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公开(公告)号：CN103258755A
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN201310140009.8
申请日：2013-04-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 倒装焊芯片焊点缺陷背视测温检测法，涉及一种芯片焊点缺陷的检测方法。针对现有检测技术无法满足生产实际需求的缺陷，本发明按照如下方法检测倒装焊芯片焊点缺陷：在倒装芯片的基底一侧分别设置有热像仪和红外激光器，将红外激光束对准倒装芯片基底待测焊盘，调整好功率和脉宽参数，对之施以热激励，热像仪实时检测基底待测焊盘处温升过程，同时观察和拍摄温升最高点的热图像，根据温升曲线、热像图判断倒装焊芯片的焊点缺陷。本发明的倒装焊芯片焊点虚焊检测法采用逐点检测的方法，具有无损、缺陷高辨识率、判别直观简单的特点。此外，适用工艺范围广，本方法可同样适用于芯片侧植球时缺陷检测和三维组装时基底侧面植球焊点缺陷检测。
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