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公开(公告)号：CN110988042B
公开(公告)日：2022-10-28
申请号：CN201911237304.9
申请日：2019-12-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，属于屏蔽包装袋夹层导电性测试领域，本发明把一个空心平面线圈放入屏蔽包装袋内部，并用两个平行的平板夹紧，使屏蔽袋的平面与平面线圈紧贴。给平面线圈施加一定频率的正弦激励，并计算出此时阻抗的实部。同理，施加同频率的激励也可以测量出裸空心线圈的阻抗实部。施加静电屏蔽包装袋的空心线圈的阻抗实部与裸空心线圈的阻抗实部的比值反映出了屏蔽包装袋的导电性。比值越大导电性越好，利用一种测试方法评价屏蔽包装袋的导电性，然后把导电性比较结果溯源到能量法测量结果上，继而利用导电性结果去评价屏蔽包装袋的屏蔽效能的优劣。
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公开(公告)号：CN110865326B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN201911123709.X
申请日：2019-11-17
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种静电电荷量传感器标定装置和方法，所述装置包括：支撑定位模块、释放控制模块、旋转切换模块、静电电荷量传感器、法拉第筒；所述旋转切换模块能够在第一状态和第二状态之间进行切换；所述释放控制模块检测到所述旋转切换模块处于第一状态时，释放所述带电对象，使所述带电对象下落而经过所述静电电荷量传感器；所述释放控制模块检测到所述旋转切换模块处于第二状态时，释放所述带电对象，使所述带电对象下落进入所述法拉第筒内。通过本申请提供的静电电荷量传感器标定装置和方法，能够使带电对象从相同的高度分别经过静电电荷量传感器或进入法拉第筒，获得静电电荷量传感器的输入和输出值，实现对静电电荷量传感器的标定。
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公开(公告)号：CN111337759A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN202010141723.9
申请日：2020-03-04
Applicant: 中国地质大学(武汉) , 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R29/12
Abstract: 本发明公开了一种集成BGO晶体光波导的闭环电场检测系统，包括宽谱光源超辐射发光二极管、三端口环形器、起偏器、相位调制器、准直器、法拉第旋光镜、BGO集成光波导电场传感器、光电探测器、信号处理单元、保偏光纤，本发明采用飞秒激光技术加工制作反射式非对称的BGO晶体集成光波导结构，减小了基于Pockels效应的BGO晶体电场传感器的体积；采用闭环检测系统，通过光波导结构参数设计和方波相位调制，将系统的静态工作点控制在线性部分，可以提高电场测量系统的灵敏度，消除外界环境因素带来的误差相位差；采用阶梯波调制产生反馈相位差，可以进一步减小系统的非线性误差，同时增大系统的动态范围。
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公开(公告)号：CN110865326A
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201911123709.X
申请日：2019-11-17
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种静电电荷量传感器标定装置和方法，所述装置包括：支撑定位模块、释放控制模块、旋转切换模块、静电电荷量传感器、法拉第筒；所述旋转切换模块能够在第一状态和第二状态之间进行切换；所述释放控制模块检测到所述旋转切换模块处于第一状态时，释放所述带电对象，使所述带电对象下落而经过所述静电电荷量传感器；所述释放控制模块检测到所述旋转切换模块处于第二状态时，释放所述带电对象，使所述带电对象下落进入所述法拉第筒内。通过本申请提供的静电电荷量传感器标定装置和方法，能够使带电对象从相同的高度分别经过静电电荷量传感器或进入法拉第筒，获得静电电荷量传感器的输入和输出值，实现对静电电荷量传感器的标定。
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公开(公告)号：CN112687569B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202011575949.6
申请日：2020-12-28
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: H01L21/66 , H01L29/20 , H01L29/778
