公开(公告)号：CN105556354B

公开(公告)日：2018-12-21

申请号：CN201480050094.1

申请日：2014-08-15

Applicant: 日本碍子株式会社

Inventor： 山口省一郎 ,  冈田直刚 ,  浅井圭一郎

IPC: G02B6/12 ,  G02F1/377

Abstract: 光学部件21A包括：具有接合面3b和进行了光学研磨的端面3d的光学元件1、以及形成于光学元件1的接合面且用于将光学元件接合于基板的金属膜。金属膜包括：覆盖接合面3b的除端面3d一侧的端部以外的区域的主覆盖部6、在端部内覆盖接合面的端部覆盖部7。在主覆盖部6与端部覆盖部7之间设置有未被金属膜覆盖的非覆盖部8。

公开(公告)号：CN105765803A

公开(公告)日：2016-07-13

申请号：CN201480063856.1

申请日：2014-11-18

Applicant: 日本碍子株式会社

Inventor： 近藤顺悟 ,  山口省一郎 ,  江尻哲也 ,  浅井圭一郎 ,  冈田直刚

IPC: H01S5/14 ,  G02B5/18

Abstract: 不使用珀耳帖元件就能够抑制跳模，提高波长稳定性，并抑制光强度变动。光栅元件1包含：支撑基板10，光学材料层11，其设置在支撑基板上、厚度为0.5μm～3.0μm，脊型光波导，其是在上述光学材料层上由一对脊型沟槽形成的，具有射入半导体激光的入射面和射出所需波长的出射光的出射面，布拉格光栅12，其由形成在光波导内的凹凸所构成；及传播部13，其设置在入射面和布拉格光栅之间。该光栅元件1满足式(1)～式(4)的关系:0.8nm≤ΔλG≤6.0nm···(1)：10μm≤Lb≤300μm···(2)：20nm≤td≤250nm···(3)：nb≥1.8···(4)。

公开(公告)号：CN105556354A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201480050094.1

申请日：2014-08-15

Applicant: 日本碍子株式会社

Inventor： 山口省一郎 ,  冈田直刚 ,  浅井圭一郎

IPC: G02B6/12 ,  G02F1/377

CPC classification number: G02F1/3775 ,  C04B37/006 ,  C04B2237/123 ,  C04B2237/125 ,  C04B2237/34 ,  C04B2237/592 ,  C04B2237/704 ,  C04B2237/72 ,  G02B6/00 ,  G02B6/12 ,  G02F1/3501 ,  G02F1/377 ,  G02F2001/3505

Abstract: 光学部件21A包括：具有接合面3b和进行了光学研磨的端面3d的光学元件1、以及形成于光学元件1的接合面且用于将光学元件接合于基板的金属膜。金属膜包括：覆盖接合面3b的除端面3d一侧的端部以外的区域的主覆盖部6、在端部内覆盖接合面的端部覆盖部7。在主覆盖部6与端部覆盖部7之间设置有未被金属膜覆盖的非覆盖部8。

公开(公告)号：CN1609555A

公开(公告)日：2005-04-27

申请号：CN200410076604.0

申请日：2004-08-19

Applicant: 日本碍子株式会社

Inventor： 大杉幸久 ,  冈田直刚 ,  石川诚司

IPC: G01C19/00 ,  G01N5/02

CPC classification number: G01N29/022 ,  G01G3/16 ,  G01N29/024 ,  G01N2291/0256 ,  G01N2291/0426 ,  G01N2291/0427

Abstract: 质量测量的装置1包括振子2，用于激发振子2中的基振的驱动装置3A、3B、3C和3D，用于探测振子2中的振动位移的探测装置4A和4B，和能够吸附探测物质的吸附薄膜5。质量是基于在质量未测时，从探测装置4A和4B获得的振动位移探测值和在该质量测量时从探测装置4A和4B获得的振动位移探测值之间的差值测得的。