一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法

    公开(公告)号:CN114509165A

    公开(公告)日:2022-05-17

    申请号:CN202111563838.8

    申请日:2021-12-20

    Abstract: 本发明公开的一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法,属于辐射测温技术、发射率测量技术领域。本发明的装置主要由镜头和光谱仪或光谱辐射计组成,镜头与光谱仪或光谱辐射计可以直接连接,也可以使用光纤连接。无需其他任何额外的温度测量设备或传感器,仅使用发射率测量所需的、带有镜头的、光谱范围覆盖短波的光谱仪或光谱辐射计作为测量设备,使用3个及以上光谱辐射能量信息,根据普朗克黑体辐射定律建立目标温度与光谱辐射能量的关系,拟合温度T与光谱辐射能量Lλ、波长λ的关系式,即能够准确测算出目标的表面温度,从而获得目标的光谱发射率。本发明不仅能够简化测温设备,还能够提高目标光谱发射率的测量精度。

    一种基于超连续吸收光谱的气体温度浓度测量系统及方法

    公开(公告)号:CN118794907B

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411287713.0

    申请日:2024-09-14

    Abstract: 本发明公开了一种基于超连续吸收光谱的气体温度浓度测量系统及方法,所述系统包括超连续激光光源、光纤分束器、第一~第三准直器、第一~第三光电探测器、气室、标准具和处理器,超连续激光光源输出波长连续的激光,经过光纤分束器分为三路,第一路经过第一准直器后通过第一光电探测器接收出射激光得到参考信号;第二路经过第二准直器后穿过气室并通过光电探测器接收透射激光得到吸收信号;第三路经过第三准直器后穿过标准具并通过第三光电探测器接收出射激光得到标准具信号;处理器对参考信号、吸收信号和标准具信号进行采集和处理,测量目标气体的温度和浓度。本发明可以有效地利用超连续光谱所提供的丰富吸收跃迁信息实现温度浓度的准确求解。

    一种基于等效发射率的差分黑体辐射温差修正方法

    公开(公告)号:CN113984220A

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202111259718.9

    申请日:2021-10-28

    Inventor: 高一凡 温悦

    Abstract: 本发明公开的一种基于等效发射率的差分黑体辐射温差修正方法,属于辐射测温技术领域。针对目前辐射温差修正方法会引入较大不确定度的问题,本方法利用标准装置测量差分黑体辐射温度,得到一组差分黑体温差设定值与差分黑体实际辐射温差值,利用基于等效发射率的方法进行设定值与实际值的修正,克服了常数系数修正法在理论上的缺陷,同时避免了温度范围变化导致的修正系数改变的问题,辐射温差和修正结果更加稳定可靠,可在差分黑体整个工作温度范围内正常使用。本方法可应用于温度测量、红外瞄具测试等领域,对辐射温差进行修正。

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