公开(公告)号：CN115053079B

公开(公告)日：2024-04-09

申请号：CN202180010327.5

申请日：2021-03-05

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 本多仁美 ,  犬塚孝范 ,  木村优介 ,  小松新始

IPC: F16D48/06 ,  G01B7/00 ,  G01B7/30 ,  F16D11/10

Abstract: 位置检测装置具备磁检测元件(80)，磁检测元件相对于牙嵌离合器(10)的第一离合器构成部(11)及第二离合器构成部(12)配置于以轴线为中心的径向外侧，并且设于第一磁通路径部(72、74)及第二磁通路径部(71、73)之间，输出表示在第一磁通路径部(72、74)及第二磁通路径部(71、73)之间通过的磁通的朝向的传感器信号。磁检测元件按照磁通的朝向根据第一离合器构成部的第一孔部(12b)、第一齿部(12a)与第二离合器构成部的第二孔部(11b)、第二齿部(11a)在以轴线为中心的旋转方向上的位置关系而产生的变化来输出表示位置关系的信号作为传感器信号。

公开(公告)号：CN103727873B

公开(公告)日：2018-01-30

申请号：CN201310463621.9

申请日：2013-10-08

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 本多仁美 ,  水谷彰利 ,  河野祯之

IPC: G01B7/30

CPC classification number: G01D5/14 ,  G01D5/145

Abstract: 一种旋转角检测设备（10），具有第一磁轭（40）和第二磁轭（50），第一磁轭（40）的内表面由第一凹曲表面（41）和第二凹曲表面（42）形成，第二磁轭（50）的内表面由第三凹曲表面（51）和第四凹曲表面（52）形成。每个凹曲表面并不在第二方向（D2）上延伸，而是以倾斜的方式向着第一平面（43）或第二平面（53）延伸。第一平面和第二平面相互面对并且相互平行，其间夹置有霍尔元件（61）。在霍尔元件周围的较宽范围上，从第一磁轭泄露到内部空间并且到达第二磁轭的磁通在第二方向上流动。

公开(公告)号：CN102353391B

公开(公告)日：2015-02-25

申请号：CN201110157547.9

申请日：2011-05-31

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 松本光一郎 ,  河野祯之 ,  本多仁美 ,  水谷彰利

IPC: G01D5/12 ,  G01B7/30

CPC classification number: G01D5/145

Abstract: 本发明公开了一种旋转角探测器(2)，所述旋转角探测器(2)设有框架形状的轭状物(40)，所述轭状物(40)包括平行的第一壁(41)和第二壁(42)。探测对象的旋转轴(z)在所述框架形状的轭状物(40)内部延伸。磁通量向量在垂直于第一壁(41)的方向上是均匀的，因此即使霍尔元件(5)的位置偏离，所述探测到的磁通量密度变化较小。所述探测器(2)的健壮性增强。所述霍尔元件(5)和第二壁(42)的第二内表面(42a)之间的距离(Y2)比所述霍尔元件(5)和第一壁(41)的第一内表面(41a)之间的距离(Y1)短。所述第二内表面(42a)的长度(X2)比所述第一内表面(41a)的长度(X1)长。在所述第二壁(42)附近，能够扩大磁通量向量均匀的区域。因而，健壮性进一步加强。

公开(公告)号：CN103376048A

公开(公告)日：2013-10-30

申请号：CN201310122660.2

申请日：2013-04-10

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 水谷彰利 ,  本多仁美 ,  河野祯之

IPC: G01B7/14

CPC classification number: G01B7/003 ,  G01B7/30 ,  G01D5/00 ,  G01D5/145 ,  G01D5/147

Abstract: 本发明涉及一种行程量检测装置，包括磁轭（11、12、13、14、15）、磁通量产生部（20）、和磁性检测部。磁轭（11、12、13、14、15）具有向其外侧突出的突出部（115、125、135、145、155）。磁通量产生部（20）设置在磁轭（11、12、13、14、15）中。磁性检测部设置在磁通量产生部（20）和突出部（115、125、135、145、155）之间。磁性检测部设置在相对于磁通量产生部（20）的固定位置。磁性检测部输出与通过磁轭（11、12、13、14、15）相对于磁性检测部的相对移动所产生的磁通密度相对应的信号。

公开(公告)号：CN102809385A

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：CN201210180104.6

申请日：2012-06-01

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 水谷彰利 ,  河野尚明 ,  本多仁美 ,  泷口智之

IPC: G01D5/14 ,  G01K7/22

CPC classification number: G01R33/07 ,  G01D5/145 ,  G01D11/245

Abstract: 一种磁检测装置（1）包括：IC器件（2）；壳体（3），其限定IC器件的收纳空间（9）；以及，树脂模制部（4），其被布置在壳体的外表面（17）的第一部分上。IC器件包括：IC封装（5），其具有内置的磁电换能器；以及引线（6）。收纳空间由壳体的内壁的第二部分限定。内壁的第二部分的预定部分被定义为与所述IC器件接触的接触区域（L0-L4）。树脂模制部被布置在外表面的第二部分的预定部分以外，外表面的第二部分的预定部分与接触区域对应。通过接触区域和树脂模制部的位置来确定磁电换能器的位置。