光学测量装置
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101223433B

    公开(公告)日:2012-01-25

    申请号:CN200680026334.X

    申请日:2006-01-17

    CPC classification number: G01N15/0211 G01N21/4788 G01N2021/1721

    Abstract: 通过在设置在容器(1)内的电极对(2)上施加电压,在存储样品的容器(1)中产生规则分布的电场分布,因此产生由容器(1)内的样品中粒子的密度调节形成的衍射光栅,基于通过在通过粒子的密度调节形成的衍射光栅上照射光束而获得的衍射光束的强度的消灭过程的时间变化,获得粒子的扩散信息,构成电极对2的电极(21、22)被构成具有多个彼此平行的线性电极齿(21a、22a),电极(21、22)被布置成一个电极(21)的电极齿(21a)插在另一个电极齿(22a)之间,因此增加了通过粒子的密度调节形成的衍射光栅的宽度,并且包括在整个衍射光束中的衍射光栅的衍射光束的部分的比率增加,以便增加测量的敏感度。结果,设置了光学测量装置,其能够以高敏感度和优良的S/N比率来测量可移动地散布在介质中的粒子的扩散信息。

    光学测量装置
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101223433A

    公开(公告)日:2008-07-16

    申请号:CN200680026334.X

    申请日:2006-01-17

    CPC classification number: G01N15/0211 G01N21/4788 G01N2021/1721

    Abstract: 通过在设置在容器(1)内的电极对(2)上施加电压,在存储样品的容器(1)中产生规则分布的电场分布,因此产生由容器(1)内的样品中粒子的密度调节形成的衍射光栅,基于通过在通过粒子的密度调节形成的衍射光栅上照射光束而获得的衍射光束的强度的消灭过程的时间变化,获得粒子的扩散信息,构成电极对2的电极(21、22)被构成具有多个彼此平行的线性电极齿(21a、22a),电极(21、22)被布置成一个电极(21)的电极齿(21a)插在另一个电极齿(22a)之间,因此增加了通过粒子的密度调节形成的衍射光栅的宽度,并且包括在整个衍射光束中的衍射光栅的衍射光束的部分的比率增加,以便增加测量的敏感度。结果,设置了光学测量装置,其能够以高敏感度和优良的S/N比率来测量可移动地散布在介质中的粒子的扩散信息。

    X射线摄影装置和X射线摄影方法
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118510449A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202280087659.8

    申请日:2022-01-05

    Abstract: 本X射线摄影装置(100)具备摄影控制部(6),在获取多个投影图像数据(50)时,所述摄影控制部(6)按每个摄影角度(40)进行以下控制:控制X射线源(1)使得通过从多个电子放出部(12)中的被选择的一部分电子放出部进行X射线照射,并且在进行X射线照射时选择与在前一次的X射线照射中使用的第一电子放出部(41)不同的第二电子放出部(42)。

    放射线摄影装置
    14.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109328035B

    公开(公告)日:2022-05-10

    申请号:CN201780037450.X

    申请日:2017-03-15

    Abstract: 提供一种即使不事先进行无被摄体的摄影也能够进行准确的成像的放射线摄影装置。根据本发明,能够提供一种即使不事先进行无被摄体的摄影也能够进行准确的成像的放射线摄影装置。即,本发明的装置设置有相位光栅(5),该相位光栅(5)设置有被摄体用区域和参照区域。虽然在任一个区域中均设置有用于吸收放射线的规定图案,但其图案不同。在该区域观察到长周期的莫尔纹状的相位光栅(5)的像。该长周期的莫尔纹状的像的位置由于相位光栅(5)与吸收光栅(6)的相对位置的细微变化而改变,因此能够从参照区域的图像检测放射线源、相位光栅(5)以及吸收光栅(6)的相对位置的细微变化。

    X射线成像装置
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112189134A

    公开(公告)日:2021-01-05

    申请号:CN201980032436.X

    申请日:2019-01-22

    Abstract: 本X射线成像装置(100)具备摄像系统(CS)、移动机构(8)、位置信息获取部(7a)、以及图像处理部(6),其中,所述摄像系统(CS)包括X射线源(1)、检测器(5)以及多个光栅,所述图像处理部(6)基于多个X射线图像(10)和获取到的断层位置(z+jd)来获取断层面(40)中的相位分布,由此生成断层面的相位对比度图像(16)。

    X射线摄影装置
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111343921A

    公开(公告)日:2020-06-26

    申请号:CN201880073065.5

    申请日:2018-11-08

    Abstract: 本发明的X射线摄影装置(100)构成为,图像处理部(50a)基于在相对于被摄物(T)的多个相对位置而在第一检测区域(R1)中获取的多个第一图像(71a)来生成相位对比度图像(71),并且基于在相对于被摄物的多个相对位置而在第二检测区域(R2)中获取的多个第二图像(72a)来生成吸收像(72)。

    X射线成像装置
    20.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112189134B

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN201980032436.X

    申请日:2019-01-22

    Abstract: 本X射线成像装置(100)具备摄像系统(CS)、移动机构(8)、位置信息获取部(7a)、以及图像处理部(6),其中,所述摄像系统(CS)包括X射线源(1)、检测器(5)以及多个光栅,所述图像处理部(6)基于多个X射线图像(10)和获取到的断层位置(z+jd)来获取断层面(40)中的相位分布,由此生成断层面的相位对比度图像(16)。

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