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公开(公告)号:CN109119418A
公开(公告)日:2019-01-01
申请号:CN201810410764.6
申请日:2018-05-02
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: H01L27/04 , G01R31/26 , H01L21/822
CPC classification number: G01R31/2621 , G01R31/2884 , G05F1/59 , H03K17/6871 , H01L21/822 , G01R31/2601 , H01L27/04
Abstract: 提供一种不需要设置附加电路、并且不另外设置栅极筛查端子就能够进行栅极筛查试验的半导体集成装置及其栅极筛查试验方法。具备:栅极驱动部(12),其对电压控制型半导体元件(Q2)的栅极进行驱动;以及调节器(13),其向该栅极驱动部提供栅极驱动电压,具备外部连接端子(tc),在栅极筛查试验时,能够对该外部连接端子(tc)施加针对所述电压控制型半导体元件的栅极筛查用电压。
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公开(公告)号:CN110739941A
公开(公告)日:2020-01-31
申请号:CN201910455385.3
申请日:2019-05-29
Applicant: 富士电机株式会社
Inventor: 佐佐木雅浩
IPC: H03K17/08 , H03K17/567 , H01L27/00
Abstract: 本发明提供一种半导体装置,能够在过渡时,没有短路电流的检测延迟,并抑制向感测IGBT的电流集中。IGBT(10)在主IGBT(11)的栅极端子和发射极端子设置将分压电阻器(Rdiv1、Rdiv2)串联连接而构成的分压电路,将两个分压电阻器的连接点连接到感测IGBT(12)的栅极端子。分压电路对施加到主IGBT的栅极端子的电压进行分压以使得在施加到主IGBT的栅极端子的电压与主IGBT的阈值电压相等时,成为感测IGBT的阈值电压。如果IGBT(10)的栅极端子(G)被施加使其导通的栅极信号,则主IGBT和感测IGBT的电流同时上升,由此没有短路电流的检测延迟,向感测IGBT的电流集中受到抑制。
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