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公开(公告)号：CN102955083B
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201110255606.6
申请日：2011-08-31
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 杨利华
Abstract: 本发明提出了一种CPU芯片上电复位电路抗扰性测试方法及装置，在被测芯片循环进行热复位动作时，对芯片的VCC电源施加一种电压异常跌落、瞬时低电、异常上电波形的干扰脉冲波，干扰一段时间后，通过检测芯片CPU跑飞标志的数据，来判断芯片上电复位电路的抗干扰的能力。
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公开(公告)号：CN104408625A
公开(公告)日：2015-03-11
申请号：CN201410427529.1
申请日：2014-08-27
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 杨利华
IPC: G06Q30/00
Abstract: 本发明提出了一种带USB口的防伪认证模块，该模块适用于瓶类容器以及带有类似瓶盖的其它形状的容器。模块内的USB口防伪认证模块包括一个USB插口和一个USB口防伪认证芯片。USB口防伪认证芯片的内部电路结构包括CPU、存储器、加密算法、USB接口电路。存储器上有产品唯一编码信息，存储器上的产品信息与厂家或第三方防伪数据库中的产品信息相对应，同时附带相应的加密算法，用于访问防伪数据库时网络认证。
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公开(公告)号：CN114978378B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202210391367.5
申请日：2022-04-14
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: H04B17/345 , H04B17/00 , H04L43/50
Abstract: 本发明提出一种用于电信用户识别卡的通讯干扰测试脱机装置，干扰器和读卡器内置于通讯干扰测试脱机装置内，循环测试脚本代码存在读卡器存储器内，读卡器直接运行循环测试脚本，执行反复循环上电→读通讯指令→写通讯指令→下电的过程。电信用户识别卡的电源管脚只与通讯干扰器输出的通讯干扰毛刺信号管脚连接，干扰信号直接加在电信用户识别卡的电源管脚上。读卡器不对读通讯指令返回数据判断对错，读卡器接收到写通讯指令报错数据时，需跳出循环测试脚本，重新开始运行循环测试脚本。这样，不需要连接计算机，在通讯干扰测试脱机装置内部完成通讯干扰测试。
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公开(公告)号：CN114978378A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210391367.5
申请日：2022-04-14
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: H04B17/345 , H04B17/00 , H04L43/50
Abstract: 本发明提出一种用于电信用户识别卡的通讯干扰测试脱机装置，干扰器和读卡器内置于通讯干扰测试脱机装置内，循环测试脚本代码存在读卡器存储器内，读卡器直接运行循环测试脚本，执行反复循环上电→读通讯指令→写通讯指令→下电的过程。电信用户识别卡的电源管脚只与通讯干扰器输出的通讯干扰毛刺信号管脚连接，干扰信号直接加在电信用户识别卡的电源管脚上。读卡器不对读通讯指令返回数据判断对错，读卡器接收到写通讯指令报错数据时，需跳出循环测试脚本，重新开始运行循环测试脚本。这样，不需要连接计算机，在通讯干扰测试脱机装置内部完成通讯干扰测试。
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公开(公告)号：CN114814541A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210424886.7
申请日：2022-04-21
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 杨利华
Abstract: 本发明提出的一种产生非接随机干扰信号的装置，包括高压直流输出装置、干扰天线和瞬时开关。高压直流输出装置的直流高压输出的一端与干扰天线的一端连接，直流高压输出的另一端通过瞬时开关与干扰天线的另一端连接。瞬时开关动作时，直流高压输出的另一端与干扰天线瞬时接通后又持续断开。瞬时开关不断循环瞬时接通和持续断开过程。不断瞬时接通后又持续断开，干扰天线就不断产生电磁脉冲随机干扰信号。瞬时接通时间决定了泄放到干扰天线的电荷多少，从而决定了干扰天线产生的干扰信号形态，持续断开时间的多少决定了干扰信号的出现频率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113834983A
公开(公告)日：2021-12-24
申请号：CN202110988522.7
