电子装置
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110931438A

    公开(公告)日:2020-03-27

    申请号:CN201911240957.2

    申请日:2014-11-18

    Inventor: 高桥典之

    Abstract: 本发明涉及电子装置,提高半导体器件的安装可靠性。QFP(5)包括:搭载半导体芯片(2)的晶片焊盘(1c);配置在晶片焊盘的周围的多个内引线部(1a);与多个内引线部(1a)分别相连的多个外引线部(1b);将半导体芯片的接合焊盘(2c)与多个内引线部分别电连接的多个导线(4);封固半导体芯片的封固体(3)。而且,半导体芯片的厚度大于从晶片焊盘(1c)的下表面(1cb)到封固体(3)的下表面(3b)的厚度(T5),且封固体的下表面(3b)与多个外引线部(1b)的各个外引线部的前端部(1be)之间的距离(D1)大于封固体中的从半导体芯片的主面(2a)到上表面(3a)的厚度(T4)。

    半导体器件
    14.
    实用新型

    公开(公告)号:CN204204846U

    公开(公告)日:2015-03-11

    申请号:CN201420692867.3

    申请日:2014-11-18

    Inventor: 高桥典之

    Abstract: 提高半导体器件的安装可靠性。QFP(5)包括:搭载半导体芯片(2)的晶片焊盘(1c);配置在晶片焊盘的周围的多个内引线部(1a);与多个内引线部(1a)分别相连的多个外引线部(1b);将半导体芯片的接合焊盘(2c)与多个内引线部分别电连接的多个导线(4);封固半导体芯片的封固体(3)。而且,半导体芯片的厚度大于从晶片焊盘(1c)的下表面(1cb)到封固体(3)的下表面(3b)的厚度(T5),且封固体的下表面(3b)与多个外引线部(1b)的各个外引线部的前端部(1be)之间的距离(D1)大于封固体中的从半导体芯片的主面(2a)到上表面(3a)的厚度(T4)。

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