一种使用太赫兹脉冲测量材料参数和材料厚度的方法

    公开(公告)号:CN106841095A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201710005046.6

    申请日:2017-01-04

    CPC classification number: G01N21/3586 G01B11/06

    Abstract: 本发明公开了一种使用太赫兹脉冲测量材料参数和材料厚度的方法。该方法包括:测量得到参考信号和样品信号;从样品信号中提取第p次回波信号并获取对应的透射系数的实验值;测量得到样品厚度L的测量值;建立主峰/回波透射模型;计算第p次回波对应的透射系数计算值;计算第一材料电磁参数和第二材料电磁参数;计算材料参数总差值函数;如材料参数总差值函数满足预设条件,则将材料参数总差值函数所对应的样品厚度作为样品精确厚度,得到对应于样品厚度L的主峰对应的透射系数的计算值;计算得到对应的样品复折射率的实部和虚部。通过使用上述方法,可精确地确定光学厚样品的材料参数,还可同时测量太赫兹脉冲段的材料参数和厚度。

    一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器和隔离性能测试系统

    公开(公告)号:CN115939753B

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202211538688.X

    申请日:2022-12-01

    Abstract: 本发明涉及隔离器技术领域,特别涉及一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器和隔离性能测试系统。本发明实施例提供了一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器,包括闭环超材料和偏振器;闭环超材料包括多个周期单元,周期单元沿互相垂直的相邻单元边缘所在的两个方向周期排列形成超材料;周期单元为包括两个正方形面的长方体,沿厚度方向依次包括第一介质层、第二介质层和第三介质层,第二介质层和第三介质层朝向第一介质层的面均设置有闭环金属层;偏振器用于透射偏振方向与线栅的线垂直的偏振光,反射偏振方向与线栅的线平行的偏振光。本发明实施例提供了一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器和其对太赫兹波隔离性能的测试系统,能够提供一种隔离太赫兹电磁波的隔离器。

    遮蔽环境下的目标识别方法及装置

    公开(公告)号:CN119689431A

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202411883030.1

    申请日:2024-12-19

    Abstract: 本发明公开了一种遮蔽环境下的目标识别方法及装置,属于目标识别技术领域。方法包括:基于所述成像系统,采用单点照射、单点探测方式对遮蔽环境下的目标区域进行探测成像,得到目标区域图像;对目标区域图像进行背景对消,得到目标图像;将所述目标图像与标准库内的标准图像逐一比对,以根据比对结果确定被遮蔽目标的类型;所述标准库中包括多个类型的车辆标准图像;其中,成像系统利用激光脉冲对目标区域进行照射,较窄的激光脉冲能够穿透树林植被等遮蔽物,获取被遮蔽目标的相关信息,使得得到的目标区域图像中能够充分表达被遮蔽目标的信息,为图像处理和比对提供数据支撑,提高了目标识别的准确性。

    目标太赫兹时域回波处理方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN113960555B

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202111224460.9

    申请日:2021-10-19

    Abstract: 本发明提供了一种目标太赫兹时域回波处理方法、装置、设备及存储介质,其中方法包括:获取定标体的参考回波,以及获取待处理的目标回波;确定所述参考回波中的主脉冲峰;根据所述主脉冲峰识别所述目标回波中包含的各脉冲峰是否为真实脉冲峰;根据识别结果得到处理后的目标回波。本方案,能够利用参考回波中的主脉冲峰,自动识别出目标回波中的各脉冲峰是否为真实脉冲峰,由于该识别过程为自动识别过程,无需人为参与,因此可以提高识别效率和准确率。

    一种长焦距太赫兹时域光谱紧缩场测量系统

    公开(公告)号:CN117516711A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311401666.3

