透光性层叠体的检查方法及检查装置

    公开(公告)号:CN117836612A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202280057312.9

    申请日:2022-06-23

    Abstract: 提供一种能够检测与以往相比格外微小的异物的透光性层叠体的检查方法。本发明的实施方式的透光性层叠体的检查方法包含:在把持单片的透光性层叠体的四边而固定于半空中的状态下进行透射检查,以检测透光性层叠体中的缺陷。在一个实施方式中,检查方法还包含对透光性层叠体赋予张力。在一个实施方式中,检查方法是检测透光性层叠体中的8μm~50μm尺寸的缺陷。在一个实施方式中,透光性层叠体的厚度为300μm以下。

    单片光学膜的提起方法及其装置
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116018312A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202180056205.X

    申请日:2021-03-08

    Abstract: 一种利用吸附部(3)从具有层叠的多张单片光学膜(1)的堆积物(10)提起最上层的所述单片光学膜(1)的方法,具有如下提起工序:使所述吸附部(3)下降至最大程度下降位置而利用所述吸附部(3)吸附所述最上层的单片光学膜(1)的上表面,使吸附了所述单片光学膜(1)的所述吸附部(3)上升,从而从所述堆积物(10)分离所述最上层的单片光学膜(1),以使所述吸附部(3)的所述最大程度下降位置的定位精度成为±0.10mm的范围内的方式使所述吸附部(3)上下移动。

    光学薄膜的制造方法
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109839689B

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN201811448938.4

    申请日:2018-11-28

    Abstract: 本发明提供一种能够制造长度方向上的光轴的方向受到控制的光学薄膜的方法。在本发明的光学薄膜的制造方法中使用从输入侧朝向输出侧去依次设有把持区域、预热区域、拉伸区域以及冷却区域的拉幅装置。该制造方法包含:预热工序,在该预热工序中,在预热区域中对在把持区域中由把持件把持好的纵长状的树脂薄膜进行加热;拉伸工序,在该拉伸工序中,在拉伸区域中,使该把持件的在树脂薄膜的输送方向上和/或在与该输送方向正交的方向上的间隔变化,从而拉伸树脂薄膜;以及冷却工序,在该冷却工序中,在冷却区域中,对拉伸后的树脂薄膜进行冷却,拉幅装置构成为利用缩放机构使把持件的间隔变化,把持件的中立点被设定为位于拉伸区域以外的位置。

    偏光膜制造用的层叠体
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105700057B

    公开(公告)日:2020-12-29

    申请号:CN201510920758.1

    申请日:2015-12-11

    Abstract: 本发明提供一种偏光膜制造用的层叠体,具体为,可制造外观优异的偏光膜的层叠体。本发明的层叠体(10)具备长条状且含有聚乙烯醇系树脂的聚乙烯醇系树脂膜(12)和配置在聚乙烯醇系树脂膜(12)的单侧的树脂基材(11),并且形成有从一个面突出的滚花(13)。

    光学薄膜的制造方法
    18.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109839689A

    公开(公告)日:2019-06-04

    申请号:CN201811448938.4

    申请日:2018-11-28

    Abstract: 本发明提供一种能够制造长度方向上的光轴的方向受到控制的光学薄膜的方法。在本发明的光学薄膜的制造方法中使用从输入侧朝向输出侧去依次设有把持区域、预热区域、拉伸区域以及冷却区域的拉幅装置。该制造方法包含:预热工序,在该预热工序中,在预热区域中对在把持区域中由把持件把持好的纵长状的树脂薄膜进行加热;拉伸工序,在该拉伸工序中,在拉伸区域中,使该把持件的在树脂薄膜的输送方向上和/或在与该输送方向正交的方向上的间隔变化,从而拉伸树脂薄膜;以及冷却工序,在该冷却工序中,在冷却区域中,对拉伸后的树脂薄膜进行冷却,拉幅装置构成为利用缩放机构使把持件的间隔变化,把持件的中立点被设定为位于拉伸区域以外的位置。

    长条光学膜的检查方法
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118613717A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202280090324.1

    申请日:2022-11-21

    Abstract: 提供能够高精度且高效地检查长条光学膜的长条光学膜的检查方法。本发明中检查的长条光学膜(F)被预先标记了与长条光学膜中的缺陷(D)的位置信息建立了关联的第一标识(M)。在本发明的宏观检查工序(ST2)中,通过读取第一标识,取得缺陷的位置信息,将拍摄视场比长条光学膜的宽度窄第一拍摄机构(6)的拍摄视场(VF1)的位置控制成能够拍摄该缺陷,拍摄长条光学膜,由图像处理机构(8)确定缺陷的准确的位置信息。在本发明的微观检查工序(ST3)中,基于在宏观检查工序中确定的缺陷的准确的位置信息,将与第一拍摄机构相比拍摄视场窄且拍摄倍率高的第二拍摄机构的拍摄视场(VF2)的位置控制成能够拍摄缺陷,拍摄长条光学膜,由图像处理机构(8)取得缺陷的详细信息。

    光透射性积层体的检查方法
    20.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117795288A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202280055466.4

    申请日:2022-06-29

    Abstract: 本发明提供与以往相比可检测出格外微小的缺陷的光透射性积层体的检查方法。本发明的光透射性积层体的检查方法是具有第1主面与第2主面的单片光透射性积层体的检查方法,该检查方法包含以下步骤:以位移传感器检测该光透射性积层体的该第1主面的高度而获得位移数据;以光学系统扫描该光透射性积层体,并从由此所得的扫描图像制作缺陷的坐标图;以及基于该缺陷的坐标图来检测缺陷,该检查方法基于该位移数据,一边将获得该扫描图像时的该光学系统的焦点的高度位置与该第1主面的高度位置的距离维持固定,一边进行该光透射性积层体的扫描。

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