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公开(公告)号:CN102760449A
公开(公告)日:2012-10-31
申请号:CN201110109622.4
申请日:2011-04-29
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G11B5/455
Abstract: 本发明公开一种测试磁头耐高温性能的方法,所述磁头包括空气承载面及两屏蔽层,所述方法包括:以第一方向向所述磁头施加多个不同强度的第一磁场,并测量第一输出参数曲线;重复以第二方向施加不同强度的第二磁场,同时以第一方向施加变化的第一磁场,并测量多个第二输出参数曲线;以及判断所述第一输出参数曲线和所述第二输出参数曲线中是否存在超出容许值的变化,从而筛选出不良磁头,所述第一方向垂直于所述磁头的空气承载面,所述第二方向垂直于所述磁头的屏蔽层。本发明能够在不对磁头加热的情况下高精度地筛选出具有不佳的耐高温性能的不良磁头。
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公开(公告)号:CN1815560A
公开(公告)日:2006-08-09
申请号:CN200510130488.0
申请日:2005-12-13
Abstract: 提供了一种薄膜磁头,该薄膜磁头使由发热装置产生的热引起的头端面的伸出变得大到足以有效地将磁间距dMS设为较小值。该头包括:具有元件形成面和ABS的衬底,在元件形成面上形成至少一个凹部;在元件形成面上方或在元件形成面上形成的至少一个磁头元件;嵌入至少一个凹部中的至少一个热膨胀层;以及位于至少一个热膨胀层正上方的至少一个发热装置。
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公开(公告)号:CN107808675B
公开(公告)日:2021-04-30
申请号:CN201610814757.3
申请日:2016-09-09
Applicant: 新科实业有限公司
Abstract: 本专利申请公开了一种磁头滑块的加工测试方法、加工测试监控装置及加工设备,所述磁头滑块的加工测试方法包括:提供至少一个应力传感器于晶圆中,以及提供控制装置与所述应力传感器连接;利用加工装置将所述晶圆加工成磁头滑块,所述控制装置在磁头滑块加工过程中监控所述应力传感器的性能参数以确定当前加工参数是否合适,并在当前加工参数不合规格时,向所述加工装置发出调整信号,所述加工装置根据所述调整信号调整加工参数。本专利申请可以实时监控磁头滑块的加工测试,从而更有效方便地对磁头滑块进行加工测试。
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公开(公告)号:CN102779529B
公开(公告)日:2016-08-03
申请号:CN201110123074.0
申请日:2011-05-12
Applicant: 新科实业有限公司
Abstract: 本发明公开了一种读头传感器,其包括第一屏蔽层、第二屏蔽层、形成于所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层之间的读元件以及一对分别放置于所述读元件两边的永磁层;其中,还包括形成于所述读元件之侧的磁场产生装置,所述磁场产生装置用于向所述读元件提供垂直于所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层的磁场,从而稳定所述读头传感器的读取性能。本发明的读头传感器能稳定读取性能、改善不稳定的缺陷读元件,并减少浪费和降低制造成本。本发明还公开了一种磁头、磁头折片组合及磁盘驱动器。
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公开(公告)号:CN102456356B
公开(公告)日:2015-09-30
申请号:CN201010539422.8
申请日:2010-10-26
CPC classification number: G11B5/3912 , B82Y10/00 , B82Y25/00 , G11B5/3909 , G11B2005/3996
Abstract: 本发明公开了一种磁阻传感器,该磁阻传感器包括第一屏蔽层,第二屏蔽层,形成于所述第一屏蔽层与所述第二屏蔽层之间的磁阻元件及一对硬磁层,所述硬磁层分别置于所述磁阻元件的两边,以及非磁绝缘层,所述非磁绝缘层形成于所述磁阻元件的远离磁头的空气承载面的一侧;其中还包括形成于所述第一屏蔽层与所述磁阻元件之间的第一非磁传导层,所述第一非磁传导层嵌入所述第一屏蔽层之中,并与空气承载面相分离。本发明的磁阻传感器具有较窄的读间隙,从而增强分辨能力并提高读性能;同时,其具有强的纵向偏压磁场,从而保持自身稳定性,增加总的感应面积,进而提高传感器的可靠性。
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公开(公告)号:CN102779529A
公开(公告)日:2012-11-14
申请号:CN201110123074.0
申请日:2011-05-12
Applicant: 新科实业有限公司
Abstract: 本发明公开了一种读头传感器,其包括第一屏蔽层、第二屏蔽层、形成于所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层之间的读元件以及一对分别放置于所述读元件两边的永磁层;其中,还包括形成于所述读元件之侧的磁场产生装置,所述磁场产生装置用于向所述读元件提供垂直于所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层的磁场,从而稳定所述读头传感器的读取性能。本发明的读头传感器能稳定读取性能、改善不稳定的缺陷读元件,并减少浪费和降低制造成本。本发明还公开了一种磁头、磁头折片组合及磁盘驱动器。
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公开(公告)号:CN100373454C
公开(公告)日:2008-03-05
申请号:CN200510130488.0
申请日:2005-12-13
Abstract: 提供了一种薄膜磁头,该薄膜磁头使由发热装置产生的热引起的头端面的伸出变得大到足以有效地将磁间距dMS设为较小值。该头包括:具有元件形成面和ABS的衬底,在元件形成面上形成至少一个凹部;在元件形成面上方或在元件形成面上形成的至少一个磁头元件;嵌入至少一个凹部中的至少一个热膨胀层;以及位于至少一个热膨胀层正上方的至少一个发热装置。
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公开(公告)号:CN103093763B
公开(公告)日:2017-07-07
申请号:CN201110344950.2
申请日:2011-11-04
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G11B5/455
Abstract: 本发明公开一种磁头的测量方法,包括:(a)将所述磁头放置于正常位置,定义第一方向和第二方向,第一方向平行于磁头的空气承载面和两屏蔽层,第二方向垂直于空气承载面;(b)倾斜磁头以使其与第二方向成一角度,以第一方向向磁头施加多个不同强度的第一磁场,并测量出第一输出参数曲线;(c)以不同角度重复步骤(b),并测量出多个第一输出参数曲线;(d)根据多个第一输出参数曲线计算磁头的被钉扎层的被钉扎方向从第二方向倾斜的多个被钉扎方向倾斜率;以及(e)根据多个被钉扎方向倾斜率计算被钉扎层从第二方向倾斜的被钉扎方向倾斜角。本发明有利于磁头制造商掌握磁头的性能。
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公开(公告)号:CN102760448B
公开(公告)日:2016-08-10
申请号:CN201110109610.1
申请日:2011-04-29
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G11B5/455
Abstract: 本发明公开一种测试磁头耐高温性能的方法,所述磁头包括空气承载面及两屏蔽层,所述方法包括:以第一方向向所述磁头施加多个不同强度的第一磁场,并测量第一输出参数曲线;以第二方向向所述磁头施加多个不同强度的第二磁场,并测量第二输出参数曲线;以及判断所述第一输出参数曲线和所述第二输出参数曲线中是否存在超出容许值的变化,从而筛选出不良磁头,其中,所述第一方向垂直于所述磁头的空气承载面,所述第二方向与所述空气承载面成一角度地穿过所述空气承载面,所述角度的绝对值为锐角。本发明能够在不对磁头加热的情况下高精度地筛选出具有不佳的耐高温性能的不良磁头。
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