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公开(公告)号：CN115698756A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202180042031.1
申请日：2021-05-27
Applicant: 株式会社电装
Inventor： 东谦太
IPC: G01S7/4865 , G01C3/06 , G01S7/497 , G01S17/10
Abstract: 本发明涉及测距装置。测距装置(10、10a)具备发光部(40)、受光部(60)、以及利用光的飞行时间来运算对象物距离的运算部(20)。运算部具备：直方图生成部(230)；复合峰部估计部(240)，估计在直方图中是否存在复合峰部，该复合峰部是以峰值飞行时间为边界，从增加变为减少的峰部，且是将来自距测距装置的距离的彼此的差在规定范围内的多个物体的光的强度的分布合成而得到的峰部；飞行时间确定部(250)，在峰部中确定上升时间和下降时间；基础飞行时间决定部(260)，在估计为存在复合峰部的情况下，基于上升时间和下降时间中的任意一个时间来决定基础飞行时间；以及距离计算部(270)，利用基础飞行时间计算为对象物距离。
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公开(公告)号：CN110462437B
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN201880022194.1
申请日：2018-03-23
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 受光阵列部(31)接受从照射部照射并被物体反射的反射光，并且并列地输出从多个受光部(80c)分别输出的脉冲信号。计时部(33c)计测从被输入表示照射部照射光的定时的照射定时信号起的经过时间。响应获取部(34)按照每个恒定周期的定时，获取多个受光部中的正在输出脉冲信号的受光部的数量亦即响应数，并且输出从响应数中减去或者除以偏差值而得到的调整响应数。存储器(6)将地址与由计时部计测的计时值建立对应关系。直方图生成部(52)累计调整响应数并储存至根据计时部中的计时值确定的存储器的地址，来作为该地址的数据。
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公开(公告)号：CN118140153A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202280071149.1
申请日：2022-10-14
Applicant: 株式会社电装
Inventor： 东谦太
IPC: G01S7/4865 , G01S7/487 , G01S17/10
Abstract: 光测距装置交替地实施将照射强度以通常水平进行照射的通常受光发光处理和抑制了照射强度的抑制受光发光处理。光测距装置比较在通常受光发光处理和抑制受光发光处理中在相互对应的位置观测到的受光脉冲的上升位置。在两个上升位置没有规定值以上的差异的情况下，光测距装置将该受光脉冲视作不是在来自目标的反射光中耦合了接近体散射光的脉冲，以上升位置为基准运算距离。另一方面，在两个上升位置存在规定值以上的差异的情况下，以下降位置为基准计算距离。
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公开(公告)号：CN110462426B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN201880021577.7
申请日：2018-03-30
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01S7/4861 , G01S17/10 , H01L31/10 , H01L31/107
Abstract: 光检测器具备具有对光子的射入进行响应的SPAD(4)的多个检测部(2)。多个检测部中的至少一个检测部构成为在SPAD对光子的射入进行响应之后，到下次能够进行响应为止的复原时间与多个检测部中的其它的至少一个检测部的SPAD的复原时间不同。
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公开(公告)号：CN110462847A
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201880021118.9
申请日：2018-03-30
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L31/10
Abstract: 本发明涉及光检测器。光检测器(1A)具备：检测部(10)，构成为对SPAD(4)施加反向偏压来进行光检测；监视器用SPAD(12)，具有与构成检测部的SPAD同样的特性；电流源(14)，向监视器用SPAD供给恒定电流使监视器用SPAD以盖革模式进行动作；以及电压生成部(18)，基于根据在监视器用SPAD的两端间产生的击穿电压设定的基准击穿电压和规定的过电压来生成施加到检测部的SPAD的反向偏压。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110462846A
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201880019965.1
