公开(公告)号：CN108571929B

公开(公告)日：2020-07-10

申请号：CN201711379516.1

申请日：2017-12-19

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 丸川真理子 ,  早川雅之 ,  奥田贵启 ,  森野久康

IPC: G01B11/02

Abstract: 本发明实现能够以紧凑的装置结构来扩大测定范围的共焦测量装置。共焦测量装置(1A)的结构包括：衍射透镜(11)，使从白色LED光源(21)出射的光产生色差；衍射透镜(13b)，使通过衍射透镜(11)的光的色差增加；以及接物透镜(12)，聚光于测量对象范围，以使经聚光的光具有沿着光轴的色差。

公开(公告)号：CN110260784A

公开(公告)日：2019-09-20

申请号：CN201811516896.3

申请日：2018-12-12

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 奥田贵启 ,  丸川真理子 ,  森野久康

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明提供一种进一步提高了测量对象物的位置的检测精度的光学测量装置。本发明的光学测量装置包括：光源(10)，输出多个波长的光；传感头(100)，包括将经由包含多个纤芯的导光部(50)所入射的光转换成平行光的转换透镜(110)、及将产生了色差的光照射于测量对象物(200)的物镜(130)；以及分光器(30)，经由导光部(50)而获取经测量对象物(200)反射并由传感头(100)聚光的反射光，测量反射光的光谱；且传感头(100)中，以抑制从导光部(50)所含的多个纤芯(202)中的一个纤芯出射的光作为反射光而入射至一个纤芯以外的纤芯的方式，在转换透镜(110)与物镜(130)之间配置有遮蔽光的遮蔽物(S)。

公开(公告)号：CN110260784B

公开(公告)日：2023-08-01

申请号：CN201811516896.3

申请日：2018-12-12

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 奥田贵启 ,  丸川真理子 ,  森野久康

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明提供一种进一步提高了测量对象物的位置的检测精度的光学测量装置。本发明的光学测量装置包括：光源(10)，输出多个波长的光；传感头(100)，包括将经由包含多个纤芯的导光部(50)所入射的光转换成平行光的转换透镜(110)、及将产生了色差的光照射于测量对象物(200)的物镜(130)；以及分光器(30)，经由导光部(50)而获取经测量对象物(200)反射并由传感头(100)聚光的反射光，测量反射光的光谱；且传感头(100)中，以抑制从导光部(50)所含的多个纤芯(202)中的一个纤芯出射的光作为反射光而入射至一个纤芯以外的纤芯的方式，在转换透镜(110)与物镜(130)之间配置有遮蔽光的遮蔽物(S)。

公开(公告)号：CN109597049B

公开(公告)日：2023-01-06

申请号：CN201811055201.6

申请日：2018-09-11

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 丸川真理子 ,  奥田贵启 ,  杉山高介

IPC: G01S7/481 ,  G01S17/50

Abstract: 本发明提供一种能提高设置自由度的传感头。传感头(100)为对测量对象物(200)的位移进行测量的传感器的传感头，且包括使所入射的光沿着光轴方向产生色差的衍射透镜、在内部至少收容着衍射透镜的壳部(5)、以及用于对固定对象物进行固定的固定部(11)及固定部(12)，壳部(5)具有外形为圆柱形状的圆柱部(10)，在圆柱部(10)的中心轴方向观察时，固定部(11)、固定部(12)的外形收纳在圆柱部(10)的外形以内。

公开(公告)号：CN110275172B

公开(公告)日：2022-10-11

申请号：CN201910026833.8

申请日：2019-01-11

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 中村润平 ,  水崎纮行 ,  田中元基 ,  上辻康人 ,  奥田贵启

IPC: G01S17/04 ,  G01S7/481 ,  G01V8/14

Abstract: 本发明提供一种利用导光构件可靠地进行导光并且组装容易的光电传感器。导光构件(3)的光投射侧导光部(4)在前后方向上延伸。光接收侧导光部(5)以至少其一部分相对于前后方向而倾斜的方式延伸。遮光构件(6)具有供光投射侧导光部(4)在前后方向上嵌入的嵌入部(65)、及在前后方向上与基板(7)抵接的抵接部(67)。

公开(公告)号：CN113390334A

公开(公告)日：2021-09-14

申请号：CN202110147297.4

申请日：2021-02-03

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 奥田贵启 ,  高嶋润 ,  谷沢元春

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明不会加大景深而能够降低粗糙面的测量误差。光学测量装置包括：光源，输出多个波长的光；第一狭缝构件，形成有使来自光源的光的一部分通过的第一开口；光学系统，用于使通过了第一开口的光沿光轴产生色差；物镜，将产生了色差的光照射至测量对象物；第二狭缝构件，形成有使照射至测量对象物的光的反射光的一部分通过的第二开口；受光用光纤，对通过了第二开口的光进行传播；以及受光传感器，获取经传播的光，对所述光的光谱进行测量，第一开口及第二开口分别具有包含多个针孔的形状。

公开(公告)号：CN109596050A

公开(公告)日：2019-04-09

申请号：CN201811053691.6

申请日：2018-09-11

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 丸川真理子 ,  奥田贵启 ,  杉山高介

IPC: G01B11/02

Abstract: 本发明提供一种确保测量精度并且能实现小型化的传感头。传感头(100)的壳(1)具有呈以作为光轴的轴(AX)为中心轴的大致圆筒形状且端部经开放的第一壳部(2)及第二壳部(3)、以及呈以轴(AX)为中心轴的大致圆环形状的连接构件(6)。第一壳部(2)及第二壳部(3)通过形成在各自的内周面的内螺纹部(2a)、内螺纹部(3d)与连接构件(6)的外螺纹部(6a)螺合而相互连接。

公开(公告)号：CN108571929A

公开(公告)日：2018-09-25

申请号：CN201711379516.1

申请日：2017-12-19

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 丸川真理子 ,  早川雅之 ,  奥田贵启 ,  森野久康

IPC: G01B11/02

Abstract: 本发明实现能够以紧凑的装置结构来扩大测定范围的共焦测量装置。共焦测量装置(1A)的结构包括：衍射透镜(11)，使从白色LED光源(21)出射的光产生色差；衍射透镜(13b)，使通过衍射透镜(11)的光的色差增加；以及接物透镜(12)，聚光于测量对象范围，以使经聚光的光具有沿着光轴的色差。

公开(公告)号：CN304779378S

公开(公告)日：2018-08-21

申请号：CN201730668869.8

申请日：2017-12-26

Applicant: 欧姆龙株式会社

Designer： 丸川真理子 ,  奥田贵启 ,  杉山高介 ,  中野超

Abstract: 1、本外观设计产品的名称：位移传感器用头部。
2、本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测量对象物的高度和厚度等。
3、本外观设计产品的设计要点：如设计1立体图1和设计2立体图2所示的形状。
4、最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：设计1立体图1。
5、指定基本设计：设计1。

公开(公告)号：CN303967497S

公开(公告)日：2016-12-14

申请号：CN201630186515.5

申请日：2016-05-18

Applicant: 欧姆龙株式会社

Designer： 奥田贵启 ,  杉山高介 ,  松井明 ,  中野超

Abstract: 1、本外观设计产品的名称：位移传感器用头。
2、本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测量到对象物的距离、对象物的高度
和厚度等。
3、本外观设计产品的设计要点：如立体图1所示的形状。
4、最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图1。
5、主视参考图中，用阴影线表示的部分是透明的。