基于高电子迁移率晶体管的双锁存D触发器

    公开(公告)号:CN115529025A

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202211160512.5

    申请日:2022-09-22

    Abstract: 本申请适用于半导体及微电子技术领域,提供了基于高电子迁移率晶体管的双锁存D触发器,包括:输入单元、输出单元、第一时钟信号单元、第二时钟信号单元、第一有源电阻单元、第二有源电阻单元、第三有源电阻单元和第四有源电阻单元;当第一时钟信号单元接收到的第一时钟信号处于上升沿,第二时钟信号单元接收到的第二时钟信号处于下降沿时,输入单元中的数据被触发器锁存,通过输出单元输出。本申请基于高电子迁移率晶体管的双锁存D触发器在寿命和可靠性的显著提升的同时,可显著降低质量问题出现的概率,有效降低因质量问题产生的成本。

    一种基于GaN HEMT器件的宽带数字衰减器

    公开(公告)号:CN112688665B

    公开(公告)日:2022-11-29

    申请号:CN202011363540.8

    申请日:2020-11-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于GaN HEMT器件的宽带数字衰减器,属于微波单片集成电路及微电子技术领域,一种基于GaN HEMT器件的宽带数字衰减器,包括顺序级联的16dB衰减单元、8dB衰减单元、2dB衰减单元、1dB衰减单元、0.5dB衰减单元和4dB衰减单元,0.5dB衰减单元、1dB衰减单元和2dB衰减单元均为T型拓扑结构,4dB衰减单元为π型拓扑结构,16dB衰减单元为开关型拓扑结构,8dB衰减单元为优化π型拓扑结构。本发明通过将六个衰减单元级联构成方便使用的宽带数字衰减器,使得衰减器的衰减精度提高、插损减小。

    一种基于GaN HEMT器件的宽带数字衰减器

    公开(公告)号:CN112688665A

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202011363540.8

    申请日:2020-11-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于GaN HEMT器件的宽带数字衰减器,属于微波单片集成电路及微电子技术领域,一种基于GaN HEMT器件的宽带数字衰减器,包括顺序级联的16dB衰减单元、8dB衰减单元、2dB衰减单元、1dB衰减单元、0.5dB衰减单元和4dB衰减单元,0.5dB衰减单元、1dB衰减单元和2dB衰减单元均为T型拓扑结构,4dB衰减单元为π型拓扑结构,16dB衰减单元为开关型拓扑结构,8dB衰减单元为优化π型拓扑结构。本发明通过将六个衰减单元级联构成方便使用的宽带数字衰减器,使得衰减器的衰减精度提高、插损减小。

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