一种基于太赫兹光谱技术的热障涂层中CMAS的检测方法

    公开(公告)号:CN110455739A

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201910771456.0

    申请日:2019-08-19

    Abstract: 本发明提供一种基于太赫兹光谱技术的热障涂层中CMAS的检测方法,包括:制备一组未受CMAS腐蚀的和N组受CMAS腐蚀程度不同的热障涂层试样,N至少为2且N为正整数;选取其中一组热障涂层试样进行太赫兹光谱测试;计算热障涂层试样在太赫兹频段的光学特征参数;对其余热障涂层试样重复上述步骤,分析未受CMAS腐蚀的和受CMAS腐蚀程度不同的热障涂层试样在太赫兹频段的光学特征参数的变化规律;对待测样品重复上述步骤,并根据变化规律判断待测样品是否受CMAS腐蚀及腐蚀程度。本发明可以实现对热障涂层中CMAS的高效无损检测,具有不破坏和污染样品,数据处理过程简便,检测结果精度高及检测过程无辐射对人体安全等优点。

    一种防护涂层的真空热循环方法

    公开(公告)号:CN115109897A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202210547467.2

    申请日:2022-05-19

    Abstract: 本发明涉及一种防护涂层的真空热循环方法,其以电子束为热源,防护涂层覆盖在基材上形成测试试样,通过金属罩罩在测试试样上来提供真空测试环境,电子束加热金属罩间接地使测试试样升温以对测试试样进行反复加热进行热循环测试。根据本发明的防护涂层的真空热循环方法,适用于碳基材料等易氧化材料的表面涂层的热循环考核,在高导热的防护罩的保护下,利用高能量密度的真空电子束间接加热试样,对防护涂层进行考核和温度标定,从而测试防护涂层的热循环寿命及结构完整性。

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