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公开(公告)号:CN107590350B
公开(公告)日:2020-10-13
申请号:CN201710938167.6
申请日:2017-10-11
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G06F30/23 , G06F111/10 , G06F119/14
Abstract: 本发明涉及一种基于田口设计的高密度键合丝冲击触碰风险评估方法,包含以下步骤:步骤一:键合丝偏转位移影响因素分析;步骤二:确定建模参数;步骤三:键合丝结构仿真建模;步骤四:结构模型简化;步骤五:冲击振动仿真分析;步骤六:利用田口分析确定影响因素的重要度排序;步骤七:触碰风险分析;步骤八:键合丝设计改进。本发明基于田口设计的理论,从高密度封装集成电路实际使用中可能存在的跌落等冲击条件,导致键合丝横向偏转而发生触碰短路的问题入手,通过仿真和田口分析对影响因素重要度进行排序,并建立键合丝触碰风险系数模型,评估键合丝发生触碰的风险。此方法属于高密度封装集成电路可靠性风险评估技术领域。
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公开(公告)号:CN110134988A
公开(公告)日:2019-08-16
申请号:CN201910258258.4
申请日:2019-04-01
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种基于失效物理的器件级产品多应力强化试验剖面确定方法,包括以下步骤:步骤1:结合失效案例采用元器件FMEA的方法确定产品薄弱环节,并结合专家打分法确定应力类型;步骤2:参考强化试验规范,确定器件级产品各试验应力剖面的参数及其取值水平;步骤3:利用正交试验方法,确定器件级产品强化试验应力剖面的多参数、多水平正交试验表;步骤4:利用失效物理方法,计算器件级产品不同组试验剖面条件下的损伤率;步骤5:对比不同试验剖面条件下的损伤率,确定最优的器件级产品多应力强化试验剖面。本发明涉及一种基于失效物理的器件级产品多应力强化试验剖面确定方法,主要基于失效物理方法评价方法,进行试验类型的选择和试验剖面参数量值的确定,有效发现产品的薄弱环节,属于元器件可靠性试验技术领域。
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公开(公告)号:CN107590350A
公开(公告)日:2018-01-16
申请号:CN201710938167.6
申请日:2017-10-11
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种基于田口设计的高密度键合丝冲击触碰风险评估方法,包含以下步骤:步骤一:键合丝偏转位移影响因素分析;步骤二:确定建模参数;步骤三:键合丝结构仿真建模;步骤四:结构模型简化;步骤五:冲击振动仿真分析;步骤六:利用田口分析确定影响因素的重要度排序;步骤七:触碰风险分析;步骤八:键合丝设计改进。本发明基于田口设计的理论,从高密度封装集成电路实际使用中可能存在的跌落等冲击条件,导致键合丝横向偏转而发生触碰短路的问题入手,通过仿真和田口分析对影响因素重要度进行排序,并建立键合丝触碰风险系数模型,评估键合丝发生触碰的风险。此方法属于高密度封装集成电路可靠性风险评估技术领域。
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公开(公告)号:CN102610278B
公开(公告)日:2014-11-05
申请号:CN201210034458.X
申请日:2012-02-14
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G11C29/08
Abstract: 一种固态自毁硬盘功能验证及数据残留检测方法,它有七大步骤:步骤一:分析固态自毁硬盘功能及结构,确定FLASH存储器的型号和数目、升压电路输出的高压具体值、继电器阵列信息;步骤二:写入特征“检测指纹”;步骤三:软自毁控制功能验证;步骤四:软自毁后“检测指纹”数据恢复;步骤五:软自毁数据残留特性检测;步骤六:硬自毁控制功能验证;步骤七:硬自毁数据残留特性检测。本发明针对自毁硬盘控制器和固态硬盘的原理和功能,提出了对硬盘自毁控制器进行自毁功能符合性验证和固态硬盘数据残留特性检测相结合的完整验证方法。该方法执行容易,检测效果好,在航空航天等保密性领域里有实用价值和广阔的应用前景。
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公开(公告)号:CN102180272B
公开(公告)日:2013-11-13
申请号:CN201110093803.2
申请日:2011-04-14
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: B64G7/00
Abstract: 宇航用元器件热环境适应性评价方法,步骤如下:1:确定是否必须进行试验评价:根据元器件类别和应用要求等级确定是否必须进行热环境适应性验证试验;2:确定试验项目:对元器件的热敏感要素进行分析,综合分析后确定试验项目;3:确定试验应力水平:分析元器件在具体应用中所处的热环境应力水平,在此基础上确定试验应力水平;4:元器件热环境应用验证试验的实施;5:试验结果评价:根据确定的评价判据判断元器件在具体宇航产品中的适用性。本方法的优点有:评估试验更具合理性与针对性,可操作性强。
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公开(公告)号:CN102646146A
