-
公开(公告)号：CN108872154A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810516822.3
申请日：2018-05-25
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC classification number: G01N21/47 , G01N21/4795 , G01N21/49 , G01N2021/4726 , G01N2201/06113 , G01N2201/0846
Abstract: 一种无包层光纤空间角分辨激光散射损耗的测量装置和方法，装置包括：由连续激光器、光束准直器、调频器、起偏器、相位延迟器、分光片、光纤耦合器、机械夹持装置、圆柱形暗箱、电动位移台、第一光电探测器、第二光电探测器、第一锁相放大器、第二锁相放大器、A/D数据采集卡和计算机。本发明可以测量沿光纤长度方向的截面内激光散射的角分辨强度分布，还可以得到沿光纤长度方向散射分布。本发明还可以通过调节激光偏振方向，获得不同偏振态激光对光纤散射的影响规律。本发明不但适用于单晶光纤，也可用于普通光纤。该装置和方法适用于所有波长的激光，可以为光纤激光散射损耗测量提供实验平台。
-
公开(公告)号：CN105973849B
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201610529562.4
申请日：2016-07-07
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N21/59
Abstract: 一种光学材料损耗的测量装置和测量方法，本发明通过测量仅厚度不同的样品组在同一入射角下的透过率差异来去除表面损耗的影响，从而获得样品的材料损耗。测量时通过消除光束偏移和表面缺陷影响提高测量精度。通过增加样品的组数，提高整体损耗量，同时利用锁相放大技术抑制噪声，提高信噪比，从而进一步提高材料损耗的测量精度。本发明装置和方法具有结构简易、调整方便和精度较高的特点。
-
公开(公告)号：CN119897600A
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202510071242.8
申请日：2025-01-16
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: B23K26/352 , B23K26/402
Abstract: 一种熔石英高精度表面激光双面抛光方法，属于光学元件激光加工技术领域。为了解决熔石英元件在现有激光抛光工艺下产生面形畸变的问题，该方法包括：首先将熔石英元件进行超声清洗并使用压缩空气吹干；通过有限元仿真模拟激光抛光后熔石英形貌分布，优化扫描速度；然后按照优化扫描速度后的工艺参数及加工路径进行目标面的抛光；通过有限元仿真获取激光抛光后熔石英内部温度分布，对不同厚度元件的抛光功率进行优化；再利用优化后的激光功率对目标面的背面进行抛光；激光抛光后再次进行超声清洗及烘干。本发明工艺简单且成本低廉，可显著提升表面面形质量并降低粗糙度，规避了参数交叉实验耗费的时间成本，高效地实现了激光抛光参数的优化。
-
公开(公告)号：CN109540839B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN201811484743.5
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N21/39
Abstract: 一种ITO透明导电膜功能性激光损伤阈值的测量装置及测量方法，包括泵浦连续激光器、探测连续激光器、分束镜、功率计、万用表及计算机，通过在线实时测量ITO透明导电膜的透过率和电阻率的变化来判定ITO透明导电膜在连续激光辐照下的功能性激光损伤阈值。本发明可有效评价ITO透明导电膜的功能性激光损伤阈值，为ITO透明导电膜在连续激光辐照下的应用提供依据。该方法最重要的是在测量之前先对ITO透明导电膜进行带状结构的刻蚀处理，以便于激光辐照处ITO透明导电膜电阻率的准确测量。
-
公开(公告)号：CN113634883A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202110813282.7
申请日：2021-07-19
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: B23K26/12 , B23K26/362 , B23K26/082 , B23K26/064 , B23K26/0622 , G01N21/958
Abstract: 一种利用CO2脉冲激光层析烧蚀表征熔石英玻璃元件亚表面缺陷分布的方法，首先确定脉冲CO2激光烧蚀平台的层析分辨率，之后建立脉宽与烧蚀深度间的关系，然后建立不同层析分辨率下烧蚀层数与烧蚀深度的关系，最后选取所需的层析精度并结合在线CCD成像对亚表面缺陷进行成像表征，获得亚表面缺陷深度及亚表面缺陷随深度的演变规律。本发明具有简单、便捷的特点，可对亚表面缺陷深度、形貌和分布进行直接精确表征，层析分辨率可达