申请日：2018-03-27
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L31/10 , G01S7/486 , H01L27/146
Abstract: 本发明涉及光检测器。受光阵列部(10)具有根据光子的入射而输出脉冲信号的多个受光部(11)，且并行输出从多个受光部分别输出的脉冲信号。比较部(20)对输出脉冲信号的受光部的数量亦即响应数和触发阈值进行比较，并在响应数达到触发阈值的定时输出表示入射到受光阵列部的光信号的受光定时的触发信号。响应获取部(40)在按照触发信号的定时获取响应数，并作为表示光信号的强度的强度信息输出。延迟设定部(60)设定延迟设定值，该延迟设定值用于调整从受光阵列部输出脉冲信号到响应获取部获取响应数为止的时间。
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公开(公告)号：CN113874755B
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN202080037714.3
申请日：2020-05-13
Applicant: 株式会社电装
Inventor： 东谦太
IPC: G01S17/10 , G01S7/4865 , G01C3/06
Abstract: 光测距装置(20)使与从发光部(40)向规定范围射出的脉冲光对应的反射光在排列有能够分别进行检测的多个小像素(69、s1～s9)的像素(66)上成像，通过定时控制部(170)以不同的相位进行多个小像素中的至少一部分小像素隔开时间间隔反复进行的反射光的检测、和其它的小像素隔开时间间隔反复进行的反射光的检测。使用由各小像素隔开时间间隔反复进行的检测的结果，确定部(100)确定包含到存在于规定范围的对象物为止的距离的对象物(OBJ1)的空间上的位置。
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公开(公告)号：CN113646660B
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202080025163.9
申请日：2020-03-24
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01S7/4861 , G01S7/497 , G01S17/89 , G01S17/931
Abstract: 本发明的测距装置(10)具备：照射部(20)；受光部(30)，具有多个受光要素(31)排列为面状而成的受光面(S1)，将像素范围内的受光要素的集合作为一个像素，并输出与各像素所包含的受光要素的受光状态对应的受光信号；距离图像获取部(50)，利用受光信号获取表示各像素中的到照射光的照射范围内的物体为止的距离的距离图像；背景光图像获取部(60)，利用受光信号获取背景光图像；信息获取部(81)，获取与背景光的强度相关的强度相关信息；以及分辨率控制部(82)，根据与强度相关信息相关的背景光的强度，分别独立地对距离图像和背景光图像设定像素范围的大小控制分辨率。
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公开(公告)号：CN117980774A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202280064277.3
申请日：2022-09-05
Applicant: 株式会社电装
Inventor： 东谦太
IPC: G01S7/4865 , G01S7/487 , G01C3/06
Abstract: 对按每个受光像素排列有多个SPAD而接收来自感测区的光的光学传感器进行控制的控制装置的处理器构成为执行以下处理：按每个受光像素，获取包含来自通过对于从光学传感器向感测区的照射光的反射光的受光来响应的SPAD的反射光输出分量(WRr)和来自通过来自感测区的外部光的受光来响应的SPAD的外部光输出分量(WRo)的受光信号波形(WR)；以及按每个受光像素，基于输出了反射光输出分量(WRr)的SPAD的数量即反射光响应数(NRr)与输出了外部光输出分量(WRo)的SPAD的数量即外部光响应数(NRo)的相关，估计反射光的反射强度(IR)。
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公开(公告)号：CN113874755A
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202080037714.3
申请日：2020-05-13
Applicant: 株式会社电装
Inventor： 东谦太
IPC: G01S17/10 , G01S7/4865 , G01C3/06
Abstract: 光测距装置(20)使与从发光部(40)向规定范围射出的脉冲光对应的反射光在排列有能够分别进行检测的多个小像素(69、s1～s9)的像素(66)上成像，通过定时控制部(170)以不同的相位进行多个小像素中的至少一部分小像素隔开时间间隔反复进行的反射光的检测、和其它的小像素隔开时间间隔反复进行的反射光的检测。使用由各小像素隔开时间间隔反复进行的检测的结果，确定部(100)确定包含到存在于规定范围的对象物为止的距离的对象物(OBJ1)的空间上的位置。
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