公开(公告)日:2012-08-22
申请号:CN201210122606.3
申请日:2012-04-24
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种基于田口方法的散热器优化设计方法,该方法有六大步骤:步骤一:选择可控因素和噪声因素;步骤二:设计实验方案;步骤三:进行实验;步骤四:实验结果分析;步骤五:对实验结果实施田口预测法;步骤六:实验最终确认最优设计。本发明采用仿真与田口参数设计相结合的方法,通过对散热器的相关参数进行实验设计,然后借助仿真手段对散热效果(功率器件壳温)以及散热器质量进行模拟,通过对仿真结果的分析从而优化散热器参数,寻求散热器参数的最优组合。它在航空电子产品可靠性工程技术领域里具有实用价值。
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公开(公告)号:CN117452183A
公开(公告)日:2024-01-26
申请号:CN202311395014.3
申请日:2023-10-26
Applicant: 北京航空航天大学
Abstract: 一种基于随机数抽样与双针测试的人体模型静电放电测试引脚分组方法包括如下步骤:步骤1:伪随机数生成器的确定;步骤2:生成伪随机数的代码实现;步骤3:区分待测器件芯片引脚类型;步骤4:随机数版电源(地)引脚‑电源(地)引脚对表格的建立;步骤5:伪随机数映射到芯片电源(地)引脚端序号的过程实现;步骤6:随机数版电源(地)引脚‑非电源(地)引脚对、非电源(地)引脚‑非电源(地)引脚对表格的建立;步骤7:伪随机数映射到芯片非电源(地)引脚端序号的过程实现;步骤8:特殊情况的处理;步骤9:芯片引脚对表格的确定。该方法可避免过应力导致引脚存在累积损伤,影响试验结果,同时降低了试验时间。
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公开(公告)号:CN109871655B
公开(公告)日:2021-09-14
申请号:CN201910208200.9
申请日:2019-03-19
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明涉及一种基于模糊等级评价的器件级产品试验应力确定方法,包括以下步骤:步骤一:结合失效案例分析,确定器件级产品的备择集与模糊因素;步骤二:量化定性评价结果,建立器件级产品的模糊评价等级;步骤三:统计专家评价结果,建立器件级产品的隶属度评价矩阵;步骤四:结合模糊因素等级权重,计算器件级产品的一级模糊矩阵;步骤五:结合模糊因素权重,计算器件级产品的二级模糊矩阵,获取器件级产品试验应力敏感性模糊评价结果;步骤六:基于敏感性模糊评价判据,建立器件级产品试验应力选取评价流程,确定器件级产品的试验应力类型。本发明涉及一种器件级产品的多应力强化试验试验应力确定方法,主要基于模糊等级评价方法,进行器件级产品多应力强化试验,试验类型的选择及试验应力的确定,属于元器件可靠性试验技术领域。
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公开(公告)号:CN108509754B
公开(公告)日:2021-08-31
申请号:CN201810463170.1
申请日:2018-05-15
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G06F30/23 , G06F30/398 , G06F111/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明涉及一种高密度封装集成电路键合丝触碰风险评估方法,包括以下步骤:步骤一:高密度封装键合丝参数提取;步骤二:机械冲击下高密度封装键合丝仿真分析;步骤三:键合丝振动分析;步骤四:初始振幅预测模型;步骤五:振动频率预测模型;步骤六:阻尼系数计算;步骤七:键合丝临界间距计算方法;步骤八:基于蒙特卡洛的键合丝触碰临界间距分布分析;步骤九:基于Logit模型的键合丝触碰风险评估。本方法基于仿真数据和多元回归算法建立的初始振幅与振动频率的预测模型和试验数据计算的阻尼系数,通过振动波形叠加的方法得到相邻键合丝发生瞬时触碰的临界间距,并基于蒙特卡洛方法和Logit模型,通过键合丝的实际间距和临界间距的比较,建立相邻键合丝在机械冲击条件下瞬时触碰风险评估方法。此方法属于高密度封装集成电路键合丝可靠性评价技术领域。
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公开(公告)号:CN110298126A
公开(公告)日:2019-10-01
申请号:CN201910597236.0
申请日:2019-07-04
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种基于失效物理的多元Copula功率器件可靠性评价方法,包括以下步骤:步骤一:功率器件信息收集,确定实际工况,内部结构和存在的失效机理;步骤二:失效物理模型应用及模型参数随机化,确定各结构寿命的边缘分布;步骤三:功率器件可靠性评估,对比蒙特卡洛竞争失效方法;它基于失效物理的理论,从功率器件在实际工况下存在的失效机理和失效物理模型入手,利用仿真来获取模型中缺失的参数,应用多元阿基米德Copula推导多失效机理下功率器件的可靠度表达式。通过对比蒙特卡洛-竞争失效可靠性评价方法,证明多元Copula模型能够考虑各机理间的交叉影响因素,属于元器件可靠性评价技术领域。
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