公开(公告)号：CN105896982A

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201610317263.4

申请日：2016-05-12

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 段建东 ,  肖倩 ,  凡绍桂 ,  张东 ,  孙力

IPC: H02M3/158 ,  H02M1/14

CPC classification number: H02M3/1584 ,  H02M1/14 ,  H02M2003/1586

Abstract: 一种BUCK倍频电路，涉及大功率直流降压技术领域。本发明是为了解决现有的大功率直流降压电路开关管开关频率低，导致电感比较大，大电流时电感体积就会很大，并且电感上电流纹波比较大，导致产生人耳听觉范围内不可忍受的噪声的问题。本发明n个IGBT开关管Gn并联为开关管组，直流电源的正极连接开关管组的正极，开关管组的负极同时连接滤波电感L的一端和续流二极管D的负极，续流二极管D的正极同时连接直流电源DC的负极、滤波电容C的负极和电阻R的一端，滤波电容C的正极同时连接滤波电感L的另一端和电阻R的另一端。它用在大容量蓄电池组、锂电池组以及超级电容组充电领域。

公开(公告)号：CN114912265B

公开(公告)日：2022-11-01

申请号：CN202210489673.2

申请日：2022-05-06

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  胡义凡 ,  蒋威钧 ,  郑博恺 ,  王梓丞 ,  张东 ,  翟国富

IPC: G06F30/20 ,  G06F111/08 ,  G06F119/02 ,  G06F119/04 ,  G06F119/08 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明公开了一种定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器可靠性建模方法，所述方法包括如下步骤：一：建立温度应力作用下，薄膜老化过程模型；二：建立金属化薄膜电容器随机自愈过程模型；三：建立定量结合多退化机理的退化模型；四：根据金属化薄膜电容器的实际使用需求，给定容值的失效阈值D，推导得到定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器的可靠性模型；五：利用极大似然估计得到未知参数的估计值；将各未知参数估计值代入可靠性模型中，即可实现金属化薄膜电容器的可靠性建模与评估。本发明解决了在金属化薄膜电容器可靠性建模与评估的相关研究中，未曾定量结合多退化机理，进而导致其可靠性建模与评估结果缺乏准确性的问题。

公开(公告)号：CN114792053B

公开(公告)日：2022-10-11

申请号：CN202210459927.6

申请日：2022-04-24

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 陈岑 ,  郑博恺 ,  张东 ,  杜俊亮 ,  叶雪荣 ,  翟国富

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02

Abstract: 一种基于初值‑速率相关退化模型的可靠性评估方法，涉及一种可靠性评估方法。对电子元器件产品开展退化试验，采集退化数据；针对产品的特征参数建立考虑初值与退化速率相关性的退化模型；建立退化模型对应的对数似然函数，确定退化模型中的时间尺度函数形式，并利用极大似然方法估计退化模型中的待定参数；将待定参数估计值代入可靠度函数解析式，得到可靠度函数实现对产品的可靠性评估。将性能参数初值与退化速率的相关性引入电子元器件产品的可靠性评估当中，能够有效提高评估结果的准确度。

公开(公告)号：CN114912265A

公开(公告)日：2022-08-16

申请号：CN202210489673.2

申请日：2022-05-06

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  胡义凡 ,  蒋威钧 ,  郑博恺 ,  王梓丞 ,  张东 ,  翟国富

IPC: G06F30/20 ,  G06F111/08 ,  G06F119/02 ,  G06F119/04 ,  G06F119/08 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明公开了一种定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器可靠性建模方法，所述方法包括如下步骤：一：建立温度应力作用下，薄膜老化过程模型；二：建立金属化薄膜电容器随机自愈过程模型；三：建立定量结合多退化机理的的退化模型；四：根据金属化薄膜电容器的实际使用需求，给定容值的失效阈值D，推导得到定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器的可靠性模型；五：利用极大似然估计得到未知参数的估计值；将各未知参数估计值代入可靠性模型中，即可实现金属化薄膜电容器的可靠性建模与评估。本发明解决了在金属化薄膜电容器可靠性建模与评估的相关研究中，未曾定量结合多退化机理，进而导致其可靠性建模与评估结果缺乏准确性的问题。