申请日：2021-08-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 杨利华
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提出的一种针对非接触智能卡的干扰测试方法，由干扰器产生直流叠加干扰毛刺的波形，加载到直流叠加干扰输入端上，直流叠加干扰输入端再与桥式整流电路的直流输出端连接。在桥式整流电路的交流输入端，外接一个用于输出非接干扰的干扰天线，干扰天线放在非接触智能卡和非接读卡器之间。当非接触智能卡与非接读卡器通信时，启动干扰器，干扰器产生的直流叠加干扰毛刺的波形通过桥式整流电路耦合到非接触智能卡与非接读卡器之间的干扰天线上，干扰天线的电磁干扰信号再干扰非接触智能卡与读卡器之间的通信。
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公开(公告)号：CN112130008A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202010769906.5
申请日：2020-08-04
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 杨利华
Abstract: 本发明提出了一种芯片的静电感应破坏测试方法。静电感应破坏测试时，被测芯片衬底面向静电电子枪枪头，保证静电感应破坏测试时产生的静电场穿过芯片器件层。当被测芯片衬底的最外面覆盖金属片时，静电电子枪的枪头直接接触金属片，进行放电测试；当被测芯片衬底最外面覆盖绝缘层时，静电电子枪的枪头直接接触绝缘层，进行放电测试；当被测芯片衬底外面的绝缘层被去除，露出贴片胶时，静电电子枪的枪头直接接触贴片胶，进行放电测试；当被测芯片背面完全露出衬底时，静电电子枪的枪头直接接触芯片衬底，进行放电测试。
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公开(公告)号：CN106849737B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201611071133.3
申请日：2016-11-29
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 杨利华
IPC: H02M11/00
Abstract: 本发明提出了一种产生电源随机干扰波形的方法及装置。产生电源随机干扰波形的装置包括直流电源、供电交流电源开关两部分。产生电源随机干扰波形的方法为通过频繁开关直流电源的供电交流电源，使直流电源输出端产生电源随机干扰信号。实现频繁开关直流电源的供电交流电源的方法为，由直流电源输出电压驱动直流电源的供电交流电源开关进行打开和关闭。当直流电源输出直流电压时，直流电源的供电交流电源开关被关闭，当直流电源不输出直流电压时，直流电源的供电交流电源开关被打开。该方法及装置用来产生通讯中电源干扰测试的随机干扰波形。
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公开(公告)号：CN106849737A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201611071133.3
申请日：2016-11-29
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 杨利华
IPC: H02M11/00
CPC classification number: H02M11/00
Abstract: 本发明提出了一种产生电源随机干扰波形的方法及装置。产生电源随机干扰波形的装置包括直流电源、供电交流电源开关两部分。产生电源随机干扰波形的方法为通过频繁开关直流电源的供电交流电源，使直流电源输出端产生电源随机干扰信号。实现频繁开关直流电源的供电交流电源的方法为，由直流电源输出电压驱动直流电源的供电交流电源开关进行打开和关闭。当直流电源输出直流电压时，直流电源的供电交流电源开关被关闭，当直流电源不输出直流电压时，直流电源的供电交流电源开关被打开。该方法及装置用来产生通讯中电源干扰测试的随机干扰波形。
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公开(公告)号：CN102955124A
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：CN201110255011.0
申请日：2011-08-31
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 杨利华
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提出的芯片闩锁效应的测试方法，用来测试芯片针对不同的高频振荡毛刺信号是否会触发闩锁效应。测试时，每次需要选择一次毛刺脉冲波的最大尖峰电压值、最大脉冲宽度Twidth、毛刺密集度这三个参数作为一个测试点，一个测试点进行一次触发闩锁效应测试，不同的最大尖峰电压值、最大脉冲宽度Twidth、毛刺密集度作为不同的测试点，采用多个测试点分别进行触发闩锁效应测试，最终可形成三维的毛刺触发Latch-Up Test测试结果分布。
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