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公开(公告)号：CN108896181B
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN201810470137.1
申请日：2018-05-16
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及光谱成像技术领域，更具体而言，涉及一种基于弹光调制器和声光的光谱偏振成像装置，该装置无需旋转PEM、且只需单个快轴可调PEM就可实现偏振测量，系统无机械运动部件、光能利用率高；采用单个快轴可调PEM偏振调制加AOTF光谱的方法，实现高光谱偏振成像测量；通过快轴可调PEM的相位延迟幅值和快轴方向实时检测及修正的方法，快轴可调PEM实时偏振调制的检测和修正，提高偏振测量精度和系统的长效稳定性。本发明无需选择任何部件、纯电控制、采用单个PEM偏振调制实现高光谱偏振成像探测；设计快轴可调PEM偏振调制实时检测及修正的方法，提高系统偏振测量精度。
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公开(公告)号：CN108896181A
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201810470137.1
申请日：2018-05-16
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及光谱成像技术领域，更具体而言，涉及一种基于弹光调制器和声光的光谱偏振成像装置，该装置无需旋转PEM、且只需单个快轴可调PEM就可实现偏振测量，系统无机械运动部件、光能利用率高；采用单个快轴可调PEM偏振调制加AOTF光谱的方法，实现高光谱偏振成像测量；通过快轴可调PEM的相位延迟幅值和快轴方向实时检测及修正的方法，快轴可调PEM实时偏振调制的检测和修正，提高偏振测量精度和系统的长效稳定性。本发明无需选择任何部件、纯电控制、采用单个PEM偏振调制实现高光谱偏振成像探测；设计快轴可调PEM偏振调制实时检测及修正的方法，提高系统偏振测量精度。
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公开(公告)号：CN108871568A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810830333.5
申请日：2018-07-25
Applicant: 中北大学
IPC: G01J1/42
Abstract: 本发明属于二维激光告警技术领域，具体涉及基于红外观测卡和可见CCD的红外激光告警装置及方法，该装置依次设置的闪耀光栅、前置红外镜头、红外观测卡、可见光成像镜头和可见光面阵CCD，被测激光通过闪耀光栅衍射，经前置红外镜头将衍射光斑汇聚在红外观测卡上，并将红外光斑转为可见光斑，被后置可见光成像镜头成像在可见光面阵CCD上。该方法将红外观测卡和可见CCD像结合，采用二次成像方式实现红外激光方位角、俯仰角和波长的探测。可有效解决红外探测器分辨率低、热噪声严重、成本贵等问题。结合0级和1级光斑位置实现被测红外激光的方位角、俯仰角和波长的探测，可减小红外探测器热噪声的影响及降低系统成本。
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公开(公告)号：CN108680107A
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201810469078.6
申请日：2018-05-16
Applicant: 中北大学
CPC classification number: G01B11/02 , G01B9/02062
Abstract: 本发明涉及高精度位移测量技术领域，更具体而言，涉及一种基于数字锁相的高精度棱镜位移测量方法，该装置无需波片，且在参考反射镜处添加压电陶瓷驱动器，使其进行正弦调制，通过锁相放大一倍和二倍频信号，实现位移的高精度和高灵敏度测量，消除了背景噪声及激光强度波动对测量的影响；该方法无需知道零光程差点、无需插值，只需采集时间长度的PEM调制干涉信号即可，与采样的起始点和结束点无关。通过锁相放大技术提高了位移测量精度；通过锁相一倍频信号和二倍频信号幅值，并进行相除可消除激光光强波动导致位移测量精度下降问题；位移形式为反正切，可保证相同的线性灵敏度，消除传统正余弦某些位置灵敏度低的问题。
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公开(公告)号：CN108593109A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201810469611.9
申请日：2018-05-16
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及光谱测量领域领域，具体涉及一种基于PEM的高速全偏振光谱测量装置及方法，该装置通过在PEM前加两个相位延迟器，再通过PEM调制获得干涉信号，该方法使得目标光Stokes参量中不同元素的干涉信号在PEM调制光程差的不同位置，实现Stokes参量各元素干涉信号的分离，实现超高速全偏振光谱测量；该方法采用PEM实现超高速的干涉信号调制，实现Stokes参量I、Q、U、V四元素光谱的高速测量，使得目标光Stokes参量中不同元素的干涉信号在PEM调制光程差的不同位置；采用PEM高速调制的特点结合光谱强度调制，实现被测光Stokes参量I、Q、U、V四元素谱的高速全偏振测量；完成一次干涉信号测量所需时间优于5μs，如果进一步提高PEM的调制频率，测量时间还可以进一步加快。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107153277A
