一种含氧石墨烯还原程度的判定方法

    公开(公告)号:CN108490015A

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201810213828.3

    申请日:2018-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种含氧石墨烯还原程度的判定方法,包括:(1)利用X射线光电子能谱对待测样品进行测量,扫描的能量范围为280eV至295eV,得到待测样品C 1s的XPS能谱;(2)将得到的XPS能谱进行分峰拟合,调整半高宽、面积、峰形;(3)通过步骤(2)得到的结果,根据含氧官能团总含量与C-C键含量之比判断含氧石墨烯的还原程度。本发明可实现碳元素的化学结构分析,可通过含氧官能团总含量和C-C键含量作比、含氧官能团结合能位置比较,实现不同样品还原程度的判定。发明具有准确、快速、无损伤的优点。

    一种样品转移装置及原位检测设备

    公开(公告)号:CN220231539U

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202321716475.1

    申请日:2023-07-03

    Abstract: 本实用新型公开了一种样品转移装置及原位检测设备,涉及样品测试技术领域;样品转移装置,包括:主壳体,其内设置有用于存储惰性气体的密封腔室,主壳体的一侧面设置有连通密封腔室的通孔;固定组件,用于固定待测样品,且固定组件在第一位置与第二位置之间可滑动的设置于通孔处;当固定组件滑动至第一位置时,固定组件将通孔处密封,且固定组件中的待测样品位于密封腔室内;当固定组件滑动至第二位置时,固定组件将通孔处密封,且固定组件中伸出主壳体,以向固定组件放置待测样品。本实用新型提供的样品转移装置,可以将待测样品置于具有惰性气体的密封腔室内,避免外界空气对待测样品的敏感材料造成氧化变质,从而提高测试结果的准确性。

    X射线光电子能谱原位电场样品台

    公开(公告)号:CN208766124U

    公开(公告)日:2019-04-19

    申请号:CN201821500948.3

    申请日:2018-09-13

    Abstract: 本实用新型公开了一种X射线光电子能谱原位电场样品台。所述的样品台包括:依次导热连接的样品固定机构、固定连接机构和支撑连接机构,固定连接机构至少用以将样品台固定于样品座上,并能够与X射线光电子能谱仪的样品座导电导热接触;样品固定机构上设置有控制芯片和用以安置样品的样品固定部;支撑连接机构固定连接于固定连接机构的下方,且支撑连接机构与固定连接机构相互绝缘,且支撑连接机构的高度和倾斜度可调;以及,支撑连接机构还经导线与控制芯片连接。本实用新型提供的样品台能够在样品需测试位置处添加电学信号,进行材料的电学性能和电子结构及结合能的研究;配合仪器的原位制冷和加温功能,可以实现XPS原位高低温电学性能测试。

Patent Agency Ranking