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108872154B
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN201810516822.3
申请日：2018-05-25
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种无包层光纤空间角分辨激光散射损耗的测量装置和方法，装置包括：由连续激光器、光束准直器、调频器、起偏器、相位延迟器、分光片、光纤耦合器、机械夹持装置、圆柱形暗箱、电动位移台、第一光电探测器、第二光电探测器、第一锁相放大器、第二锁相放大器、A/D数据采集卡和计算机。本发明可以测量沿光纤长度方向的截面内激光散射的角分辨强度分布，还可以得到沿光纤长度方向散射分布。本发明还可以通过调节激光偏振方向，获得不同偏振态激光对光纤散射的影响规律。本发明不但适用于单晶光纤，也可用于普通光纤。该装置和方法适用于所有波长的激光，可以为光纤激光散射损耗测量提供实验平台。
-
公开(公告)号：CN108981923B
公开(公告)日：2020-12-04
申请号：CN201810819131.0
申请日：2018-07-24
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 一种在线测量连续激光作用下光学元件表面温升的装置包括：由连续激光器、可供样品放置的样品台、第一固定安装式红外热像仪和第一计算机构成的测量连续激光作用下光学元件表面精确温升装置，由固体表面热电偶、可供样品放置的高温恒温加热台、第二固定安装式红外热像仪和第二计算机构成的标定等效辐射率系数ε′装置；及方法。本发明为连续激光系统中光学元件表面温升的直接测量提供参考，在测量之前先对固定安装式红外热像仪的等效辐射率系数进行标定。
-
公开(公告)号：CN109540839A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201811484743.5
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N21/39
Abstract: 一种ITO透明导电膜功能性激光损伤阈值的测量装置及测量方法，包括泵浦连续激光器、探测连续激光器、分束镜、功率计、万用表及计算机，通过在线实时测量ITO透明导电膜的透过率和电阻率的变化来判定ITO透明导电膜在连续激光辐照下的功能性激光损伤阈值。本发明可有效评价ITO透明导电膜的功能性激光损伤阈值，为ITO透明导电膜在连续激光辐照下的应用提供依据。该方法最重要的是在测量之前先对ITO透明导电膜进行带状结构的刻蚀处理，以便于激光辐照处ITO透明导电膜电阻率的准确测量。
-
公开(公告)号：CN107192670A
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：CN201710305726.X
申请日：2017-05-03
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种材料线性吸收和非线性吸收的测量装置和测量方法，该方法通过采用灵敏度高，对散射光不敏感的光热技术，使用短脉冲高重复频率激光辐照样品，利用锁相放大器测量多脉冲累积作用下样品的线性吸收，利用Boxcar积分器测量单个脉冲下样品的非线性吸收，从而实现线性吸收和非线性吸收的同时测量，为研究材料的吸收特性提供了新的方法和手段。本发明具有对散射光不敏感，效率高的特点。
-
公开(公告)号：CN106248585A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610562930.5
申请日：2016-07-18
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/171 , G01N2021/1712
Abstract: 光学材料三维光热吸收的测量装置及方法，该装置采用横向式构型,使用热透镜技术对材料进行三维光热吸收测量，避免光热偏转技术测量时光斑打在探测器边沿甚至探测器外面带来的误差，为材料特性及损伤研究等提供了有利工具，该方法通过光热偏转技术，间接地使用电阻加热定标为热透镜吸收测量进行定标，避免了在热透镜吸收测量中非同种样品定标时材料间差异带来的误差，同时，在求取系统与材料参数乘积时，所测热透镜信号点与已知吸收率点是同一点，减小了误差。本发明装置简单，调节方便，灵敏度高。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
20
records
(took 0.039 seconds)
