公开(公告)号：CN116054776A

公开(公告)日：2023-05-02

申请号：CN202211693644.4

申请日：2022-12-28

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 睢建平 ,  杨敬 ,  贾晓龙 ,  刘小光 ,  郑文强 ,  段友峰

IPC: H03H9/19 ,  H03H9/05 ,  H03H9/02 ,  H03B5/32 ,  H03B1/02 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明属于振荡器技术领域，具体公开了一种用于单粒子效应试验的晶振。该用于单粒子效应试验的晶振包括石英振子、待辐射芯片以及表面贴装基座。所述待辐射芯片上设置有焊盘；所述表面贴装基座设置有容置腔和导线，所述容置腔内设置有连接端口；其中，所述石英振子和所述待辐射芯片通过第一导电件固定在所述容置腔内，且所述石英振子与所述待辐射芯片均铺设在所述容置腔并完全错位设置，所述石英振子和所述待辐射芯片通过导线连接，所述焊盘与所述连接端口通过键合丝连接。本发明可以使晶振内部的待辐射芯片完全暴露，可以方便地进行单粒子试验并测量试验数据，进而满足单粒子效应试验样品制作的需求。