-
公开(公告)号：CN116137888A
公开(公告)日：2023-05-19
申请号：CN202180052432.5
申请日：2021-09-16
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G01B11/25
Abstract: 光学装置(1A)具备作为面发光光源的光源(10)、光选择部(30)、摄像部(40)以及导出部(52B)。光选择部(30)将从光源(10)照射的光线(R)分光为互不相同的波长区域的多个分光光线(L)。摄像部(40)对被照射多个分光光线(L)的被检体(B)进行摄像来获取分光图像。导出部(52B)根据在分光图像中获取到的多个分光光线(L)中的针对至少两个不同的波长区域的受光强度的相互的大小关系，从推测出被检体(B)中的多个分光光线(L)各自的照射区域(E)的推测结果导出被检体(B)的表面性状或者形状信息。
-
公开(公告)号：CN115753781A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202210174971.2
申请日：2022-02-25
Applicant: 株式会社东芝
Abstract: 本发明涉及处理装置、检查系统、处理方法以及存储介质。提供能迅检查速被检体的表面中成为检查对象的范围的处理装置、检查系统、处理方法以及存储介质。本发明提供与使用拍摄部的被检体检查关联的处理装置。处理装置的处理器基于由点群表示被检体的表面的形状且利用点群规定被检体的表面中的位置以及有关法线矢量的信息的形状数据，计算多个拍摄点来作为对被检体进行拍摄的位置。处理器对经过计算出的所有多个拍摄点且使自多个拍摄点的每一个起至成为下一个移动目的地的拍摄点为止的移动成本的总和最小化的路径进行解析，计算与解析结果对应的路径来作为使拍摄部移动的路径。
-
公开(公告)号：CN107917920A
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201710810603.1
申请日：2017-09-11
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G01N21/956
Abstract: 实施例提供了一种能够正确地检测相邻地加载的物体的边缘的边缘检测设备、边缘检测方法以及物体保持设备。一种边缘检测设备，包括光源、成像部件和检测器。光源包括用于用光来照射相邻的多个物体的至少三个光发射部件。成像部件对每个光发射部件所照射的物体的表面进行成像，并且生成表面的多个图像数据。检测器基于多个图像数据的至少两个不同组合来检测被成像的表面的边缘。
-
公开(公告)号：CN103680533A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201310385268.7
申请日：2013-08-29
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24035 , G11B7/24038 , G11B7/2405 , Y10T428/2495 , Y10T428/24975
Abstract: 本发明涉及光学存储介质、信息记录装置和信息记录方法，根据一个实施方式，光学存储介质包括引导层，记录层组以及引导层侧中间层。记录层组包括多个记录层和被布置在多个记录层之间的多个中间层。引导层侧中间层被布置在引导层与多个记录层之中最接近引导层的第一记录层之间。引导层侧中间层的厚度T1与被包括在记录层组中的任意连续中间层的厚度总和S1不匹配。
-
公开(公告)号：CN103369334A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201210585122.2
申请日：2012-12-28
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: G02B26/02 , H04N13/305 , H04N13/31 , H04N13/317 , H04N13/351
Abstract: 根据一个实施例，图像显示装置（100）包括光源（101）、调制单元（102）、第一阵列（103）和第二阵列（104）。调制单元（102）调制光的强度和颜色以产生对应于包括在调制像素组中的每个调制像素的光束。通过并置多个第一偏转元件来形成第一阵列（103），每个所述第一偏转元件具有平行于调制像素的垂直方向的母线。通过并置多个第二偏转元件来形成第二阵列（105），每个所述第二偏转元件具有相对于所述第一偏转元件的母线倾斜了由tan-1（α×m/n）表示的角度的母线。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118688099A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202311162750.4
申请日：2023-09-08
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝情报系统株式会社
Abstract: 本发明的实施方式涉及光学检查方法、存储有光学检查程序的存储介质以及光学检查装置。提供能够获取物体的信息的光学检查方法。根据实施方式，光学检查方法包括：利用波长选择部选择性地使来自物点的包括至少两个不同的波长谱的光通过，利用具有能够接受波长谱的光的至少两个颜色通道的拍摄部对物点进行拍摄；基于针对物点的至少两个颜色通道中的受光数据，使至少两个不同的波长谱的光成为分别具有不同的方向的信号向量；以及基于信号向量的方向，对物点处的光的方向分布的离散度进行推定处理。
-
公开(公告)号：CN118687505A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202311433930.1
申请日：2023-10-31
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G01B11/25
Abstract: 本实施方式提供一种光学检查方法以及存储介质、以及光学检查装置，光学检查方法具备：将明暗周期性地变化的第1基本调制模式的第1图案光投影于物体；对投影有第1图案光的物体进行摄像而获取第1图像；将明暗相对于第1基本调制模式反转的第1反转调制模式的第2图案光投影于物体；对投影有第2图案光的物体进行摄像而获取第2图像；以及生成至少基于第1图像和第2图像抽取的强调了进行特异的光散射的特异区域的特异光散射图像。
-
公开(公告)号：CN116818657A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202211060742.4
申请日：2022-08-31
Applicant: 株式会社东芝
Abstract: 本公开涉及光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置。提供一种获取物体表面的信息的光学检查方法。在实施方式的光学检查方法中，使用通过了选择性地使来自物体表面的互不相同的多个预定波长的光通过的波长选择部的光，用具有区分地接收多个预定波长的光的颜色通道的图像传感器进行摄像以获取图像，进行推定在图像的各像素接收到光的颜色通道的通道数量作为颜色数量的颜色数量推定处理，基于颜色数量，进行识别来自物体表面的散射光分布(BRDF)的散射光分布识别处理或者识别物体表面的状态的表面状态识别处理中的至少一方的处理。
-
公开(公告)号：CN105301760A
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201510382179.6
申请日：2015-07-02
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G02B26/08
CPC classification number: G01B9/02091 , G01B9/02028 , G02B13/22 , G02B17/023 , G02B26/0816
Abstract: 本发明涉及光学延迟装置和光学相干层析成像装置。根据一个实施例，光学延迟装置包括下面的元件。第一后向反射器包括第一和第二反射表面。第二后向反射器包括与所述第一反射表面相对的第三和第四反射表面。第三后向反射器包括与所述第二反射表面相对的第五和第六反射表面。第一驱动机构移动所述第一后向反射器和彼此相对的所述第二后向反射器与所述第三后向反射器的组。在沿在所述第一反射表面与所述第二反射表面之间的第一相交线的方向上，所述第二后向反射器与所述第三后向反射器彼此错位。
-
公开(公告)号：CN102655008B
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201210053724.3
申请日：2012-03-02
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G11B7/135 , G11B7/09 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/14 , G11B7/0045 , G11B7/126 , G11B7/1376 , G11B7/24038 , G11B7/2405
Abstract: 本发明提供一种能够快速地进行数据的记录再生的光学拾取头、信息记录方法及再生方法。上述光学拾取头包括光源、第一物镜、第二物镜、驱动部、第一控制部、第二控制部以及受光部。上述驱动部使上述第1物镜及上述第二物镜在相对于信息记录方向垂直、且面上上的第一方向及层压方向的第二方向上移动。上述第一控制部使偏离第一光点的目标轨道的位置沿着上述第一方向返回上述目标轨道。上述第二控制部在上述第二方向上控制第二光点位置的移动方向。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
21
records
(took 0.035 seconds)
