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公开(公告)号：CN105492929B
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201480048230.3
申请日：2014-08-04
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明的目的在于提供一种放射线检测装置、放射剂量测量处理方法、以及放射剂量测量处理程序，即使利用受光面积较小且光检测灵敏度较低的简易受光元件也能提高光检测灵敏度，从而能提高放射线检测灵敏度。为此，采用如下结构，具备：放射线检测部(2)，该放射线检测部(2)根据所入射的放射线(R)的能量生成放射线检测信号；随机共振部(7)，该随机共振部(7)使放射线检测部(2)所生成的放射线检测信号产生随机共振现象来对所述放射线检测信号进行波形恢复，并输出由此获得的波形恢复信号；以及运算部(8)，该运算部(8)基于随机共振部(7)所生成的波形恢复信号测量放射剂量。
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公开(公告)号：CN106525673A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610592004.2
申请日：2016-07-26
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: H01J49/0463 , G01N15/00 , G01N33/0004 , G01N33/0006 , G01N33/0016 , G01N33/0026 , G01N33/007 , G01N33/0073 , G01N2015/0046 , G01N2033/0019 , G01N2033/0072 , H01J49/0422 , G01N15/06 , G01N1/44 , G01N5/00
Abstract: 虽然希望对作为测定对象的气体试料中包含的微粒子的组成和浓度进行测定，但存在由于分析装置的例如捕捉微粒子的捕捉体上吸附的气体试料以外的物质的影响而无法准确测定的问题。本发明的微粒子组成分析装置对气体试料中包含的微粒子的组成进行分析，包括：气体分析器；以及将试料气体和比较气体依次导入气体分析器的控制部，该试料气体是由于对气体试料照射激光而生成的微粒子而产生的。
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公开(公告)号：CN117203515A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202280030572.7
申请日：2022-04-05
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N21/33
Abstract: 本发明提供一种气体分析仪，该气体分析仪对样品气体中含有的测定对象成分的浓度进行测定，包括：光源部，其射出含有所述测定对象成分的吸收波长的光；单元，其在密封了所述样品气体的空间中容纳一个以上用于反射所述光的反射镜；受光元件，其用于获取通过了所述单元的所述光的辐射光谱；陷波滤光片，其配置在从所述光源部到所述受光元件的任意光路中，并且具有用于减小所述光源部所射出的所述光的辐射光谱中的任意峰的强度的限制频带；以及处理部，其处理所述受光元件的受光信号，并测定所述测定对象成分的浓度。
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公开(公告)号：CN106353239A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610405269.7
申请日：2016-06-08
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 提供一种不失去单一粒子中的散射光与白炽光的同一性、并且不会过大评价粒子数的粒子检测装置。构成本发明的粒子检测装置的信号处理部(105)的特征在于，具有：第一峰值保持电路强度的峰值；第二峰值保持电路(4)，其保持从白炽光检测部(2)获取到的白炽光强度的峰值；以及阈值比较电路(7)，其将来自第一峰值保持电路的信号值与阈值进行比较，在信号值超过阈值时向第二峰值保持电路发送复位信号。(3)，其保持从散射光检测部(1)获取到的散射光
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公开(公告)号：CN105492929A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201480048230.3
申请日：2014-08-04
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明的目的在于提供一种放射线检测装置、放射剂量测量处理方法、以及放射剂量测量处理程序，即使利用受光面积较小且光检测灵敏度较低的简易受光元件也能提高光检测灵敏度，从而能提高放射线检测灵敏度。为此，采用如下结构，具备：放射线检测部(2)，该放射线检测部(2)根据所入射的放射线(R)的能量生成放射线检测信号；随机共振部(7)，该随机共振部(7)使放射线检测部(2)所生成的放射线检测信号产生随机共振现象来对所述放射线检测信号进行波形恢复，并输出由此获得的波形恢复信号；以及运算部(8)，该运算部(8)基于随机共振部(7)所生成的波形恢复信号测量放射剂量。
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公开(公告)号：CN104736995A
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：CN201380051775.5
申请日：2013-10-17
Applicant: 富士电机株式会社 , 国立大学法人东京大学
CPC classification number: G01N15/0211 , G01N15/0255 , G01N21/4788 , G01N2015/0216 , H01J49/04
Abstract: 本发明提供一种能够形成粒子束，并对形成的粒子束的空间分布进行评价且控制的粒子束形成装置。一种粒子束形成装置，其从粒子分散于气体的粒子源形成线状或者圆锥状的粒子束，其具有减压容器(12)、粒子束生成装置(3)及粒子束评价装置，其中，所述减压容器(12)的内部被减压；所述粒子束生成装置(3)的一端配置在减压容器(12)外，另一端配置在减压容器(12)内，获取减压容器(12)外的粒子源(2)，将粒子束导入减压容器(12)内；所述粒子束评价装置对减压容器(12)内的粒子束的空间分布进行评价。优选地，该粒子束评价装置具备光照射装置、散射光检测装置(14)及信号处理装置(15)，其中，所述光照射装置对粒子束照射光；所述散射光检测装置(14)检测向粒子束照射的光与粒子接触而产生的散射光；所述信号处理装置(15)对散射光检测装置(14)输出的与该散射光的强度及/或频率相对应的信号进行记录并处理。
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公开(公告)号：CN106353239B
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201610405269.7
申请日：2016-06-08
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 提供一种不失去单一粒子中的散射光与白炽光的同一性、并且不会过大评价粒子数的粒子检测装置。构成本发明的粒子检测装置的信号处理部(105)的特征在于，具有：第一峰值保持电路(3)，其保持从散射光检测部(1)获取到的散射光强度的峰值；第二峰值保持电路(4)，其保持从白炽光检测部(2)获取到的白炽光强度的峰值；以及阈值比较电路(7)，其将来自第一峰值保持电路的信号值与阈值进行比较，在信号值超过阈值时向第二峰值保持电路发送复位信号。
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公开(公告)号：CN107340209A
公开(公告)日：2017-11-10
申请号：CN201710281182.8
申请日：2017-04-26
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N15/06
CPC classification number: G01N33/0036 , G01N1/2202 , G01N33/0042 , G01N2001/2223 , G01N2015/0046 , G01N15/06 , G01N15/0656 , G01N2015/0693
Abstract: 分析以气体形态排出的对象成分的产生源。提供一种产生源分析装置，其包含获取含对象成分的气体的浓度测定值和与气体关联而产生的粒子成分的浓度测定值的获取部以及根据气体的浓度测定值与粒子成分的浓度测定值来分析从测定地点到对象成分产生源的距离的分析部。获取部可获取生成粒子成分的原料即前驱气体的浓度测定值与由前驱气体产生的二次生成粒子成分的浓度测定值。
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