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公开(公告)号：CN112134694A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202010800673.0
申请日：2020-08-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: H04L9/08
Abstract: 本发明公开了一种数据交互方法、主站、终端及计算机可读存储介质，其中方法包括：主站向终端发送第一报文，第一报文是主站利用非对称加密算法对主站和终端的ID进行加密生成第一私密信息，并将第一私密信息与主站和终端的ID合并生成；主站接收终端发送的第一应答报文，第一应答报文中有终端生成的第一随机数和终端基于对称加密算法和非对称加密算法生成的第二私密信息；主站验证第二私密信息和主站的ID的正确性，并在验证通过后利用对称加密算法对第一随机数进行密钥协商操作生成第二会话密钥，以及在第二会话密钥与第一会话密钥相同时保存第一会话密钥。由此，保证了会话密钥产生的随机性、多样性及安全性，有利于提高数据交互的安全性。
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公开(公告)号：CN110008169A
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201910288665.X
申请日：2019-04-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: G06F13/42
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片的通信方法，其中，安全芯片与主控芯片通过SPI接口进行通信，通信方法包括：主控芯片对SPI接口进行初始化；主控芯片将SIP接口的片选信号置低，向安全芯片发送指令信息，发送完成后将该片选信号置高，其中，指令信息包括起始标识以及指令内容；安全芯片执行指令内容，在执行完成后，发送响应信息，其中，响应信息包括：起始标识以及响应状态字；主控芯片将片选信号置低，获取安全芯片的响应信息；主控芯片判断响应信息的起始标识是否为第一预设标识，若是则读取响应信息，并将片选信号置高。本发明提供的安全芯片的通信方法，提高了安全芯片的处理效率，提高数据传输的安全性。
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公开(公告)号：CN112052184B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202011049951.X
申请日：2020-09-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开一种测试脚本的自动生成方法，应用于芯片操作系统，该方法包括：判断是否获取到所有输入内容中的所有内容信息，内容信息包括目录结构信息、指令列表信息、共用函数信息、配置信息以及脚本模板信息；在确定获取到所有内容信息情况下，获取开发需求信息，基于开发需求信息生成结构创建脚本，结构创建脚本用于生成待测试文件结构；基于指令列表信息创建指令测试脚本集和公共脚本集；基于指令列表信息生成与指令测试脚本集对应的指令测试脚本，以及基于指令列表信息生成与公共脚本集对应的公共脚本；将待测试文件结构、指令测试脚本和公共脚本存储于脚本模板信息，生成芯片操作系统的测试脚本。本发明还公开一种测试脚本的自动生成装置。
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公开(公告)号：CN112213582B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202011048442.5
申请日：2020-09-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
Abstract: 本发明公开一种电子模块的检测系统，该系统包括：参数设置模块，与待检测的电子模块电连接，用于获取第一设置操作，基于第一设置操作生成并设置电子模块的模块参数，模块参数包括频率参数和/或电压参数；控制模块，与电子模块电连接，用于实时控制电子模块按照模块参数运行；检测模块，与电子模块电连接，用于对运行中的电子模块执行检测操作，获得对应的检测结果。本发明还公开一种电子模块的检测方法及一种电子模块的检测装置。通过采用宽压高速MCU对电子模块的工作电压和/或工作频率进行调整测试，从而对在工作频率或工作电压的干扰下运行的电子模块进行模拟并进行检测，从而有效保证了对电子模块的检测完整度，满足技术人员的实际检测需求。
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公开(公告)号：CN109918338B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN201910180286.9
申请日：2019-03-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片操作系统测试装置，是通过Python语言构建的，其包括PCSC通信接口层、算法库接口层、功能指令接口层、基本算法接口层、脚本编写和执行层。通过PCSC通信接口层实现与待测安全芯片的通信。算法库接口层用于封装待测安全芯片所应用的多种安全算法的接口。功能指令接口层用于封装待测安全芯片的操作系统中的功能指令。基本算法接口层用于对算法库接口层的接口进行二次组合封装，同时新增运算函数。脚本编写和执行层用于存储、执行和修改测试脚本，脚本编写和执行层通过组合和调用PCSC通信接口层、算法库接口层、功能指令接口层以及基本算法接口层从而实现对测试。该安全芯片操作系统测试装置能够有效地提高测试脚本的编写和调试速率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112416669B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202011171244.8
