一种考虑变形误差的接触关系模型和装配误差计算方法

    公开(公告)号:CN109766511B

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN201811481705.4

    申请日:2018-12-05

    Abstract: 本发明公开一种考虑变形误差的接触关系模型和装配误差计算方法,包括以下步骤:步骤一、获得两个待装配面的几何形貌的参数化表征;步骤二、根据两个待装配面的几何形貌计算待装配面在未变形情况下的初始接触点;步骤三、根据初始接触点建立两个待装配面之间的受力平衡模型,变形与受力关系模型以及变形后的几何关系模型;步骤四、求解受力平衡模型、变形与受力关系模型以及变形后的几何关系模型得到装配位姿和装配后的几何误差以及变形误差,能够综合考虑装配面的几何误差和变形误差,计算得到最终的装配误差。

    一种轴孔配合间隙测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN106441133A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201610781612.8

    申请日:2016-08-30

    CPC classification number: G01B11/14

    Abstract: 本发明公开了一种基于光学测微仪的轴孔配合间隙测量装置及其测量方法,实现了轴和孔在装配过程中的实时测量。装置具体为:一号基座、二号基座和三轴位移台顺次安装在实验底板上;轴套套在待测轴上,轴套通过待测轴安装支座固定安装在二号基座,使得待测轴平行于实验底板,待测轴一端朝向一号基座伸出、另一端朝向三轴位移台伸出。力传感器通过传感器安装组件安装在一号基座上,并在传感器安装组件的控制下做上下直线运动,待测轴朝向一号基座伸出部分位于力传感器的直线运动路径下方。光学测微仪安装在三轴位移台上,通过三轴位移台的调整,使得待测轴朝向三轴位移台伸出部分位于光学测微仪的测量区域中。

Patent Agency Ranking