    申请日:2023-10-26

    Abstract: 本发明涉及一种长焦距太赫兹时域光谱紧缩场测量系统,涉及光学设备领域,一种长焦距太赫兹时域光谱紧缩场测量系统,包括产生路和探测路,产生路通过发射天线产生太赫兹波,并经由第一抛物面镜和第二抛物面镜、反射镜和第三抛物面镜组成紧缩场光路;探测路通过接收天线接收激光产生载流子,载流子接收太赫兹波产生电流,检测电流以检测太赫兹波,在第二抛物面镜和反射镜之间装有第一透镜以使光线聚为点,在第三抛物面镜和接收天线之间装有第二透镜以聚焦波束进入接收天线内,本发明具有解决长焦距反射镜不易聚焦带来的静区调节等系统性技术难题的优点。

    图像增强的云雾遮蔽目标反演成像方法及装置

    公开(公告)号:CN116466410A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310299432.6

    申请日:2023-03-24

    Abstract: 本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及图像增强的云雾遮蔽目标反演成像方法及装置,其中方法包括:获取云雾遮蔽目标的反射三维光场;构建图像增强滤波函数,并将所述反射三维光场与所述图像增强滤波函数进行卷积运算,得到增强滤波后的光场;基于云雾传输函数,对增强滤波后的光场进行频域滤波;基于频域滤波后的光场,通过自由空间反演法,反演目标光场成像。本发明可以提升云雾遮蔽目标反演成像的信噪比和对比度,能够满足对云雾遮蔽目标高分辨成像需求。

    一种单光子后选择蒙特卡洛光子数成像方法

    公开(公告)号:CN116360097A

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202310348062.0

    申请日:2023-04-03

    Abstract: 本发明涉及光子成像技术领域,特别涉及一种单光子后选择蒙特卡洛光子数成像方法。本发明实施例提供一种单光子后选择蒙特卡洛光子数成像方法,包括:分别确定待测目标和参考板的反射率;将所述待测目标所在空间分为多个空间网格;按预设次数将纠缠状态的一对单光子分别射向一个所述空间网格和所述参考板,得到所述空间网格的平均光子数;根据所述平均光子数对所述空间网格赋值;根据所述空间网格的赋值成像。本发明实施例提供了一种单光子后选择蒙特卡洛光子数成像方法,能够提升单光子成像能力。

    一种宽频段可控温的材料反射率测量装置

    公开(公告)号:CN115901691A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202211515027.5

    申请日:2022-11-29

    Abstract: 本发明涉及一种宽频段可控温的材料反射率测量装置,涉及测量仪器领域,包括温控反射平台、支架、密封盖和温控设备连接线,温控反射平台转动连接在支架上,温控反射平台内置有加热装置,密封盖固定在支架上且位于温控反射平台工作面的另一侧以降低大气环境干扰;温控设备连接线一端与温控反射平台相连,另一端连接有控制器以使冷却水或液氮流入温控反射平台内,冷却水与液氦流入的管道不同,本发明具有可以获得太赫兹和中红外波段各类材料随温度变化的反射率的优点。

    随机介质搭建、电磁散射场仿真方法和装置

    公开(公告)号:CN109376458B

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN201811345455.1

    申请日:2018-11-13

    Inventor: 李粮生 殷红成

    Abstract: 本发明涉及一种随机介质搭建、电磁散射场仿真方法和装置,涉及电磁场仿真计算领域。其中,本发明中的随机介质的搭建方法包括:步骤1、构建由指定个数的颗粒组成的颗粒组;步骤2、确定所述颗粒组与所有已保存的随机介质的构型之间的相似度;所述已保存的随机介质的构型为已经选取作为随机介质构型的颗粒组;步骤3、在所述颗粒组与所有已保存的随机介质构型之间的相似度都小于第一阈值的情况下,将所述颗粒组作为随机介质的构型并保存。通过以上步骤实现了随机介质的搭建,能够满足对光通过随机介质的传播和扩散行为的仿真研究需求,尤其能够满足仿真研究中产生特定电磁散射场波束(比如零平均圆复高斯电磁场波束)的建模需求。

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