Abstract: 本发明涉及半导体技术领域，提供一种氮化镓器件特性的调制方法和结构。方法主要包括：对氮化镓器件施加外界电场，外界电场通过逆压电效应耦合作用于氮化镓器件；通过变化外界电场的强度和方向对氮化镓器件的特性进行调制。本发明可以根据氮化镓器件不同的应用场景，通过调整外界电场的强度和方向，对氮化镓器件特性进行特定调制，以适应不同场景下氮化镓器件应用需求，促进氮化镓器件性能的更充分发挥，带动氮化镓器件在宇航、雷达、电子对抗等国防军事领域以及5G、电力电子等民用领域的更有效利用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115951182A
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202310017796.0
申请日：2023-01-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种插卡式静电放电发生装置，所述插卡式静电放电发生装置包括：主机机箱；背板，设置于所述主机机箱内，所述背板上具有多个连接器，多个所述连接器通过所述背板上集成的控制电路电连接；插卡式供电模块，呈可拆卸地设置于所述主机机箱内并与所述背板上的其中一个所述连接器连接；插卡式高压源模块，呈可拆卸地设置于所述主机机箱内并与所述背板上的其中一个所述连接器连接；插卡式主控通信模块，呈可拆卸地设置于所述主机机箱内并与所述背板上的其中一个所述连接器连接，所述插卡式主控通信模块被配置为控制所述插卡式高压源模块调整所述插卡式供电模块输出预定电压。本发明可有效提高静电放电发生装置的适用性和通用性。
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公开(公告)号：CN115932511A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202310017769.3
申请日：2023-01-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R31/12 , G01R19/165
Abstract: 本发明涉及一种电子芯片静电放电潜在失效预先诊断系统和方法，潜在失效预先诊断系统包括：静电放电模块，用于对电子芯片管脚进行静电放电，进行加速失效；加速失效作用模块，用于将潜在失效加速演变为立即失效；电性能测试表征模块，用于测试经受静电放电与加速失效作用后的电子芯片的电性能参数；多个静电放电事件侦测模块，用于对静电放电电磁辐射进行在线表征。本发明实现了电子芯片静电潜在失效在线预先诊断，有利于降低静电潜在失效对电子系统的危害，保障电子系统的静电可靠性，具有重要的经济和社会效益，推广应用转化前景广阔。
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公开(公告)号：CN108398631B
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201810240769.9
申请日：2018-03-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。
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公开(公告)号：CN111398694A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010141787.9
申请日：2020-03-04
Applicant: 中国地质大学(武汉) , 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R29/12
Abstract: 本发明提供一种光路互易的集成BGO晶体光波导闭环电场检测系统，包括：SLD宽带光源、环形器、起偏器、相位调制器、BGO集成光波导电场传感器、光电探测器和信号处理模块，BGO集成光波导电场传感器为一种在对称的BGO晶体上采用飞秒激光刻画的具有光路互易性的光波导结构，使正交偏振模式在经过两晶体后，走过了相同长度的光路，因此自然双折射产生的相位差成功被抵消。本发明消除了由自然双折射和温度变化、气体压力引起的相位误差，通过引入反馈相位差，可以进一步减小系统的非线性误差，同时增大系统的动态范围。
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公开(公告)号：CN110988042A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911237304.9
申请日：2019-12-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，属于屏蔽包装袋夹层导电性测试领域，本发明把一个空心平面线圈放入屏蔽包装袋内部，并用两个平行的平板夹紧，使屏蔽袋的平面与平面线圈紧贴。给平面线圈施加一定频率的正弦激励，并计算出此时阻抗的实部。同理，施加同频率的激励也可以测量出裸空心线圈的阻抗实部。施加静电屏蔽包装袋的空心线圈的阻抗实部与裸空心线圈的阻抗实部的比值反映出了屏蔽包装袋的导电性。比值越大导电性越好，利用一种测试方法评价屏蔽包装袋的导电性，然后把导电性比较结果溯源到能量法测量结果上，继而利用导电性结果去评价屏蔽包装袋的屏蔽效能的优劣。
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