申请日：2020-10-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片的掉电测试方法及装置，主控MCU接收PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令。主控MCU当接收到第一APDU指令后，将第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器。主控MCU当接收到第二APDU指令后，读取存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到第三APDU指令后，根据电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值。并且主控MCU当接收到第三APDU指令后，将第三APDU指令中的测试数据发送给待测安全芯片。该掉电测试方法及装置增加了测试覆盖面和灵活度，并且减少了测试的复杂性。
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公开(公告)号：CN108537067B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN201810167675.3
申请日：2018-02-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网宁夏电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种芯片安全防护方法。该方法包括以下步骤：在芯片操作系统中配置安全状态机，所述安全状态机在芯片指令的驱动下实现芯片安全状态的变迁；为芯片内部需要保护的一个或多个文件设置多个相同或不同的文件访问约束条件；读取被保护的文件时，校验所述安全状态机中的状态字是否满足该文件的访问约束条件，若满足条件则读取该文件，否则不能读取该文件。所述芯片安全防护方法可以实现芯片安全防护方面的精细管理，简化安全设计，提高芯片执行效率。
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公开(公告)号：CN112782467A
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN202011561648.8
申请日：2020-12-25
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G01R22/00 , G06F9/4401
Abstract: 本发明实施方式涉及智能电表技术领域，特别涉及一种基于嵌入式操作系统的智能电表，所述智能电表中的嵌入式操作系统包括硬件层、启动层和驱动层，还包括应用层和系统层，所述应用层包括若干应用程序，所述系统层包括：应用接口子层，用于提供所述系统层与所述应用程序的接口；设备管理子层，用于向所述应用接口子层提供与驱动设备框架的接口；函数集合子层，用于提供文件操作函数集合，供所述驱动层中的设备向所述驱动设备框架注册；驱动实现子层，用于提供所述驱动设备框架对注册后的设备进行管理；标准库子层，用于提供标准驱动库，所述标准驱动库中的标准驱动用于驱动所述注册后的设备。本发明提供的实施方式便于智能电表的功能开发。
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公开(公告)号：CN112269698A
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN202011203466.3
申请日：2020-11-02
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种密码机测试装置及用其进行密码机测试的方法，属于密码机功能测试技术领域。所述密码机测试装置预先存储有封装函数，利用密码机测试装置进行密码机测试的方法包括：接收用户指令，所述用户指令包括用于组成命令报文的输入参数；根据所述用户指令调用所述封装函数以生成所述命令报文；发送所述命令报文至密码机；以及接收所述密码机发送的与所述命令报文对应的响应报文。本发明提供的技术方案，具有测试覆盖面广和灵活度高的优点，并且能够有效降低密码机测试的复杂性。
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公开(公告)号：CN112213582A
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202011048442.5
申请日：2020-09-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
Abstract: 本发明公开一种电子模块的检测系统，该系统包括：参数设置模块，与待检测的电子模块电连接，用于获取第一设置操作，基于第一设置操作生成并设置电子模块的模块参数，模块参数包括频率参数和/或电压参数；控制模块，与电子模块电连接，用于实时控制电子模块按照模块参数运行；检测模块，与电子模块电连接，用于对运行中的电子模块执行检测操作，获得对应的检测结果。本发明还公开一种电子模块的检测方法及一种电子模块的检测装置。通过采用宽压高速MCU对电子模块的工作电压和/或工作频率进行调整测试，从而对在工作频率或工作电压的干扰下运行的电子模块进行模拟并进行检测，从而有效保证了对电子模块的检测完整度，满足技术人员的实际检测需求。
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