莱太赫兹探测系统构成连续太赫兹辐射型光谱漫反射比校准装置；采用太赫兹脉冲发射系统、时间延迟系统、太赫兹漫反射积分球传递标准和太赫兹脉冲探测系统构成脉冲太赫兹辐射型光谱漫反射比校准装置；从而实现对(0.1～3)THz波段范围内材料太赫兹漫反射比参数测试设备的校准，解决了目前广泛应用的多种非极性材料太赫兹漫反射比准确测试的难题，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN112611736A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011535885.7
申请日：2020-12-23
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学计量技术领域，主要涉及一种太赫兹校准装置，尤其涉及一种太赫兹波段光谱漫反射比校准装置。其采用连续太赫兹辐射发射系统、太赫兹漫反射积分球传递标准和高莱太赫兹探测系统构成连续太赫兹辐射型光谱漫反射比校准装置；采用太赫兹脉冲发射系统、时间延迟系统、太赫兹漫反射积分球传递标准和太赫兹脉冲探测系统构成脉冲太赫兹辐射型光谱漫反射比校准装置；从而实现对(0.1～3)THz波段范围内材料太赫兹漫反射比参数测试设备的校准，解决了目前广泛应用的多种非极性材料太赫兹漫反射比准确测试的难题，具有广阔的应用前景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108225730A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711169124.2
申请日：2017-11-22
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/00
CPC classification number: G01M11/00
Abstract: 本发明提出一种红外动态目标模拟器像素辐射亮度均匀性测试装置及方法，采用光学系统对红外动态目标模拟器发出的图像进行会聚、放大，由红外单元探测器进行接收，根据探测器的敏感面尺寸设计光学系统的放大倍数，保证探测器接收到的是红外动态目标模拟器像素级的图像，同时三维移动机构带动探测器对经过光学系统后形成的整幅图像进行扫描，对各像素点的辐射亮度进行测量，最终保证了测量结果的精度和可靠性。
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公开(公告)号：CN103776531B
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201410001652.7
申请日：2014-01-01
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种近红外微弱脉冲光谱辐亮度校准装置，属光学计量技术领域。该装置包括用于标定光栅光谱仪的光源组件，含有阵列光纤束的光纤组件，装有光谱辐亮度校准数据处理软件包的计算机，含有平场凹面光栅和面阵EMCCD的光栅光谱仪；阵列光纤束的输入端为单根光纤，输出端含有n根按一字排列的光纤；被测脉冲光源发出的脉冲光束经光纤组件、狭缝后被平场凹面光栅色散，色散光聚焦到面阵EMCCD的光敏面上而形成n行线光谱，计算机采集n行线光谱并根据光谱辐亮度计算公式获得被测脉冲光源随波长变化的光谱辐亮度值，并在计算机屏幕上显示单幅或多幅光谱辐亮度曲线。本发明解决了近红外微弱脉冲光源的光谱辐亮度的校准难题，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN103471726A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310382954.9
申请日：2013-08-28
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种飞焦级纳秒脉冲激光能量探测装置，属于光学计量技术领域。该装置包括会聚镜组件、探测器、驱动电路和放大组件；会聚镜组件将飞焦级纳秒脉冲激光光源发出的平行光束会聚到探测器的光敏面上；探测器选用银氧铯光电阴极的PMT探测器，驱动电路通过合适的高压输出、匹配设计的分压网络和滤波网络使探测器具有高灵敏度和低暗电流的输出；放大组件的带宽大于200MHz，同时还可对探测器的输出进行64倍、512倍或4096倍的放大，以满足后续应用装置的采集要求。本发明解决了飞焦级纳秒脉冲激光的探测问题，同时实现了超高速微弱脉冲信号的放大输出。
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公开(公告)号：CN104713641B
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201510133777.X
申请日：2015-03-25
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J1/16
Abstract: 本发明提出了一种宽波段太赫兹源辐射功率校准装置及校准方法，可以测试的太赫兹源为光束发散角大于1.732°、光谱范围为(30～3000)μm的太赫兹源。本发明采用标准太赫兹源和待测太赫兹源的辐射参数比对的测量方法，标准太赫兹源或待测太赫兹源的辐射经过太赫兹透射窗口进入低温真空背景通道后，与液氮制冷黑体的背景辐射交替被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，被卡塞格林系统会聚，经过太赫兹光谱滤光片入射到太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，经过锁相放大器处理得到稳定的测量电压信号；根据由弱标准辐射源或强标准辐射源测量得到的辐射功率修正系数计算得到待测光源的辐射功率，同时还可计算得到待测源的辐射亮度。
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公开(公告)号：CN104729691B
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201510133838.2
申请日：2015-03-25
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J1/00
Abstract: 本发明提出一种太赫兹探测器参数测量装置及测量方法，用于测量各种太赫兹探测器的响应度等参数。本发明采用具有绝对响应度的标准太赫兹探测器和待测太赫兹探测器比对测量的方法：参考太赫兹辐射源的太赫兹辐射，与液氮制冷黑体的背景辐射，被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，在一个周期内交替入射到光学系统，最终入射到标准太赫兹探测器或待测太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，再经过锁相放大器处理得到测量电压信号；根据由标准太赫兹探测器的绝对响应度值计算得到待测太赫兹探测器的响应度、噪声等效功率等参数。本发明装置放置在液氮制冷的低温真空背景通道中，大大降低了背景噪声对太赫兹探测器参数准确测量的影响。
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