公开(公告)日：2017-09-12
申请号：CN201710572178.7
申请日：2017-07-13
Applicant: 中北大学
CPC classification number: G02B27/48 , G03B21/2033 , G03B21/208
Abstract: 本发明属于激光显示技术领域，具体涉及一种基于波长多样性的激光消散斑装置。本发明激光消斑装置包括散射片、单面镜、方形匀光管、增透玻璃，方形匀光管的入射端面设有单面镜，方形匀光管的出射端面设有增透玻璃，激光器产生的激光光束通过散射片发散，散射片产生的散射光经过单面镜直接耦合到方形匀光管中，其中方形匀光管内设有激光增益介质和微/纳米散射体。本发明根据激光投影系统的特性设计了激光散斑抑制方案，既能得到较好的整形匀场，又能有效抑制激光散斑，并提高光能利用率，体积小、结构简单、成本低、系统的一致性和稳定性高。
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公开(公告)号：CN104924194B
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201510307498.0
申请日：2015-06-08
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及机械研磨减薄技术领域，更具体而言，涉及一种用于铌酸锂、石英、蓝宝石等晶体的化学机械研磨减薄的装置及其使用方法；提供一种晶体的化学机械研磨减薄的装置及激光反射校准法，实现对晶体的上下两个面的平行度的高精度校准，减薄后晶体超薄，厚度能达到几十甚至十几个微米，平行度误差1微米以内，校准精度高、易操作；包括：第一固定片、微分头、载物块、修盘环、胶皮垫、第二固定片、加工晶体、有孔校准玻璃和第三固定片，所述微分头通过自身的螺纹与第一固定片固定，所述有孔校准玻璃通过第三固定片与修盘环固定；本发明主要应用于光电探测器敏感层制作、声光器件压电换能器制作等超精密晶体加工相关方面。
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公开(公告)号：CN117553690A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311655464.1
申请日：2023-12-05
Applicant: 中北大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明属于位移测量技术领域，具体涉及一种基于谐振式调制的位移测量精度提高方法及系统，包括下列步骤：计算光源经过整个系统到达光电探测器去掉直流信号的调制电信号，按第一类Bessel函数展开；谐振式位移振动器调制频率为参考信号，计算锁相放大一倍频、二倍频、三倍频、四倍频信号幅值；计算电位移驱动器的位移幅值，从而计算被测位移被测位移。本发明通过锁相一倍频信号幅值、二倍频信号幅值、三倍频信号幅值和四倍频信号幅值，可消除激光光强波动影响及谐振式位移振动器调制幅值不稳定导致位移测量精度下降问题。并且本发明消除光源光强波动、谐振式位移振动器的位移幅值不稳定、各类噪声等对位移测量精度下降问题，提高位移测量精度。
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公开(公告)号：CN110082928A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910359541.6
申请日：2019-04-30
Applicant: 中北大学
IPC: G02B27/48
Abstract: 本发明涉及激光显示技术领域，更具体而言，涉及一种基于偏振多样性与角度多样性结合的激光消散斑装置，沿光路依次设置激光器、准直透镜、合束镜、基于偏振多样性的静态消散斑装置、基于角度多样性的静态消散斑装置、散射片、光通管、中继透镜、数字微镜器件、投影透镜组和观测屏。在光源部分加入相应波片，无需对激光显示系统做任何改变，就可通过非运动方式实现多种散斑抑制技术结合的激光散斑减少。根据激光投影系统的特性设计了激光散斑抑制方案，既不影响投影系统的整体结构，又能抑制激光散斑，结构简单、成本低、系统的一致性和稳定性高。
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公开(公告)号：CN109029273A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201811240791.X
申请日：2018-10-24
Applicant: 中北大学
CPC classification number: G01B11/02 , G01B9/02055
Abstract: 本发明涉及位移测量技术领域，更具体而言，涉及一种基于环形器的纳米光栅0级检测位移的测量方法，通过纳米光栅直接反射后的0级衍射光与经过反射镜后反射回的0级衍射光干涉信号来测量，实现入射光与检测光共光路；采用探测0级衍射光的方法，提高光能利用率和光电探测灵敏度；并且结合光纤环形器实现入射光与检测光共光路的方法，实现方便，请可有效消除杂散光的影响；结合在光栅处添加压电陶瓷驱动器，使其进行正弦调制，通过锁相放大一倍和二倍频信号，实现位移的高精度和高灵敏度测量，消除了背景噪声及激光强度波动对测量的影响，通过锁相一倍频信号和二倍频信号幅值，并进行相除可消除激光光强波动导致位移测量精度下降问题。
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