用于原位电化学扫描电镜观测的样品台及测试系统

    公开(公告)号:CN112611777A

    公开(公告)日:2021-04-06

    申请号:CN202010533794.3

    申请日:2020-06-12

    Abstract: 本发明公开了一种用于原位电化学扫描电镜观测的样品台及测试系统。该样品台包括样品台主体和样品固定组件,所述样品台主体内部具有一收容腔体,所述样品固定组件活动设置在所述收容腔体内,且所述样品固定组件还与所述收容腔体围合形成一气仓,所述气仓内预储有保护气体,且所述保护气体能够经由一单向气阀排出,其中,所述样品固定组件能够在外力的驱使下活动于第一工位和第二工位。本发明提供的样品台能够将固态电池安装在样品台主体中,实现对电池中活泼金属的气氛保护,并可以实现在特定温度下充放电过程的同时进电池内部压力变化的监控,以及扫描电子显微镜观测其微观结构的变化,实现电化学‑SEM原位实时观测。

    一种片状粉末断面样品的制备方法

    公开(公告)号:CN110186738A

    公开(公告)日:2019-08-30

    申请号:CN201810153747.9

    申请日:2018-02-22

    Abstract: 本发明提供了一种片状粉末的断面样品的制备方法,包括:将导电胶液滴加在基片表面;将片状粉末分散在导电胶液中;将导电胶液进行干燥,得到第一胶块;将基片垂直竖立于平整的平台上,将第一胶块设置于基片底部;将导电胶液滴加在第一胶块上,待导电胶液与第一胶块融合后进行干燥,得到第二胶块;采用离子抛光对第二胶块的下表面进行抛光,得到片状粉末的断面样品。本发明提供的方法制备得到的断面样品中大部分二维片状粉末都能够垂直于离子束切割的方向,在后期的观察中有大量的符合要求的可观察区域;另外本发明采用导电胶液进行制样,样品具有较好的导电性,有利于后期的高倍观察。

    一种含氧石墨烯还原程度的判定方法

    公开(公告)号:CN108490015A

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201810213828.3

    申请日:2018-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种含氧石墨烯还原程度的判定方法,包括:(1)利用X射线光电子能谱对待测样品进行测量,扫描的能量范围为280eV至295eV,得到待测样品C 1s的XPS能谱;(2)将得到的XPS能谱进行分峰拟合,调整半高宽、面积、峰形;(3)通过步骤(2)得到的结果,根据含氧官能团总含量与C-C键含量之比判断含氧石墨烯的还原程度。本发明可实现碳元素的化学结构分析,可通过含氧官能团总含量和C-C键含量作比、含氧官能团结合能位置比较,实现不同样品还原程度的判定。发明具有准确、快速、无损伤的优点。

    一种中高温红外发射率测试装置

    公开(公告)号:CN102830064B

    公开(公告)日:2014-12-03

    申请号:CN201210296858.8

    申请日:2012-08-20

    Abstract: 本发明公开了一种中高温红外发射率测试装置,包括中红外反射率测试系统、样品加热控制系统以及微机数据处理系统;中高温红外反射率测试系统包括红外光源、干涉仪、中红外积分球、红外检测器、A/D转换器和液氮冷却装置;样品加热控制系统包括样品加热台以及依次连接的通讯转换器、温度控制器、可控硅调压器、样品加热器和指示灯,所述的温度控制器连接有精密热电偶;所述的微机数据处理系统用于输入设定参数以及数据的采集和处理。本装置简单方便,可实现材料在20-600℃中高温范围内红外发射率的准确、快速测量,有望应用于中高温太阳能光热涂层等关键开发领域。

    一种中高温红外发射率测试装置

    公开(公告)号:CN102830064A

    公开(公告)日:2012-12-19

    申请号:CN201210296858.8

    申请日:2012-08-20

    Abstract: 本发明公开了一种中高温红外发射率测试装置,包括中红外反射率测试系统、样品加热控制系统以及微机数据处理系统;中高温红外反射率测试系统包括红外光源、干涉仪、中红外积分球、红外检测器、A/D转换器和液氮冷却装置;样品加热控制系统包括样品加热台以及依次连接的通讯转换器、温度控制器、可控硅调压器、样品加热器和指示灯,所述的温度控制器连接有精密热电偶;所述的微机数据处理系统用于输入设定参数以及数据的采集和处理。本装置简单方便,可实现材料在20-600℃中高温范围内红外发射率的准确、快速测量,有望应用于中高温太阳能光热涂层等关键开发领域。

    一种用于宽离子束刻蚀的防反沉积样品台

    公开(公告)号:CN217468332U

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202221145803.2

    申请日:2022-05-13

    Abstract: 本申请属于刻蚀抛光技术领域,公开了一种用于宽离子束刻蚀的防反沉积样品台,包括用于支撑样品的第一面的支撑板,还包括遮蔽部件,所述遮蔽部件包括固定在一起的遮蔽板和楔形块,所述楔形块的截面为直角三角形,其斜面与所述遮蔽板相接触,其一个直角面用于与所述样品形成面接触。本申请提供的上述用于宽离子束刻蚀的防反沉积样品台,能够提高样品固定的稳定性,消除实验过程中因样品移动坠落而导致反沉积污染的问题,从而提高离子束刻蚀抛光工艺的成功率。

    高分辨X射线衍射仪的热-电场协同作用原位测试装置

    公开(公告)号:CN219871100U

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202321090885.X

    申请日:2023-05-05

    Abstract: 本实用新型提供了一种高分辨X射线衍射仪的热‑电场协同作用原位测试装置,属于材料测试技术领域,真空腔体包括壳体以及密封盖板,密封盖板具有凸起的圆帽状密封窗口,密封盖板盖住壳体并且壳体与密封盖板之间构成真空腔;导热绝缘托安装于真空腔,导热绝缘托设置有加热元件;电场调节模块包括电极接头以及用于对待测材料施加电场的导电元件,电极接头设置于壳体,导电元件设置于导热绝缘托,并且导电元件与电极接头电连接。本实用新型的有益效果为:提供了一种HR‑XRD原位测试系统,能够实现薄膜材料晶格转变过程的实时观测,可以在真空环境下进行试验,有效避免高电压引起的电场击穿,满足材料相转变行为和电致伸缩效应的表征需求。

    一种飞行时间质谱仪用固体自动进样装置

    公开(公告)号:CN207882211U

    公开(公告)日:2018-09-18

    申请号:CN201721508016.9

    申请日:2017-11-13

    Abstract: 一种飞行时间质谱仪用固体自动进样装置,离子化室的一侧开有进样孔,自动进样装置设置在离子化室的一侧,且自动进样装置正对进样孔。送料棒的直径小于进样孔的孔径以贯穿进样孔,且送料棒对准进样孔并与进样孔同轴设置。头段的内端面上同轴设有用于沾取样品的进样杆,进样杆的正下方设有用于盛接从进样杆上掉落的样品的盛接槽。送料棒本体的外端固定在移动平台上,移动平台可滑动地设置在滑动导轨上,移动平台与丝杠相啮合,且丝杠的内端固定架设在滑动导轨上,丝杠的外端与电机的输出轴同轴相连。送料棒本体上固定套设有用于密封送料棒本体与进料孔之间的间隙的密封圈。

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