光检测装置及光检测方法
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111837380A

    公开(公告)日:2020-10-27

    申请号:CN201880090879.X

    申请日:2018-12-25

    Abstract: 光检测装置(1)检测光的入射位置。光检测装置(1)具备多个像素(11)、第1电路(23)、第2电路(33)、第1读取部(21、22)、及第2读取部(31、32)。多个像素(11)以行列状二维排列,且分别具有第1光感应部(15)及第2光感应部(16)。第1电路(23)将多个第1光感应部(15)按每行连接。第2电路(33)将多个第2光感应部(16)按每列连接。第1读取部(21、22)通过第1电路(23)读取信号数据。第2读取部(31、32)通过第2电路(33)读取信号数据。第1电路(23)具有切换在同一行彼此相邻的第1光感应部(15)之间的电连接与切断的行开关(27)。

    光束照射装置
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108369335A

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201680073037.4

    申请日:2016-12-07

    Abstract: 光束照射装置(10)具备:光源部(1),输出光束(L);光偏向部(2),具有反射镜(21)和接受驱动信号的供给而使反射镜(21)摇动的驱动部(24)且以反射镜(21)接受从光源部(1)输出的光束(L)并进行反射;光偏向角度检测部(3),具有接受由反射镜(21)反射的光束(L)的受光面(33a)并以光偏向部(2)的谐振频率的4倍以上的频率检测受光面(33a)上的光束(L)的位置并且输出表示该位置的检测信号;及动作控制部(4),以该检测信号为基础来修正驱动信号并且将该修正了的驱动信号输出到光偏向部(2)。

    光检测装置及光检测方法
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111819840A

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN201880090905.9

    申请日:2018-12-25

    Abstract: 光检测装置(1)是检测光的入射位置的光检测装置(1)。光检测装置(1)具备多个像素、多条第1配线、多条第2配线、第1读取部(21)、及第2读取部(31)。多个像素以行列状二维排列,且分别包含第1光感应部及第2光感应部。多条第1配线将多个第1光感应部按每行连接。多条第2配线将多个第2光感应部按每列连接。第1读取部(21)通过多条第1配线的至少一部分读取信号数据。第2读取部(31)通过多条第2配线的至少一部分读取信号数据。第1读取部(21)具有:读取像素设定部(26),其基于在第1帧读取的信号数据,自多个像素中,设定在第1帧之后的第2帧读取信号数据的像素组。

    位置检测传感器
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111133282A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201880060467.1

    申请日:2018-08-21

    Abstract: 在位置检测传感器中,在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端,第1电信号的强度越减弱,在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端,第2电信号的强度越增强,在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端,第3电信号的强度越减弱,在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端,第4电信号的强度越增强。计算部基于第3电信号的强度和第4电信号的强度对第1位置进行加权,并基于第1电信号的强度和第2电信号的强度对第2位置进行加权。

    形状测量传感器
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111094914A

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201880060502.X

    申请日:2018-09-19

    Abstract: 本发明提供一种形状测量传感器,其包括在测量线反射后的光入射的受光部和基于光的入射位置计算测量线上的各位置的位置信息的计算部。受光部包括多个像素对,该多个像素对分别包括生成与光的入射光量相应的第1电信号的第1像素和沿与照射方向交叉的第1方向与第1像素并列配置、且生成与光的入射光量相应的第2电信号的第2像素,该多个像素对沿第1方向排列。在第1像素,入射位置越接近受光部的与第1方向交叉的第2方向上的一端,第1电信号的强度就越减弱,在第2像素,入射位置越接近第2方向上的一端,第2电信号的强度就越增强。计算部按每像素对取得第1电信号和第2电信号,基于所取得的第1电信号的强度和第2电信号的强度,按每像素对计算第2方向上的入射位置。

    位置检测传感器
    18.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111094913A

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201880060440.2

    申请日:2018-08-21

    Abstract: 在位置检测传感器中,在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端,第1电信号的强度就越减弱,在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端,第2电信号的强度就越增强,在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端,第3电信号的强度就越减弱,在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端,第4电信号的强度就越增强。算出部基于第1电信号的强度的累计值和第2电信号的强度的累计值算出第2位置,基于第3电信号的强度的累计值和第4电信号的强度的累计值,算出第1位置。

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