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公开(公告)号:CN116130416A
公开(公告)日:2023-05-16
申请号:CN202211382946.X
申请日:2022-11-07
IPC: H01L21/78 , H01L29/06 , H01L29/16 , H01L21/336 , H01L29/78
Abstract: 碳化硅半导体装置包括碳化硅半导体层(2)和侧硅化物层(42)。碳化硅半导体层包括碳化硅单晶,并且具有主表面(2a)、与主表面相反的后表面(2b)以及连接主表面与后表面并由解理面形成的侧表面(2c)。碳化硅半导体层还包括改性层(21)。改性层形成侧表面的位于后表面附近的一部分,并且具有与碳化硅单晶的原子排列结构不同的碳化硅原子排列结构。侧硅化物层包括金属硅化物,其是金属元素和硅的化合物。侧硅化物层设置在碳化硅半导体层的侧表面上并且与改性层相邻。